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正文內(nèi)容

解決問(wèn)題的基本步驟與qc工具(參考版)

2025-02-22 14:22本頁(yè)面
  

【正文】 管制制程 1000次中有 3次誤判機(jī)會(huì) ,因?yàn)楫a(chǎn)品分布符合正態(tài)分布時(shí) .仍有 %的機(jī)率會(huì)在 3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差以外 . 實(shí)際作管制圖判定時(shí) .此部分亦當(dāng)作異常處理 .但此判定最符合經(jīng)濟(jì)效益 (數(shù)據(jù)均屬于由量具實(shí)際量測(cè)而 得 ,如長(zhǎng)度 .重量 .濃度等特性均為連續(xù)性者 ).主要分類(lèi)如下 : XR管制圖 平均值 全距管制圖 XMR管制圖 個(gè)別值 移動(dòng)全距管制圖 XS管制圖 平均值 標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 (數(shù)據(jù)均屬于以單位計(jì)數(shù)者而得 ,如不良數(shù) ,缺點(diǎn)數(shù)等 ). 主要分類(lèi)如下 : PChart管制圖 不良率管制圖 uChart管制圖 平均不良數(shù)管制圖 cChart管制圖 不良數(shù)管制圖 : : XR管制圖是最常用的計(jì)量值管制圖 .針對(duì)大量生產(chǎn)的制程管制 步驟 : k為 2030組 .每組抽樣 n為 25個(gè) (45為佳 ) X= ΣX/n 總平均 X= ΣX/k 平均全距 R= ΣR/k : 管制中心 :CLx=X 管制上限 :UCLx=X+A2R 管制下限 :LCLx=XA2R : 管制中心 :CLr=R 管制上限 :UCLr=D4R 管制下限 :LCLr=D3R 注意平均值 全距管制圖首先確定全距管制圖 .當(dāng)全距管制圖在管制界線內(nèi)時(shí) .再確認(rèn)平均值管制圖 繪 XR管制圖 54 UCL 52 50 CL 48 46 LCL 12 10 UCL 8 6 CL 4 2 LCL 0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 移動(dòng)全距管制圖 (XRm chart) 個(gè)別值 移動(dòng)全距管制圖也是一種計(jì)量值管制圖 .其靈敏度較差 .其使用性較平均值 移動(dòng)全距為窄 .但下列狀況時(shí) .適合採(cǎi)用本管制圖 : .測(cè)定多點(diǎn)意義不大 .而若測(cè)量多點(diǎn)時(shí) .時(shí)效性來(lái)不及 .而且每個(gè)成品單價(jià)太高 XRm chart 制作方法 : 平均值 :X= ΣX/k(k為總樣品數(shù) ) 移動(dòng)全距 Rm= XiXi+1 平均移動(dòng)全距 Rm= ΣRm/k1 個(gè)別值管制圖 : 管制中心 :CLxm=X 管制上限 :UCLxm=X+A3Rm 管制下限 :LCLxm=XA3Rm(A3==2時(shí) ) n代表每一組求移 動(dòng)全距的樣品數(shù) 移動(dòng)全距管制圖 (Rmchart) 管制中心 :CLRm=Rm 管制下限 :UCLRm=D4Rm=(當(dāng) n=2時(shí) ) 管制下限 :LCLRm=D3Rm=0 注意個(gè)別值 全距管制圖首先確定全距管制圖 .當(dāng)全距管制圖在管制界線內(nèi)時(shí) .再確認(rèn)個(gè)別值管制圖 平均值 標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 (XS chart) XS管制亦是一種計(jì)量值管制圖 .一般使用在當(dāng)制程的標(biāo)準(zhǔn)未知 .取樣較大 (n10).且需要較精密的數(shù)值時(shí) . k=2030組 .每組抽樣數(shù) n10 X= ΣX/n X= ΣX/k=ΣΣX/ S= ΣS/k 管制中心 :CLx=X 管制上限 :UCLx=X+A3S 管制下限 :LCLx=XA3S (Schart) 管制中心 :CLs=S 管制上限 :UCLs=B4S 管制下限 :LCLs=B3S( ) 注意平均值 標(biāo)準(zhǔn)差管制圖首先確定全距管制圖 .當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)差管制圖在管制界線內(nèi)時(shí) .再確認(rèn)個(gè)別值管制圖 不良率管制圖 : P管制圖經(jīng)常被使用在進(jìn)料或制程檢驗(yàn)的一種計(jì)數(shù)值管制圖 .其使用的目的為 : .且每次批量不相等 .但基於某些理由 .僅用量測(cè)儀器區(qū)分為合格與不合格 .而且其樣本數(shù)非一定數(shù)時(shí) : 步驟 : k=2030組 .決定 n之大小 .n不能太大 .也不能太小 .一般以 1nP5為標(biāo)準(zhǔn) p=不良數(shù) /檢驗(yàn)個(gè)數(shù) =d/n 平均不良率 :P=全部不良數(shù) /全部抽檢個(gè)數(shù) 管制中心 :CLp=P 管制上限 : UCLp=P+3 P(1P)/n 管制下限 : LCLp=P3 P(1P)/n 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 (Cchart) C管制圖也是一種計(jì)數(shù)值管制圖 .指的是兩相同之產(chǎn)品 .在相似尺寸 .面積 .大小所含的缺點(diǎn)個(gè)數(shù) . C= ΣC/k 管制中心 :CLc=C 管制上限 :UCLc=C+3* C 管制下限 :UCLc=C3* C 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 (uchart) u管制圖與 c管制圖有相似之處 .但因每次取樣不同 .則使用 u管制圖 . u=一組內(nèi)之缺點(diǎn)數(shù) (c)/一組之單位 (n)=c/n u= Σc/ Σn 管制中心 :CLu=u 管制上限 :UCLu=u +3* u/n 管制下限 :lCLu=u –3*u/n : 管制圖的判定是依據(jù)正態(tài)分布的機(jī)率為原則 .計(jì)量值分布是成正態(tài)分布 .但計(jì)數(shù)值分布是成二項(xiàng)式分布 .在樣本數(shù)較大的情況下(n50) 二項(xiàng)式分布近似於正態(tài)分布 .故管制圖的判定均可依距正態(tài)分布原理作判定 . a. 多數(shù)點(diǎn)集中在中心線附近 . b. 少數(shù)點(diǎn)落在管制界線附近 . c. 點(diǎn)分布呈隨機(jī)狀態(tài) ,無(wú)規(guī)則可循 . d. 無(wú)點(diǎn)超出管制界線 : a. 連續(xù) 7點(diǎn)持續(xù)上升或下降 . b. 有點(diǎn)超出管制界線 . c. 連續(xù) 11點(diǎn)中有 10點(diǎn)在中心線一側(cè) . d. 點(diǎn)的分布呈周期性變化 針對(duì)各種管制圖上異常之可能原因之解決方法及方向 : 平均值管制圖 : 5. 溫濕度 .量測(cè)系統(tǒng) R管制圖 .S管制圖 .Rm管制圖 : Pchart uchart Cchart
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