【摘要】電子背散射衍射ElectronBackscatterDiffraction(EBSD)掃描電鏡的一個主要附件,可以進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析對材料進(jìn)行微觀分析,要看其形態(tài)如何,晶粒大小、析出相、是等軸的還是條狀的,等等,可以用光學(xué)顯微鏡、SEM、TEM等來觀察;要研究其微區(qū)成分,可用SEM+EDS,用EPMA,用
2024-12-16 23:44
【摘要】在18900倍下對PVC糊樹脂近行觀測應(yīng)用實(shí)例在26000倍下觀測碳酸鈣粉末掃描電鏡ScanningElectronMicroanalyzer掃描電鏡(SEM)SEM的基本原理★焦深大,圖像富有立體感,特別適合于表面形貌的研究★放大倍數(shù)范圍廣,從十幾倍到2萬倍,幾乎覆蓋
2025-05-21 18:43
【摘要】附:掃描電子顯微分析方法及其工程應(yīng)用掃描電子顯微圖象分析(SEM,黃銅管金相樣品二次電子象)微區(qū)成分能譜分析(EDS-銅基體)微區(qū)成分能譜分析(EDS-銅合金管表面的點(diǎn)腐蝕)AlKPk●EDS,Al-Si合金中的Alk的線分布和面分布掃描電鏡成象原理和方法滴狀作用體積
2025-01-08 05:38
【摘要】電子衍射分析金蒸發(fā)膜的多晶衍射花樣Ni基高溫合金中M23C6碳化物的單晶衍射花樣Bragg定律:2dsin?=?電子衍射的衍射角很小,??1?電子衍射的相機(jī)常數(shù)R=Ltg2?,由于??1?,tg2??2sin?,由Bragg定律,可得:Rd=
2025-01-28 11:34
【摘要】?材料的固有性質(zhì)、材料的結(jié)構(gòu)與成分、材料的使用性能和材料的合成與加工構(gòu)成材料研究的四大要素。?任何一種材料的宏觀性能或行為,都是由其微觀組織結(jié)構(gòu)所決定的。第二章電子顯微分析緒論?現(xiàn)代材料科學(xué)的發(fā)展在很大程度上依賴于對材料性能和成分結(jié)構(gòu)及微觀組織關(guān)系的理解;對材料在微觀層次上的表征技術(shù),構(gòu)成了材料科學(xué)的一個重要組成部分
2025-03-31 05:59
【摘要】第十四章其他顯微分析方法【教學(xué)內(nèi)容】【重點(diǎn)掌握內(nèi)容】【教學(xué)難點(diǎn)】一.離子探針顯微分析
2025-05-15 06:31
【摘要】第7章其他顯微分析技術(shù)離子探針分析儀(IMA)(二次離子質(zhì)譜儀(SIMS))俄歇電子能譜儀(AES)X射線光電子譜儀(XPS)掃描隧道顯微鏡(STM)原子力顯微鏡(AFM)場離子顯微鏡(FIM)原子探針(AP)離子探針顯微分析?離子探針儀是利用電子光學(xué)方法把惰性氣體等初級離子加速并聚焦成細(xì)
2025-01-26 16:21
【摘要】第五章電子探針顯微分析2電子探針顯微分析電子探針(ElectronProbeMicroanalysis-EPMA)的主要功能是進(jìn)行微區(qū)成分分析。它是在電子光學(xué)和X射線光譜學(xué)原理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的一種高效率分析儀器。其原理是:用細(xì)聚焦電子束入射樣品表面,激發(fā)出樣品元素的特征X射線,分析特征X射線的波長(或能量)可知元素種類;分析特征
2025-05-09 01:47
【摘要】1第十四章其它顯微分析方法簡介?本章簡要介紹幾種表面分析儀器和技術(shù):(1)離子探針分析儀(IMA)或二次離子質(zhì)譜儀(SIMS);(2)低能電子衍射(LEED);(3)俄歇電子能譜儀(AES);(4)場離子顯微鏡(FIM)和原子探針(AtomProbe);(5)X射線光電子能譜儀(XPS);
2025-05-15 06:37
【摘要】第七章電子顯微分析樣品入射電子Auger電子陰極發(fā)光背散射電子二次電子X射線透射電子1.透射電鏡的構(gòu)造2.透射電鏡的主要性能指標(biāo)3.透射電鏡的襯度形成原理4.透射電鏡研究用高分子樣品制備方法3.透射電鏡在高分子研究中的應(yīng)用Part1透
2025-05-21 12:34
【摘要】??????????第第8章章掃描電子顯微分析掃描電子顯微分析掃描電鏡的工作原理、和性能構(gòu)造?1:SEM的主要結(jié)構(gòu)包括電子光學(xué)系統(tǒng)、信號的收集和圖像顯示系統(tǒng)、真空系統(tǒng)三部分。?2:掃描電鏡重要指標(biāo)是分辨率,是由特定樣品在特定工作狀
2025-01-24 04:31
【摘要】第11章電子探針顯微分析儀(X射線顯微分析儀)(EPMA)X射線顯微分析儀?1.引言?此章的目的是講述電子探針顯微分析儀器(EPMA,EMA)的工作原理及應(yīng)用。EMA與掃描電鏡(SEM)有很密切的關(guān)系,然而,就當(dāng)初研制的目的來說卻是完全不同的。第一臺商品EMA出現(xiàn)在50年代后期,比掃描電鏡子5年。Raymond
2025-05-21 18:58
【摘要】第十三章電子探針顯微分析【教學(xué)內(nèi)容】【重點(diǎn)掌握內(nèi)容】電子探針儀的分析方法與應(yīng)用【教學(xué)難點(diǎn)】定量分析的基本原理?電子探針X射線顯微分析(簡稱電子探針顯微分析)(ElectronProbeMicro
2025-05-10 18:10
【摘要】?電子顯微鏡中的電子光學(xué)問題?透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)?電子衍射?金屬薄膜成像?復(fù)型?掃描電子顯微分析第二篇電子顯微分析術(shù)電子顯微鏡中的電子光學(xué)問題光學(xué)顯微鏡的局限性電子性質(zhì)電子透鏡的像差成像透鏡及性質(zhì)?分辨本領(lǐng):?指光學(xué)儀器所能區(qū)分的兩
2025-01-24 07:00