通往零缺陷制造的途徑之過(guò)程品質(zhì)控制(參考版)
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【正文】 2000 2005 SMT之家 All rights reserved. 6 / 6。如您發(fā)現(xiàn)鏈接錯(cuò)誤或其它問(wèn)題，請(qǐng)及時(shí)反饋給我。若其真正的版權(quán)擁有者發(fā)現(xiàn)本站部分內(nèi)容有傷害到您，或您公司的利益，有侵犯其版權(quán)之嫌的，請(qǐng)來(lái)信告知，我馬上刪除這些內(nèi)容。98, p. 41724. 2. W. Sauer, H. Wohlrabe and T. Zerna, Process Capability Coefficient and Placing Accuracy as Benchmarking Values of SMT Placement Systems, Proceedings of SMI 39。AOI產(chǎn)生的描述性的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)在什么時(shí)候適合于尋找過(guò)程變化，對(duì)這一點(diǎn)的認(rèn)識(shí)是通往零缺陷制造道路上的下一站。重要的是設(shè)備方便移動(dòng)到生產(chǎn)線上的不同位置，可以準(zhǔn)確地識(shí)別和分類缺陷。 檢查目標(biāo)隨著過(guò)程的改變和成熟而發(fā)生變化。位置也影響檢查設(shè)備產(chǎn)生的過(guò)程控制體系的品質(zhì)。 結(jié)論 四個(gè)主要的檢查目標(biāo)適合于所有類型的制造商。 對(duì)過(guò)程品質(zhì)控制而言，AOI的未來(lái)將涉及智能軟件系統(tǒng)，該系統(tǒng)將統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)、與品質(zhì)數(shù)據(jù)有關(guān)的信息和來(lái)自其它生產(chǎn)設(shè)備的變量翻譯出來(lái)，預(yù)測(cè)發(fā)生前的缺陷，在行進(jìn)中找出過(guò)程缺陷的可能根源。類似地，推測(cè)缺陷根源是借助于AOI系統(tǒng)產(chǎn)生的控制圖類型，但系統(tǒng)很少可以自己決定根源。 AOI的未來(lái)(Future of AOI) AOI工業(yè)正努力邁向零缺陷制造的最終目標(biāo)，當(dāng)然現(xiàn)在還未達(dá)到。由于這個(gè)至關(guān)重要，缺陷的根源將要求進(jìn)一步的調(diào)查。通過(guò)逐個(gè)位置的檢查特殊缺陷的發(fā)生，過(guò)程工程師可更好地決定缺陷的根源。再進(jìn)一步深究這數(shù)據(jù)，可以決定焊錫短路的位置。它表明最多的三種缺陷占產(chǎn)品上發(fā)生的錯(cuò)誤的75%。在本例中，最重要的缺陷是錫橋，它占了缺陷的42%。象這樣的過(guò)程控制圖典型地是當(dāng)FPY圖出現(xiàn)某種異常的時(shí)候提出的。在任何時(shí)候，操作員可以選擇一個(gè)點(diǎn)來(lái)作進(jìn)一步的調(diào)查，并且可產(chǎn)生一個(gè)更詳細(xì)的缺陷分類圖。該圖比較來(lái)自從AOI設(shè)備和PCA返工工位的操作員所產(chǎn)生的FPY數(shù)據(jù)。對(duì)回流焊后的應(yīng)用，主監(jiān)視圖將或是一個(gè)Pareto圖，或是一個(gè)FPY圖。對(duì)監(jiān)測(cè)元件貼裝的回流焊前的檢查站，圖表典型地是一個(gè)元件偏移的離散圖。這個(gè)圖經(jīng)常在檢查機(jī)器或返工站顯示。分析信息的步驟如下。 定性信息可通過(guò)直接報(bào)告缺陷信息來(lái)決定全部裝配過(guò)程的品質(zhì)。 定量的信息，如元件偏移的測(cè)量，可用于監(jiān)測(cè)貼片設(shè)備的狀態(tài)。 如果說(shuō)每個(gè)位置對(duì)識(shí)別某個(gè)特殊缺陷都可能理想主義的話，實(shí)施
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