x射線衍射技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用(已改無錯字)
2023-07-06 20:36:23 本頁面
【正文】 高聚物聚丙烯(PP)的結(jié)晶度, 利用函數(shù)分峰法分離出非晶峰和各個結(jié)晶峰, 計算出了不同熱處理條件下聚丙烯的結(jié)晶度,得出了聚丙烯結(jié)晶度與退火時間的規(guī)律?！?. 7晶體取向及織構(gòu)的測定 晶體取向的測定又稱為單晶定向, 就是找出晶體樣品中晶體學(xué)取向與樣品外坐標(biāo)系的位向關(guān)系。雖然可以用光學(xué)方法等物理方法確定單晶取向, 但X衍射法不僅可以精確地單晶定向, 同時還能得到晶體內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的信息。一般用勞埃法單晶定向, 其根據(jù)是底片上勞埃斑點轉(zhuǎn)換的極射赤面投影與樣品外坐標(biāo)軸的極射赤面投影之間的位置關(guān)系。透射勞埃法只適用于厚度小且吸收系數(shù)小的樣品,背射勞埃法就無需特別制備樣品, 樣品厚度大小等也不受限制, 因而多用此方法?！《嗑Р牧现芯ЯＨ∠蜓匾欢ǚ轿黄鄣默F(xiàn)象稱為織構(gòu),常見的織構(gòu)有絲織構(gòu)和板織構(gòu)兩種類型。為反映織構(gòu)的概貌和確定織構(gòu)指數(shù), 有三種方法描述織構(gòu):極圖、反極圖和三維取向函數(shù), 這三種方法適用于不同的情況。對于絲織構(gòu),要知道其極圖形式,只要求出其絲軸指數(shù)即可,照相法和衍射儀法是可用的方法。板織構(gòu)的極點分布比較復(fù)雜, 需要兩個指數(shù)來表示,且多用衍射儀進行測定?！ ″敌〈ú捎肵射線能譜法測定了金屬板材織構(gòu),分別獲得了IF鋼、冷軋電工鋼、CuNi15Sn8合金的織構(gòu)信息, 說明X射線衍射能譜儀在金屬板材的織構(gòu)測定方面具有快速、高效的優(yōu)點,在材料性能與織構(gòu)及生產(chǎn)工藝相互關(guān)系研究方面有極大的應(yīng)用價值。 4 X射線衍射的進展 4. 1X射線衍射在薄膜材料中的應(yīng)用 人工低維材料的出現(xiàn)是20世紀(jì)材料科學(xué)發(fā)展的重要標(biāo)志,它所表現(xiàn)出的生命力不僅是因為它不斷揭示出深刻的物理內(nèi)涵,而且更重要的是所發(fā)現(xiàn)的新效應(yīng)不斷地被用來開發(fā)新的固態(tài)器件,、厚度、應(yīng)力分布以及表面和界面狀態(tài)等都會直接影響材料和器件的性能,X射線衍射還可以對薄膜材料作如下分析: :衍射強度隨厚度而變,膜愈薄散射體積愈小。散射將顯示干涉條紋,條紋的周期與層厚度有關(guān)。衍射線隨著膜厚度降低而寬化, 因此可從衍射強度、線形分析和干涉條紋來實現(xiàn)薄膜厚度的測 ?！ ∮蓛煞N材料交替沉積形成的納米多層膜具有成分周期性變化的調(diào)制結(jié)構(gòu),不論是薄膜厚度還是多層膜的周期數(shù)都可以通過X射線衍射測得?！ 射線掠入射衍射(grazing incident diffraction, GID)或散射方法的最大優(yōu)點在于對表
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