spc數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析與管理-xxxx18(參考版)
2025-02-22 15:11本頁(yè)面
【正文】 控制圖在實(shí)際工作應(yīng)用中常見(jiàn)的錯(cuò)誤 Thank You ! 謝謝觀(guān)看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。 ? 典型的判讀準(zhǔn)則選用參考如下 ︰ ?準(zhǔn)則 5最為通用； ?準(zhǔn)則 6較能探測(cè)平均值的變化； ?準(zhǔn)則 8最能探測(cè)層別的問(wèn)題； ?準(zhǔn)則 7能探測(cè)數(shù)據(jù)來(lái)源以及展示改善的過(guò)程； ?準(zhǔn)則 3用于探測(cè)過(guò)程的漂移 控制圖的利用 ? 當(dāng)發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定，并尋找到特殊原因后，設(shè)法予以消除，然后剔除這些異常點(diǎn)的數(shù)據(jù)，再利用剩下來(lái)的數(shù)據(jù)（若所剩數(shù)據(jù)不足 25組則需重新收集適當(dāng)數(shù)據(jù)），重新計(jì)算管制界限，重新判讀直至穩(wěn)定。 ?每種狀態(tài)發(fā)生的機(jī)率皆很小 (%)，因此若發(fā)生視為異常。 1, ??? ? nxxMR niii 通常定義 控制 圖 (單一觀(guān)測(cè)值管制圖 , ) Rmx ? MRI ?MRDLCLMRCLMRDUCLdMRxLCLxCLdMRxUCL3422 3 3 ,????????變異管制圖為平均數(shù)管制圖為在此資料型態(tài)下Rmx ? MRI ? 控制 圖 (單一觀(guān)測(cè)值管制 圖 , ) 組內(nèi)樣本大小固定 ? 假設(shè) m組樣本大小均為 n，若第 i組樣本含有 Di個(gè)不良品，則不合格率 為 ? 全部樣本的不合格率 ? 不合格率管制圖 mpmnDp mi imi i ?? ?? ??? 11 ?總樣本總不合格品數(shù)nDp i??npppLCLpCLnpppUCL)()(???????1313P控制 圖 (不良率管制圖 ) ? 不合格品數(shù)管制圖 )1(CL)1(n1ppnpnLppnpnUCLmNpmk k???????? ?nP控制 圖 (不良品數(shù)管制 圖 ) 這里： kN=子集 k中的不良品數(shù)（ k=1,2,3…m ） m=子集數(shù)（組數(shù)） ?????mk kmk kNp11n? 可用來(lái)管制 ? 一個(gè)檢測(cè)單位 (每組樣本數(shù)大小固定 )的總不合格點(diǎn)數(shù)即為 c管制圖 ? 固定樣本下出現(xiàn)不合格點(diǎn)的機(jī)率服從 卜瓦松 分配 ? 基本假設(shè)有 ? 平均缺點(diǎn)數(shù)必須遠(yuǎn)小于所有可能的缺點(diǎn)總數(shù) ? 發(fā)生缺點(diǎn)的機(jī)會(huì)很大然而特定位置發(fā)生不合格點(diǎn)的機(jī)率很小且固定 ? 每一樣本發(fā)生不合格點(diǎn)的機(jī)會(huì)相同 ? 不合格點(diǎn)的發(fā)生為獨(dú)立 c chart(缺點(diǎn)數(shù)管制圖 ) ? 在卜瓦松分配假設(shè)下，平 均 值 為 c，變異數(shù)亦為 c 因此管制界限為 以平均不合格點(diǎn) 數(shù) 作為平均值的估計(jì)： ccLCLcCLccUCL33?????ccLCLcCLccUCL33?????c chart(缺點(diǎn)數(shù)管制圖 ) ? 適用時(shí)機(jī) ? 在實(shí)務(wù)應(yīng)用 上 單 位 樣本數(shù) 可能會(huì)不同，無(wú)法滿(mǎn)足 c管制圖的假設(shè) ? 此時(shí)，使用 u chart單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 ? 定義單位不合格點(diǎn)數(shù) ? 管制界限 ncu ??樣本數(shù)缺點(diǎn)數(shù)??????????????iinuuLCLuCLnuuUCL33U chart(單位缺點(diǎn)管制 圖 ) 檢定法則 ? 控制圖異常 點(diǎn)區(qū)域檢定法則 ?將管制圖自上管制界限（ UCL）至下管制界限（ LCL）間隔分成 6個(gè)區(qū)域，每一個(gè)區(qū)域范圍恰為一個(gè) 標(biāo)準(zhǔn)偏差 ，分別給予 ABC的稱(chēng)號(hào)。 ? R Chart計(jì)算簡(jiǎn)單，若是使用計(jì)算機(jī)軟件執(zhí)行 SPC時(shí) ， 采用S Chart； 另外 S Chart可用于組內(nèi)樣本數(shù)不同 。對(duì)于 CPK 5M1E方面進(jìn)行原因分析，且制定糾正預(yù)防措施。再求出 25 個(gè)子組極差的 平均值 ； 步驟 3：查 d2系數(shù)表、 、 計(jì)算均值控制圖和極差控制圖的管制上限（ UCL)、管制下限（ LCL)； 步驟 4：根據(jù)管制上限（ UCL)、管制下限（ LCL) 和中心線(xiàn)（ CL）設(shè)置 Y坐標(biāo)軸格式和刻度。 ?一般先判斷 R(或 S)控制圖 是否在管制狀態(tài)， 若是則制 程變異在管制狀態(tài)，再去判斷 管制圖是否在管制狀態(tài)。例如在物理科學(xué)中，做重復(fù)性測(cè)量時(shí)，測(cè)量數(shù)值集合的標(biāo)準(zhǔn)差代表這些測(cè)量的精確度。例如，兩組數(shù)的集合 {0, 5, 9, 14} 和{5, 6, 8, 9} 其平均值都是 7 ，但第二個(gè)集合具有較小的標(biāo)準(zhǔn)差。 PPK 有偏移的長(zhǎng)期過(guò)程性能指數(shù)； K 偏移量 ∑X 樣本數(shù)據(jù)求和 R 極差 = 單組最大值 單組最小值 ∑ R 每組極差求和 標(biāo)準(zhǔn)差 (Standard Deviation)是一組數(shù)值自平均值分散開(kāi)來(lái)的程度的一種測(cè)量觀(guān)念。 CPK 有偏移的短期過(guò)程能力指數(shù) 。 由管制界限的寬度 177。 三種界限之間的區(qū)別與聯(lián)系 ? UCL (Upper Control Limit)：管制上限 ? CL (Center Line)：中心線(xiàn) ? LCL (Lower Control Limit)：管制下限 ? USL (Upper Spec. Limit)：規(guī)格上限 ? LSL (Lower Spec. Limit)：規(guī)格下限 ? OOC (Out of Control)：超出管制界線(xiàn) ? OOS (Out of Spec.)：超出規(guī)格界線(xiàn) ? SOOS：?jiǎn)吸c(diǎn)超出規(guī)格 名詞解釋 1 管制界限 V. 管制界限 ?由所收集的資料匯整后的平均值 的函數(shù)，是對(duì)平均而言 ?管制界
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