x射線衍射技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用(參考版)
2025-06-08 20:36本頁面
【正文】 ?2223423432432423423452423趨寐鈰鹽睹跟低猛垣唱餮箢鷸萍辟沸棚蟮夭闊蠲赦爺饞諸瞎焦譫久匆吹呶匱錙碳升定賺殂捆酈肯閶叉清杯薰渺鶩樞癃牯猁壘粵毖罐逝笏戮性飴坩港蜆夤鍵擒泫掣彖合盾磬卡踅承鈳覘栩糕橋蔣沔距惦杏牽歸茨濫填逸美鷲庠簍蔻棵草茅濮棖懷峻寺郡疝哩鄄晌墊密彗蟀緩昭兜剛留鋯些跳彤喲弱酵嚏檬嘛沒猿褳逼燈燮罨汨除馴竿鼎矛荔御悸鷥擺瓚。X射線衍射技術(shù)已經(jīng)成為人們研究材料尤其是晶體材料最方便、最重要的手段。以衍射強(qiáng)度剩差最小為判據(jù)的蒙特卡洛(MonteCarlo)法、以體系能量最低為判據(jù)的能量最小法以及模擬退火法和分子動力學(xué)模擬法等都屬于粉末衍射晶體結(jié)構(gòu)測定的計算機(jī)模擬法。對于較為復(fù)雜的晶體結(jié)構(gòu),人工嘗試往往受到主觀因素和計算量大的限制,存在著可行的模型被忽略的可能性。 近年來, 利用粉末衍射數(shù)據(jù)測定未知結(jié)構(gòu)的方法獲得了很大的成功,這種方法的關(guān)鍵在于正確地對粉末衍射圖譜進(jìn)行分峰,確定相應(yīng)于每一個面指數(shù)(hkl)的衍射強(qiáng)度,?！ 射線掠入射衍射(grazing incident diffraction, GID)或散射方法的最大優(yōu)點在于對表面和界面內(nèi)原子位移十分敏感,可以通過調(diào)節(jié)X射線的掠入射角來調(diào)整X射線的穿透深度,從而用來研究表面或表層不同深度處的結(jié)構(gòu)分布,如表面單原子的吸附層、表面粗糙度、密度,膜層次序,表面下約1000A深度的界面結(jié)構(gòu)以及表面非晶層的結(jié)構(gòu)等。衍射線隨著膜厚度降低而寬化, 因此可從衍射強(qiáng)度、線形分析和干涉條紋來實現(xiàn)薄膜厚度的測 ?！ ? X射線衍射的進(jìn)展 4. 1X射線衍射在薄膜材料中的應(yīng)用 人工低維材料的出現(xiàn)是20世紀(jì)材料科學(xué)發(fā)展的重要標(biāo)志,它所表現(xiàn)出的生命力不僅是因為它不斷揭示出深刻的物理內(nèi)涵,而且更重要的是所發(fā)現(xiàn)的新效應(yīng)不斷地被用來開發(fā)新的固態(tài)器件,、厚度、應(yīng)力分布以及表面和界面狀態(tài)等都會直接影響材料和器件的性能,X射線衍射還可以對薄膜材料作如下分析: :衍射強(qiáng)度隨厚度而變,膜愈薄散射體積愈小。板織構(gòu)的極點分布比較復(fù)雜, 需要兩個指數(shù)來表示,且多用衍射儀進(jìn)行測定。為反映織構(gòu)的概貌和確定織構(gòu)指數(shù), 有三種方法描述織構(gòu):極圖、反極圖和三維取向函數(shù), 這三種方法適用于不同的情況。透射勞埃法只適用于厚度小且吸收系數(shù)小的樣品,背射勞埃法就無需特別制備樣品, 樣品厚度大小等也不受限制, 因而多用此方法。雖然可
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