同濟(jì)大學(xué)材料研究方法材料研究方法課后習(xí)題答案-展示頁(yè)
2025-07-01 14:05本頁(yè)面
【正文】 答：透射電鏡中，電子束穿透樣品成像，而電子束的透射本領(lǐng)不大，這就要求將試樣制成很薄的薄膜樣品。7)峰背比小，一般為100，而波譜儀為1000。5)能進(jìn)行低倍X射線掃描成象，得到大視域的元素分布圖。3)能譜儀不受聚焦圓的限制，樣品的位置可起伏2～3mm。能譜儀在低束流下(1010～1012A)工作，仍能達(dá)到適當(dāng)?shù)挠?jì)數(shù)率，束斑尺寸小，而波譜儀大于1μm3。而波譜儀僅幾十到幾百脈沖/s優(yōu)點(diǎn)：樣品制備非常方便，直接觀察大塊試樣 ；景深大；放大倍數(shù)連續(xù)調(diào)節(jié)范圍大；分辨本領(lǐng)比較高； 電子探針X射線顯微分析儀有哪些工作模式，能譜儀和譜儀的特點(diǎn)是什么？答：電子探針X射線顯微分析儀的工作模式有：點(diǎn)線面三種能譜儀的特點(diǎn)：1)所用的Si(Li)探測(cè)器尺寸小，可裝在靠近樣品的區(qū)域：接收X射線的立體角大，X射線利用率高，可達(dá)10000脈沖/s這樣，在長(zhǎng)余輝熒光屏上就形成一幅與樣品表面特征相對(duì)應(yīng)的畫(huà)面——某種信息圖，如二次電子像、背散射電子像等。由于供給電子光學(xué)系統(tǒng)使電子束偏向的掃描線圈的電源也就是供給陰極射線顯像管的掃描線圈的電源，此電源發(fā)出的鋸齒波信號(hào)同時(shí)控制兩束電子束作同步掃描。這些物理信號(hào)的強(qiáng)度隨樣品表面特征而變。 所以選擇小孔徑成像。在試樣上相應(yīng)的兩個(gè)物點(diǎn)間距為：Δrs=Rs/M=Csα3 （高斯平面） ， Δr’s=1/4 Csα3 （最小截面圓所在平面）式中，Cs為電磁透鏡的球差系數(shù)，α為電磁透鏡的孔徑半角。球差范圍內(nèi)距高斯像平面3/4ΔZs處的散射圓斑的半徑最小，只有Rs/4。一般是在物鏡的背焦平面上放一稱(chēng)為物鏡光闌的小孔徑的光闌來(lái)達(dá)到這個(gè)目的。透射電子顯微鏡的成像原理是什么，為什么必須小孔徑成像？答：成像原理：質(zhì)厚和衍射襯度。因此，要顯著地提高顯微鏡的分辨本領(lǐng)，必須使用波長(zhǎng)比可見(jiàn)光短得多的照明源。)， N即使采用油浸透鏡(n=；α一般為70176。在物方介質(zhì)為空氣的情況下，Nsinα或Nsinα= 第3章如何提高顯微鏡分辨本領(lǐng)，電子透鏡的分辨本領(lǐng)受哪些條件的限制？答：分辨本領(lǐng)：指顯微鏡能分辨的樣品上兩點(diǎn)間的最小距離；以物鏡的分辨本領(lǐng)來(lái)定義顯微鏡的分辨本領(lǐng)。 X射線衍射試驗(yàn)主要有那些方法, 他們各有哪些應(yīng)用，方法及研究對(duì)象.答：實(shí)驗(yàn)方法所用輻射 樣品 照相法衍射儀法粉末法勞厄法轉(zhuǎn)晶法單色輻射連續(xù)輻射單色輻射多晶或晶體粉末單晶體單晶體樣品轉(zhuǎn)動(dòng)或固定樣品固定樣品轉(zhuǎn)動(dòng)或固定德拜照相機(jī)勞厄相機(jī)轉(zhuǎn)晶回?cái)[照相機(jī)粉末衍射儀單晶或粉末衍射儀 單晶衍射儀最基本的衍射實(shí)驗(yàn)方法有：粉末法，勞厄法和轉(zhuǎn)晶法三種。研究方法的重要性不言而喻。作為三大支柱產(chǎn)業(yè)之一的材料是科技創(chuàng)新的重要標(biāo)志，也是現(xiàn)在科學(xué)技術(shù)和社會(huì)發(fā)展的支柱。材料研究的主要任務(wù)和對(duì)象是什么，有哪些相應(yīng)的研究方法？答：任務(wù)：材料研究應(yīng)著重于探索制備過(guò)程前后和使用過(guò)程中的物質(zhì)變化規(guī)律，也就是在此基礎(chǔ)上探明材料的組成(結(jié)構(gòu))、合成(工藝過(guò)程)、性能和效能及其之間的相互關(guān)系，或者說(shuō)找出經(jīng)一定工藝流程獲得的材料的組成(結(jié)構(gòu))對(duì)于材料性能與用途的影響規(guī)律，以達(dá)到對(duì)材料優(yōu)化設(shè)計(jì)的目的，從而將經(jīng)驗(yàn)性工藝逐步納入材料科學(xué)與工程的軌道. 研究對(duì)象和相應(yīng)方法見(jiàn)書(shū)第三頁(yè)表格?！恫牧涎芯糠椒ā氛n后習(xí)題答案第1章材料是如何分類(lèi)的？材料的結(jié)構(gòu)層次有哪些？答：材料按化學(xué)組成和結(jié)構(gòu)分為：金屬材料、無(wú)機(jī)非金屬材料、高分子材料、復(fù)合材料；按性能特征分為：結(jié)構(gòu)材料、功能材料；按用途分為：建筑材料、航空材料、電子材料、半導(dǎo)體材料、生物材料、醫(yī)用材料。材料的結(jié)構(gòu)層次有：微觀結(jié)構(gòu)、亞微觀結(jié)構(gòu)、顯微結(jié)構(gòu)、宏觀結(jié)構(gòu)。材料研究方法是如何分類(lèi)的？如何理解現(xiàn)代研究方法的重要性？答：按研究?jī)x器測(cè)試的信息形式分為圖像分析法和非圖像分析法；按工作原理，前者為顯微術(shù)，后者為衍射法和成分譜分析。研究材料必須以正確的研究方法為前提。第2章 簡(jiǎn)述現(xiàn)代材料研究的主X射線實(shí)驗(yàn)方法在材料研究中有那些主要應(yīng)用？答：現(xiàn)代材料研究的主X射線實(shí)驗(yàn)方法在材料研究中主要有以下幾種應(yīng)用：（1）X射線物相定性分析：用于確定物質(zhì)中的物相組成 （2）X射線物相定量分析：用于測(cè)定某物相在物質(zhì)中的含量（3）X射線晶體結(jié)構(gòu)分析：用于推斷測(cè)定晶體的結(jié)構(gòu)試推導(dǎo)Bragg方程, 并對(duì)方程中的主要參數(shù)的范圍確定進(jìn)行討論.答：
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