spc教程(參考版)
2025-02-22 15:11本頁面
【正文】 見下表： 當需要計算過程能力時；將 σ 帶入 XR圖 42的公式即可。見下表： 注： 在樣本容量低于 6時，沒有標準差的下控制限。 注： s 圖的刻度尺寸應(yīng)與相應(yīng)的 X圖的相同。 11 數(shù)據(jù)的收集（基本同 XR圖） 111 如果原始數(shù)據(jù)量大，常將他們記錄于單獨的數(shù)據(jù)表，計算 出 X 和 s 112 計算每一子組的標準差 s = ∑ (Xi–X )178。 均值和標準差圖（ Xs圖） 一般來講 ， 當出現(xiàn)下列一種或多種情況時用 S圖代替 R圖： a 數(shù)據(jù)由計算機按設(shè)定時序記錄和 /或描圖的 ， 因 s的計算程序 容易集成化 。 6 7 注 1： R 圖和 X 圖應(yīng)分別分析，但可進行比較，了解影響過程 8 的特殊原因。 3 過程控制分析 4 分析控制圖的目的在于識別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)。 ? 各控制限畫成虛線。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個樣本數(shù)為 6的子組， 6個“同樣的”測量結(jié)果是可能成立的。 13 計算公式： 14 UCLx=X+ A2R UCLR=D4R 15 LCLx=X A2R LCLR=D3R 16 接上頁 注： 式中 A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。 4 5 21 計算平均極差（ R）及過程均值（ X） 6 R=（ R1+R2+…+Rk ） / k（ K表示子組數(shù)量） 7 8 X =（ X1+X2+…+Xk ） / k 9 22 計算控制限 10 計算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均 11 值和極差的變化和范圍。 注： 對于還沒有計算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 （ 例如：平均值圖上 1個刻度代表 ，則在極差圖上 1個刻度代表 ） 1將均值和極差畫到控制圖上 51 X 圖和 R 圖上的點描好后及時用直線聯(lián)接，瀏覽各點是否 合理，有無很高或很低的點，并檢查計算及畫圖是否正確。 42 刻度選擇 ： 接上頁 對于 X 圖，坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 2倍，對于 R圖坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。 12 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) （見下圖） 1計算每個子組的均值（ X）和極差 R 對每個子組計算： X=（ X1+X2+…+Xn ） / n R=XmaxXmin 式中： X1 ， X2 ? ? ? ?為子組內(nèi)的每個測量值。 接上頁 113 子組數(shù)： 子組越多，變差越有機會出現(xiàn)。） 112 子組頻率 ：在適當?shù)臅r間內(nèi)收集足夠的數(shù)據(jù)，這樣子組才能 反映潛在的變化，這些變化原因可能是換班 /操作人 員更換 /材料批次不同等原因引起。 11 選擇子組大小，頻率和數(shù)據(jù) 111 子組大小 ：一般為 5件連續(xù)的產(chǎn)品，僅代表單一刀具 /沖頭 /過程 流等。C ） 工程更改處理時間（ h） X圖 R圖 接上頁 測量方法必須保證始終產(chǎn)生準確和
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