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火花源原子發(fā)射光譜分析技術(shù)教材-展示頁

2025-06-30 19:26本頁面
  

【正文】 可以沒有準(zhǔn)確的化學(xué)含量,均勻度好。l (2)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)(RM) :有準(zhǔn)確的化學(xué)含量,均勻度好?;脽羝?9 標(biāo) 準(zhǔn) 樣 品l (1)有證參考物質(zhì)(CRM):有準(zhǔn)確的化學(xué)含量,均勻度好?;脽羝?6(1)兩點標(biāo)準(zhǔn)化l 兩點標(biāo)準(zhǔn)化是選取兩個含量分別在校準(zhǔn)曲線上限和下限附近的標(biāo)準(zhǔn)樣品,分別激發(fā)求出其光強Ru、Rl,則有:l 兩式相減 l 式中Ru0、Rl0分別為原持久曲線上限和下限附近含量所對應(yīng)的光強值,α、β為曲線的飄移系數(shù),α表示曲線斜率的變化,β表示曲線的平移量。對自制的控制樣品,在決定標(biāo)準(zhǔn)值時,應(yīng)注意標(biāo)準(zhǔn)定值誤差等;在冶煉控制樣品時,應(yīng)適當(dāng)規(guī)定各元素含量,使各樣品的基體成分大致相等 幻燈片45 標(biāo) 準(zhǔn) 化l 由于溫度、濕度、氬氣壓力、振動等變化,會使譜線產(chǎn)生位移、透鏡污染、電極沾污、電源波動等均會使校準(zhǔn)曲線發(fā)生平移或移動 。市售的控制樣品有時會受到因與分析樣品的冶煉過程和分析方法不同的影響?;脽羝?5 干擾的種類l 譜線重疊干擾l 連續(xù)背景干擾l 投射到檢測器上的雜散光的干擾l幻燈片36 定量分析方法 Error! Reference source not found.幻燈片38 定量分析方法的應(yīng)用 l A 持久曲線法l B 標(biāo)準(zhǔn)試樣法l C 控制試樣法l幻燈片39A 持久曲線法 l 預(yù)先用標(biāo)準(zhǔn)試樣法制作持久校準(zhǔn)曲線,每次分析時僅激發(fā)分析試樣,從持久曲線上求含量l 在實際分析過程中,只需用標(biāo)準(zhǔn)化樣品對校準(zhǔn)曲線的漂移進行修正即可幻燈片40B 標(biāo)準(zhǔn)試樣法 l 分析前用標(biāo)準(zhǔn)試樣法制作一新的校準(zhǔn)曲線,然后激發(fā)分析試樣,從曲線上求含量 幻燈片41C 控制試樣法 l 在實際工作中,由于分析試樣和標(biāo)樣的冶金過程和某些物理狀態(tài)的差異,常使校準(zhǔn)曲線發(fā)生變化,為避免試樣冶金狀態(tài)變化給分析帶來的影響,常用一個與分析試樣的冶金過程和物理狀態(tài)相一致的控制試樣,用于控制分析試樣的分析結(jié)果 幻燈片42 概 念l 分析基體:一般情況下,火花光譜中指所分析樣品的材質(zhì) l 分析程序:由于火花直讀光譜采用持久曲線法進行分析,因此分析不同的樣品必須要選擇與樣品材質(zhì)相對應(yīng)的程序 l 校準(zhǔn)曲線:用若干個標(biāo)準(zhǔn)樣品系列標(biāo)繪出來的強度(強度比)和含量的曲線 幻燈片43 概 念l 標(biāo)準(zhǔn)樣品:為繪制校準(zhǔn)曲線用的,其化學(xué)性質(zhì)和物理性質(zhì)應(yīng)與分析樣品相近似,應(yīng)包括分析元素含量范圍,并保持適當(dāng)?shù)拈g隔,分析元素的含量系用準(zhǔn)確可靠的方法定值 l 標(biāo)準(zhǔn)化樣品:為修正由于儀器隨時間變化而引起的測量值對校準(zhǔn)曲線的偏離而用的,必須均勻并能得到穩(wěn)定的譜線強度比?;脽羝?3 譜線的自吸與自蝕l 自吸:中心發(fā)射的輻射被邊緣的同種基態(tài)原子吸收,使輻射強度降低的現(xiàn)象l 元素濃度低時,不出現(xiàn)自吸。這種按分析線強度比進行光譜定量分析的方法稱內(nèi)標(biāo)法;所選用的分析線與內(nèi)標(biāo)線的組合叫做分析線對。幻燈片28 內(nèi)標(biāo)法和分析線對l 由于試樣的蒸發(fā)、激發(fā)條件以及試樣組成的任何變化,均會直接影響譜線強度,這種變化往往很難避免,所以在實際光譜分析時,常選用一條比較譜線,用分析線與比較線強度比進行光譜定量分析,以抵償這些難以控制的變化因素的影響,所采用的比較線稱內(nèi)標(biāo)線,提供這種比較線的元素稱為內(nèi)標(biāo)元素。電子的躍遷也是不連續(xù)的這就是原子光譜是線狀光譜的根本原因幻燈片24 分析線和參比線l 分析線:一般是指從第一激發(fā)態(tài)狀態(tài)下躍遷到基態(tài)時,所發(fā)射的譜線,亦稱共振線l 參比線(內(nèi)標(biāo)線):由于試樣的蒸發(fā)、激發(fā)條件以及試樣組成等的變化,會直接影響譜線強度,所以常選用一條比較譜線,用分析線與比較線的強度比進行光譜定量分析,所采用的比較線稱參比線或內(nèi)標(biāo)線幻燈片25 原子發(fā)射光譜定性分析Error! Reference source not found.Error! Reference source not found.Error! Reference source not found.幻燈片27在條件一定時,譜線強度I 與待測元素含量c關(guān)系為: I = a c a為常數(shù)(與蒸發(fā)、激發(fā)過程等有關(guān)),考慮到發(fā)射光譜中存在著自吸現(xiàn)象,需要引入自吸常數(shù) b ,則: 發(fā)射光譜分析的基本關(guān)系式,稱為塞伯羅馬金公式(經(jīng)驗式)。由于原子的能級很多,原子在被激發(fā)后,其外層電子可有不同的躍遷,但這些躍遷應(yīng)遵循一定的規(guī)則,因此對特定元素的原子可產(chǎn)生一系列不同波長的特征光譜線l 這些譜線按一定的順序排列,并保持一定的強度比例。 幻燈片22 原子發(fā)射光譜分析l 元素在受到熱或電激發(fā)時,由基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài),返回到基態(tài)時,發(fā)射出特征光譜,依據(jù)特征光譜進行定性、定量的分析方法。這是電子的穩(wěn)定狀態(tài) 。s1。產(chǎn)生的輻射經(jīng)過光柵進行色散分光后,用檢測器采集按波長順序排列的譜線的強度,經(jīng)計算機處理得到不同元素的含量 幻燈片16Error! Reference source not found.幻燈片17 原子發(fā)射光譜的產(chǎn)生l 熱能、電能Error! Reference source not 能量輻射公式l 式中EE1分別為高能級、低能級的能量,通常以電子伏特為單位;l h為普朗克常數(shù)(1034J Error! Reference source not found.Error! Reference source not found.幻燈片15 原子發(fā)射光譜分析過程 l 使試樣在外界能量的作用下轉(zhuǎn)變成氣態(tài)原子,并使氣態(tài)原子的外層電子激發(fā)至高能態(tài)。按獲得方式:發(fā)射光譜法、吸收光譜法、拉曼光譜法;按本質(zhì)特性:分子光譜(紅外吸收、紫外可見吸收、分子熒光和磷光)、原子光譜(原子發(fā)射、原子吸收、原子熒光、X射線熒光)幻燈片9l 紫外線、可見光和紅外線統(tǒng)稱為光學(xué)光譜。光學(xué)分析是基于電磁輻射與物質(zhì)相互作用后產(chǎn)生的輻射信號的波長和強度或發(fā)生的變化來測定物質(zhì)的一類分析方法??梢姽?、無線電波、微波、紅外線、紫外線、X射線、γ射線和宇宙射線等都是電磁輻射?;脽羝?Error! Reference source not found.幻燈片7 光譜和光譜分析l 光譜是復(fù)色光經(jīng)過色散系統(tǒng)(如棱鏡、光柵)分光后,被色散開的單色光按波長(或頻率)大小而依次排列的圖案?;脽羝?l 火花源原子發(fā)射光譜分析技術(shù)l
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