半導(dǎo)體二極管、三極管來料檢驗(yàn)規(guī)程-文庫吧資料
2025-07-31 13:57本頁面
【正文】 QL抽樣數(shù)Ac/Re抽樣數(shù)Ac/Re二極管外觀目測1251/21000/1電特性參數(shù)12500/11000/1三極管外觀目測1251/21000/1電特性參數(shù)12500/11000/1達(dá)林頓管外觀目測1251/21000/1電特性參數(shù)12500/11000/1IGBT外觀目測1251/21000/1電特性參數(shù)12500/11000/1 注：特殊檢驗(yàn)：是指對于那些經(jīng)長期考核的質(zhì)量信得過單位或合格器材供應(yīng)單位而言的，對于他們供應(yīng)的器件，已經(jīng)委托該器材供應(yīng)單位代為檢驗(yàn)。 抽樣 樣品應(yīng)按正常檢驗(yàn)AQL一次抽樣方案，從來料批中隨機(jī)抽取。 試驗(yàn)完畢用5倍以上的放大鏡檢查，浸漬部位表面應(yīng)浸潤覆蓋一層光滑的、明亮的焊錫涂層，缺陷比率（例如針孔或出現(xiàn)未浸潤面）不得多于5%，且這些缺陷不得集中在元件的相同部位。5℃；浸漬時(shí)間3177。 可焊性檢查(槽焊法)以上半導(dǎo)體器件的引出腳都要按下述方法進(jìn)行可焊性檢查。 測二極管的反向擊穿電壓BVR 緊接著反向電流的測試，使峰值電壓繼續(xù)緩慢增加，觀測在被測二極管剛剛被擊穿時(shí)的擊穿點(diǎn)的電壓值，就是該二極管的反向擊穿電壓BVR。接入待測的二極管，使峰值電壓由0V緩慢增加，觀測在被測二極管正常工作電壓范圍內(nèi)的反向電流值I0。所測得的二極管的正向電壓降，在該二極管的標(biāo)稱值范圍內(nèi)為合格，否則為不合格。否則為不合格（如圖4b所示）。正確連接相應(yīng)的二極管測試夾具、插座或裝置，檢查連接無誤后，接入待測的二極管，圖示儀即顯示該二極管的VA特性曲線。 二極管主要測試參數(shù)：二極管的VA特性曲線二極管的正向壓降VF二極管的反向電流I0二極管的反向擊穿電壓BVR 測試方法：現(xiàn)將上述特性參數(shù)的測試方法分述如下。PNP小功率晶體管的測試方法與此基本相同。接入待測的小功率NPN并使基極懸空，使峰值電壓由0V緩慢增加，觀測在被測小功率晶體管正常工作電壓范圍內(nèi)的集電極電流值IC，此電流就是該小功率晶體管基極開路時(shí)的穿透電流ICE0。否則為不合格。 測小功率晶體管基極開路時(shí)的反向擊穿電壓BVCE0按附表1“擊穿電壓測試”欄、測小功率NPN晶體管的要求，調(diào)整晶體管特性圖示儀各選擇開關(guān)的檔位。觀測到的VCES值在該小功率晶體管的標(biāo)稱飽和壓降范圍內(nèi)為合格，否則為不合格。否則為不合格（如圖3b所示）。正確連接相應(yīng)的NPN晶體管測試夾具、插座或裝置，檢查連接無誤后，接入待測的小功率NPN晶體管，圖示儀即顯示一簇該小功率NPN晶體管的共發(fā)射極輸出特性曲線。 小功率晶體管 主要測試參數(shù)：小功率晶體管的共發(fā)射極輸出特性曲線小功率晶體管的飽和壓降VCES 小功率晶體管的共射極電流放大系數(shù)β小功率
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