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控制圖與過程能力分析-spc培訓講義(參考版)

2025-02-14 20:31本頁面
  

【正文】 129 B計 算控制限 nunuuLCLnuuUCLnCuCLnnncccuuuuukk?????????????????33..... ........ ...2121130 過 程控制解釋、過程能力解釋 ? 過 程控制解釋 ? 同 p圖 解釋 ? 過 程能力解釋 ? 過 程能力為 u平均值,即每報告單元缺陷數(shù)平均值 131 控制圖的控制界限一覽表 圖別 CL UCL LCL XRX RAX 2? RAX 2?RD4 RD3P n PPP )1(3 ?? n PPP )1(3 ??PnPnP n PnPnP )1(3 ?? n PnPnP )1(3 ??CUCU CC 3? nUU 3? CC 3? nUU 3?132 控制系數(shù)表 n 項目 2 3 4 5 6 A2 D4 D3 D2 133 SPC 統(tǒng)計技術(shù)常用工具 ? MINITAB ? EXCEL表格函數(shù) 134 ?QA 135 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH ?!?u” 圖 的繪制和“ p” 圖 相似,不同之處如下 : 128 A收集數(shù)據(jù) ? 各子組樣本的容量彼此不必都相同,盡管使它的容量保持在其平均值的正負25%以內(nèi)可以簡化控制限的計算。除了缺陷量是按每單位產(chǎn)品為基本量表示以外,它是與 c圖 相似的。 ? 在單個的產(chǎn)品檢驗中可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛在原因造成的不合格 (例如:在一個修理部亡錄每輛車或元件可能存在一個或多個不同的不合格 )。 ? 樣本容量應(yīng)足夠大使每個子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個不合格品,在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量 ?!?Pn” 圖 的詳細說明與 p圖 很相似,不同之處如下: 118 Pn圖與 P圖的異同 ? 受檢驗樣本的容量必須相等。 P圖 和 Pn圖適 用的基本情況相同,當滿足下列情況可選用 Pn圖 ? 不合格品的實際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報告。但是還應(yīng)對繼續(xù)系統(tǒng)進行調(diào)查和改進。這個新的均值反映了受控制狀態(tài)下的性能。這個變化時期對系統(tǒng)操作會是破壞性,可能造成新的控制問題,掩蓋系統(tǒng)變化后的真實效果。但是如果僅使用計數(shù)型數(shù)據(jù)將很難理解問題所在,通常僅可能地追溯變差的可疑原因,并借助計量型數(shù)據(jù)進行分析,將有利於問題的解決 112 繪 制并分析修改后的過程控制圖 ? 當對過 程采取了系統(tǒng)的措施后,其效果應(yīng)在控制圖上明顯地反應(yīng)出來; 控制圖成為驗證措施有效性的一種途徑。有必要使用長期的解決問題的方法來糾正造成長期不合格的原因。在操作上診斷特殊原因 (控制 )變差問題的分析方法不適於診斷影響系統(tǒng)的普通原因變差。這些連續(xù)的受控的時期子組的 p值是該過程當前能的更好的估計值。 ?對於過程能力的初步估計值,應(yīng)使用歷史數(shù)據(jù),但應(yīng)剔除與特殊原因有關(guān)的數(shù)據(jù)點。 106 控制限運用說明 收集 數(shù)據(jù) 繪圖 及 計 算 控制限 是否 異常 延伸控制限 N 找出 異 常 點 原因 并 提出相 應(yīng) 措施 制 程有 變 化 人 機 料法 環(huán)測量 Y 107 建立 p的步驟 D D過程能力解釋 D1計算過 程能力 D2評價過 程能力 D3改 進過 程能力 D4繪 制 并 分析修改 后 的 過 程控制 圖 108 過 程能力解釋 偶因和 異 因 并 存 找出 異 因 只剩偶因 運 用控制 圖 過 程 穩(wěn) 定 (連 25點 不超限 ) 計 算 過 程能力 109 計 算過程能力 ?對 於 p圖 ,過程能力是通過過程平均不合率來表示,當所有點都受控后才計算該值。 ? 一旦歷史數(shù)據(jù)表明一致性均在試驗的控制限內(nèi),則可將控制限延伸到將來的時期??衫弥T如排列圖和因果分析圖等解決定問題數(shù)據(jù)。然后糾正該原因并盡可能防止其再發(fā)生。 99 建立 p控制圖的步驟 B B計算控制限 B1計算過程 平均不合格品率 B2計 算上、下控制限 B3畫線并標 注 100 計 算平均不合格率及控制限 npppLCLnpppUCLndpCLnnndddnnnpnpnpnppppkkkkk)1(3)1(3......... . ........2121212211????????????????????????中心線101 1 098765432100 . 0 40 . 0 30 . 0 20 . 0 10 . 0 0S a m p l e N u m b e rProportionP C h a r t f o r C 2P = 0 . 0 1 0 0 03 . 0 S L = 0 . 0 3 9 8 5 3 . 0 S L = 0 . 0 0 0例 102 建立 p圖 的步驟 C C過程控制用控制圖解釋 C1分析數(shù)據(jù)點,找出不穩(wěn)定證據(jù) C2尋 找并糾正特殊原因 C3重新計算控制界限 超出控制限的點鏈 明顯的非隨機圖形 103 分析數(shù)據(jù)點,找出不穩(wěn)定的證據(jù) ? 點 ? 線 ? 面 ? 以上三 種 方式 判 定。 ? 當點描完後,粗覽一遍看看它們是否合理,如果任意一點比別的高出或低出許多,檢查計算是否正確??v坐標刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍。時間隔短則反饋快,但也許與大的子組容量的要求矛盾 ? 子組數(shù)量:要大于等于 25組以上,才能判定其穩(wěn)定性。如果子組樣本容量為偶數(shù),中位數(shù)是中間兩個數(shù)的均值 管制圖RX ?~87 ? B計算控制限 管制圖RX ?~ RDLCLRDUCLRCLRAmXLCLRAmXUCLXCLXRRRXXX342323~~~~????????全距管制圖值管制圖88 ? 估計過程標準偏差: 管制圖RX ?~2?dR??89 ? C過 程控制解釋 ? (同 XR圖 解釋 ) 管制圖RX ?~90 練習: 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 1 67 76 74 72 76 74 70 72 70 73 74 73 70 72 2 68 75 73 74 78 74 72 74 78 76 74 76 75 79 3 68 77 96 75 78 71 73 75 77 75 76 77 75 80 4 69 79 95 72 80 72 71 76 72 75 77 72 72 78 5 67 75 75 73 76 72 70 73 72 74 75 74 75 75 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 1 75 74 70 62 74 78 80 80 72 55 70 73 72 73 2 74 78 65 64 75 77 81 79 68 56 72 73 74 72 3 78 77 65 62 76 72 81 74 68 58 71 76 70 74 4 79 72 64 61 75 73 79 74 65 56 72 74 74 76 5 75 75 68 65 72 75 76 75 73 60 73 71 70 70 91 練習: ? 計 算出上表的 XR控制圖的控制限? ? 判定過程是否穩(wěn)定? ? 如果是不穩(wěn)定該如何處理? ? 如果制程假設(shè)已穩(wěn)定,但想將抽樣數(shù)自 n=5調(diào)為 n=4時 ,那么其新控制限是? 92 不良和缺陷的說明 結(jié) 果舉例 控制圖 車 不泄漏/泄漏 P圖 NP圖 燈 亮/不亮 孔的直徑尺寸太小或太大 給銷售商的貨正確 /不正確 風 窗玻璃上的氣泡 C圖 U圖 門 上油漆缺陷 發(fā) 票上的錯誤 93 不良和缺陷控制圖的流程 A收集 數(shù)據(jù) B計 算控制限 C過 程控制解 釋 D過 程能力解 釋 94 建立 p圖 的步驟 A A階段收集數(shù)據(jù) A1選擇 子 組 的容量、頻率及 數(shù) 量 子 組 容量 分 組 頻率 子 組數(shù) 量 A2計 算每 個 子 組內(nèi) 的不合格品率 A3選擇控制圖 的坐 標 刻度 A4將 不合格品率描 繪 在控制 圖 95 A1子組容量、頻率、數(shù)量 ? 子組容量:用於計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖一般要求較大的子組容量 (例如 50~200)以便檢驗出性能的變化,一般希望每組內(nèi)能包括幾個不合格品,但樣本數(shù)如果太大也會有不利之處。公式如下 管制圖sX ? 554321 xxxxxx ?????1)( 2??? ?nxxs i81 ? B計算控制界限 管制圖sX ?SBLCLS
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