中醫(yī)中藥]x射線熒光光譜分析技術(shù)簡(jiǎn)介-文庫吧資料
2025-01-10 02:44本頁面
【正文】 題 55 理想待測(cè)試樣應(yīng)滿足的條件 ： （因?yàn)闊晒夥治鰳悠返挠行Ш穸纫话阒挥?0～ 100181。金屬的表面處理也有類似的情況，我們稱其為 粒度效應(yīng) 和 表面效應(yīng) 53 試樣的組成及元素間的影響 ? 試樣表面的處理 ? 顆粒度的影響 ? 成分波動(dòng)的影響 ? 重疊影響 ? 高含量元素峰影響 54 樣品的制備及樣品 與標(biāo)樣的一致性 ? 熒光分析中標(biāo)樣與分析樣品的一致性是影響分析結(jié)果的重要因素。顆粒度增加 X射線強(qiáng)度下降。這種微觀上的差別無法用機(jī)械方法除去，這稱為 礦物效應(yīng) 。 51 基體效應(yīng) ? 基體：分析元素以外的全部 ? 基體效應(yīng)：在一定的分析條件下，試樣中基體元素對(duì)分析元素測(cè)量結(jié)果的綜合影響。現(xiàn)實(shí)中由于散射、吸收－增強(qiáng)等因素以及晶體衍射效率的變化等等因素造成實(shí)測(cè)強(qiáng)度與理論強(qiáng)度的不一致，通過校準(zhǔn)實(shí)測(cè)強(qiáng)度與理論強(qiáng)度之間的差異而建立起來的一種以理論參數(shù)為主的分析方法。 40 全固態(tài)檢測(cè)器 41 儀器結(jié)構(gòu)和微區(qū)分析系統(tǒng) 專利 ] 可以在 30mm直徑內(nèi)的任意位置進(jìn)行分析。 滿足 2dsinθ =nλ 時(shí)，衍射線在出射角 θ 方向產(chǎn)生衍射，從而達(dá)到分光的目的。當(dāng)被照射的物質(zhì)為晶體時(shí)，且原子層的間距與照射 X射線波長有相同數(shù)量級(jí)，在某種條件下，散射的 X射線會(huì)得到加強(qiáng)，顯示衍射現(xiàn)象。連續(xù)光譜的短波限 λm只決定于 X射線管的工作高壓。從陽極發(fā)出的高速電子撞擊對(duì)陰極而產(chǎn)生 X射線 ? 以 X射線形式輻射出的能量極小，大部分能量轉(zhuǎn)變成熱能 ? 陰極的熱量用水或風(fēng)進(jìn)行冷卻 32 X射線管的結(jié)構(gòu) 33 初級(jí) X射線的產(chǎn)生 高速電子撞擊陽極 (Rh、 Cu、 Cr等重金屬 )：熱能 (99%)+X射線(1%) 高速電子撞擊使陽極元素的內(nèi)層電子激發(fā)；產(chǎn)生 X射線輻射； 34 連續(xù)光譜 連續(xù)光譜又稱為“白色” X射線，包含了從短波限 λm開始的全部波長，其強(qiáng)度隨波長變化連續(xù)地改變。產(chǎn)生的是 Ka線。依據(jù)譜線強(qiáng)度與元素含量的比例關(guān)系進(jìn)行定量分析 . 20 熒光分析的樣品有效厚度一般為 ≤ 。但是造價(jià)高 . 16 : 在多道同時(shí)型儀器上加掃描道 ,既有多道同時(shí)型的優(yōu)點(diǎn) ,又有靈活的優(yōu)點(diǎn) . : 在掃描型儀器上加 24個(gè)固定道 .部分減少了掃描型儀器的慢速、穩(wěn)定性差的缺點(diǎn) ,但是基本構(gòu)造沒有改變 ,真空室很大 ,配備固定道后檢測(cè)距離加大，靈敏度降低，故障率偏高。 : 每個(gè)元素一個(gè)通道 ,多數(shù)部件可以互換。 ? 常見的光譜分析儀器有： 原子吸收光譜儀；直讀光譜分析儀 ICP直讀光譜分析儀； X射線熒光光譜儀 原子熒光光譜儀 ?? 12 X射 線熒 光分析 13 X射線熒光光譜儀的分類 1. 根據(jù)分光方式的不同， X射線熒光分析可分為 能量色散 和 波長色散 兩類， 縮寫為 EDXRF和WDXRF。例如折射，偏振法，旋光色散法，濁度法， X射線衍射法，電子顯微鏡法等。例如原子吸收光譜分析、原子發(fā)射光譜分析，分子吸收光譜分析， X射線熒光分析和穆斯鮑爾光譜分析等。 7 8 1013 1012 1011 1010 109 108 107 106 105 104 103 102 101 1 10 1 10 2 10 3 10 4 紫外線 超短波 短 波 中 波 長 波 超 聲 波 nm 1? μm m km green blue violet yellow orenge red ３８０ ４３０ ４９０ ５５０ ５９０ ６４０ ７８０ ｎｍ radiant 波長 λ( ｍ ) pm X射線
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