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畢業(yè)設(shè)計論文-cpu的封裝測試工藝技術(shù)(參考版)

2024-11-06 04:11本頁面
  

【正文】 下面就是相應(yīng)單元的機器 。 成都電子機械高等??茖W(xué)校 電子與電氣工程系畢業(yè)設(shè)計論文 31 圖 49 找丟失的 units 的流程圖 此圖的大致意思是當生產(chǎn)員工在生產(chǎn)時發(fā)現(xiàn) units 丟失了,生產(chǎn)員工就通知機器維修技術(shù)員。 機器 故障 及 處理 測試過程中 units 丟失的處理流程圖和解決方法 當在生產(chǎn)過程中丟失了 units 時,我們需要按照規(guī)定的相應(yīng)流程圖來解決問題,以防止在處理過程中的意見不一致和影響生產(chǎn)。 成都電子機械高等??茖W(xué)校 電子與電氣工程系畢業(yè)設(shè)計論文 30 Summit ATC (溫度控制系統(tǒng) ) 這個系統(tǒng)的主要作用是 CHUCK 的精確溫度控制,它 由單獨的溫控電板控制,其中 PXI PC 機主要作用是通過 PXI 電板,實現(xiàn)對溫度的跟蹤和反饋信息,通過Sensor 電板實現(xiàn)溫度精確控制,其中 PXI PC 機還對數(shù)據(jù)進行采集,通過 GPIB傳送給 Tester 進行數(shù)據(jù)分析 。 圖 48 Tester 實物 測試系統(tǒng)的介紹 我們只有通過特定的測試系統(tǒng)才能完成產(chǎn)品的測試,所以了解測試系統(tǒng)對我們非常的重要。 Tester 的主要任務(wù),是完成 CPU 的測試工作,其主要工作過程,是在 T2020 系統(tǒng)下,由特定的測試程序,在一定的測試環(huán)境,把采集的數(shù)據(jù)進行分析,得出結(jié)果,完成 CPU 的電性能測試和電功能測試,并把得出的結(jié)果傳輸?shù)狡渌O(shè)備貯存和顯示結(jié)果給相關(guān)的人分析。 成都電子機械高等專科學(xué)校 電子與電氣工程系畢業(yè)設(shè)計論文 29 Tester(測試機 )的介紹 Advantest 2020 測試機主要負責加載預(yù)先編制好的測試程序?qū)?CPU 進行電氣性能測試分離出失效元件并將失效數(shù)據(jù)發(fā)送給失效分析室工作人員作跟蹤分析,而測試通過的產(chǎn)品將被分級,分級數(shù)據(jù)會被送入 Work stream系統(tǒng)以備后道分 Bin和鎖頻使用。如圖 (圖45) 的介紹 圖 45 turrent 實物 它是一個專門安裝 chuck 的工具 ,它能抓起裝 CPU 的 Carrier,它能正反的旋轉(zhuǎn),然后把 cpu 打在測試頭上測試。 2 個板子控制一個 chuck,這個板子上的電容也是最容易被燒壞的 ,比如說電壓不穩(wěn)或者說開機 ,關(guān)機的瞬間電壓過大都會燒壞板子 。我們平時測試結(jié)果有 bin97 可能就是它造 成的,而它的溫度是由一個叫 PXI 的pc 控制的如下圖 44 所示 。 Lonizerrrre ATLS Buffer platter Carrier 成都電子機械高等??茖W(xué)校 電子與電氣工程系畢業(yè)設(shè)計論文 27 43chuck 實物 它的作用就是通過 chiller 的輔助控制對 CPU 加熱或降溫。 下面主要介紹一下 handler 的一些部件, chuck, turret 的一些功能和作用。 14 個 Isabella板再控制其它相對應(yīng)的 Motor(馬達 )具體的工作是 , input gantry 的兩個吸頭抓起兩顆 CPU 然后旋轉(zhuǎn)到合適的 方向 再把它放在 carrier house 的 carrier 里面。 Platter 的運動是由另一個Isabella 板控制, Turret 是 10Isabellas 板控制 ,在它上面的 CHUCK 是由于14Isabellas 板控制。機器手的作用是把芯片在測試機和傳送機中,來回的傳送,并把芯片精確的放入 8 個分 BIN 箱中,其中 IN PNP GANTRY 控制 1, 2 ATL 箱, OUT PNP GANTRY 控制 45678 箱中, 1, 2ATL 箱是未測試產(chǎn)品, 4567 是測試后合格的產(chǎn)品, 8 是不合格的產(chǎn)品, 3 是入是空 TRRAY, 8個 ATL分別由 5678Isabellas板控制,上面 PNP Gantry占用了 2和 4Isabella板。 成都電子機械高等??茖W(xué)校 電子與電氣工程系畢業(yè)設(shè)計論文 26 圖 42 handler 前面構(gòu)成圖 如圖 (42)所示機器有兩個 機器手,可以抓取芯片,并可在 X, Y, Z 軸方向上,自由傳送,并精確放入下個測試 Carrier 中,這兒的精確度是由 Sensor 和Isabella 板 控制,其具體運動,是由專用的控制電板控制。 Summit ATC Summit ATC 是由 handler, chiller 兩部分組成如下圖 41 所示: 圖 41 傳送機的實物圖 它由于 8 個 ATL(料箱自動升降機)、 1 個 ATT(料盤轉(zhuǎn)換機)、 2 個 PNP Gantry(機械手)構(gòu)成前面貯存原料部分,再由中間 Platter(轉(zhuǎn)盤 )、 Turret(轉(zhuǎn)動小塔 )、 Chuck(加熱裝置 )、 Pusher 等組成機械運動部分,另外還 14 個 Isabella板、 2 個 MBX 盒、一個 PXI(數(shù)據(jù)采集 PC 機)、一個 Handler 控制 PC 機和 UPS電池構(gòu)成控制系統(tǒng)。在結(jié)束批次的時候, ODESE 將會生成一個處理報告,您也可以選 擇快捷鍵來 完成結(jié)束批次的操作。也可以選擇 快捷鍵來完成上述操作。操作人員也可以根據(jù)需要選擇其它的 summary 文件。 ODESE會顯示 summary的信息。 1A, 2A 或3A Summary 測試結(jié)束之后會打印出一份測試結(jié)果小結(jié) ( summary) 。 如果 CTSC 彈出 “Waiting for Start of test , ( 等待測試開始信號 ) ” 窗口信息 , 說明系統(tǒng)已經(jīng)準備好可以開始測試。 我們所有的 Summary 從 1A 開始表示第一輪測試, 2A 表示重測在 1 ASummary中不合格的元件, 3A 表示在 2A Summary 中不合格的元件,依次類推。 2B 用于繼續(xù)處理運行在 2Bsummary( 此時由于倒班或設(shè)備問題 ) 上的批次。 1B 用于繼續(xù)處理運行在 1A summary( 此時由于倒班或設(shè)備問題 ) 上的批次。如下圖( 314)所示。不同的選項就會有不同的功能。 CTSC 完成引入批次之后,彈出一個窗口顯示如下信息, “選擇 Summary開始測試” (圖 313) 你可以看到同樣的窗口通過選擇 CTSC 界面上的“設(shè)置 ?選擇 Summary” 菜單。 圖 312 測試 正在 加載程序 我們看見所有程序加載完成以后就可以的 運行批次 了。這時候 不要中止程序加載 。如果這個批次沒有被引進當前測試站點, CTSC 會彈出一個窗口提示你,如果這個批次已經(jīng)被引進當前測試站點, CTSC 將會找到正確的關(guān)聯(lián)并開始加載, 信息會被自動地引入 ,比如說 , 站點 、批次特定 參數(shù) 、 元件名 、 總輸入數(shù)量 、 測試程序名 、 溫度及其范 圍 。這時候我們可以引入需要測試的產(chǎn)品了。 圖 310 登陸 CTSC 然后 在 CTSC 中引入產(chǎn)品批次 :選擇菜單 ?設(shè)置 ?引入產(chǎn)品批次,或者用 的快捷。 表 39 子菜單的功能說明 一般我們是這樣使用 CTSC 的 。 圖 37 CTSC 工作臺控制器界面 ( 2) CTSC 運用 首先 CTSC 菜單有許多的快捷鍵 如圖 ( 38) ,在操作的時候就可以更快更好的的操作。 (1)CTSC 概述 在測試批次和交接班之間不要關(guān)掉 CTSC;只有在你需要退出產(chǎn)品環(huán)境的時候才需要關(guān)閉 CTSC;只有登錄 CTSC 之后才能將之關(guān)閉。 成都電子機械高等??茖W(xué)校 電子與電氣工程系畢業(yè)設(shè)計論文 21 測試系統(tǒng) (CTSC) 這個系統(tǒng)是對測試結(jié)果的一個外在的體現(xiàn),告知我們測試的結(jié)果 與信息。 ( 4) 安全 質(zhì)量 保留的批次 當前的工具狀態(tài) 。 (2) 確保批次處理已經(jīng)記錄到 工作流 中。 所有 輸出料盤的堆棧 ( 包括局部輸出堆棧 ) 在統(tǒng)計后和 進行批次處理時必須輸送到 ergo 車上 檢查第一個滿盤測試過的元件是否有 針腳彎曲的 。如果是用加號 ( +) 隔開 , 則應(yīng)該把 Bin 放在一起。 在 SET中包含兩個料箱區(qū)域合格料箱和保留料 箱。 如果合格元件和 /或保留元件的實際數(shù)量大于 summary 上的數(shù)量 , 則必須測試整個 批次。 L2 MT 必須告知測試工程師團隊具體情況。 結(jié)束一個 批次 當測試 完一個一個批次是我們就會結(jié)束就這批次從而進行下一個批次的操作下面介紹具體的操作: (1)從 handler 中卸載產(chǎn)品 。 (14) 重復(fù) 17 步 “ 卸載分類料盤 ” 程序 ?;瑒悠鲗@示料盤數(shù)量 ( 零 ) 。 (11) 100%清點測試過的元件,物理清點數(shù)量必須和 summary FUSE 那一列的數(shù)量一致,如果不一致,找到丟失的元件或者重測整個批次。 ( 9) 放出 有未測試元件塑料卡的料盤堆不能和已測試元件共用一層。(芯片組是 15 個料盤一組) 。只有同一 Bin 中的元件才能被同時放在 工作臺上。 Save Bin (Bin1+2+6)。 ( 4) 在卸載堆棧之前 , 放上適當?shù)乃芰?Bin 卡以區(qū)別堆棧 。相關(guān)的機械動作將會停止。 ( 2)點擊左端的 i/0 門鎖。 ( 8) 按照 1- 8 的步驟繼續(xù)加載輸入料盤其它堆棧。 點擊 I/O 封蓋鎖 按鈕。 ( 6) 根據(jù)實際需要,點擊另外的輸入 Bin 的 “ U”按鈕加載料盤,然后點擊“ D”按鈕 。 ( 5) 點擊 “ D” 按 鈕。 ( 4) 在最上面一層放置滿的料盤。相關(guān)的機械動作將會停止。 ( 2)點擊左端的 i/0 門鎖。這樣就運行完了一個批次。 ( 9)傳送機開 始測試 。( 7)點擊 “Clear 所有元件 ” 按鈕將傳送機軟件的計數(shù)器清零 。 (5)對所有需要接口流體( IF) 如圖 36 的產(chǎn)品執(zhí)行以下的流體監(jiān)控,如果需要IF 的話,在初始化的過程中,自動下載到傳送機的傳送機產(chǎn)品測試參數(shù)將會打開 IF 功能 。 (2) 引入批次 (掃描 EAPO/ATPO)( 如圖 34) 。 (適合于運行 LME(消除批次混料) /ULT(元件級跟蹤)的批次) 。 (c)系統(tǒng)模式 為 常規(guī) 模式 。 (a)控制模式 為 測試機 模式 。如果發(fā)現(xiàn)有元件數(shù)量與工作流中記錄的不一致或者有元件重疊的情況,將這個批次暫停給主管待其進一步調(diào)查。 從指定的 WIP 區(qū)域找到批次和相應(yīng)的批次號碼,并將該批次轉(zhuǎn)移到傳送機旁邊待測批次區(qū)域。 對于合并 socket測試( Combine Socket) , 輸入 CPBICX和 CFCX 以確認批次分別在高溫和低溫下測試。 ( 1)在工作流( Work stream)里面輸入 SLDS 命令來選擇輸送站 ( Dispatch Station) 。 準備待處理的批次 在操作之前 我們必須做好所有的準備工作才能確保操作的順利進行。 電離: 高電壓 / 低電流沖擊 冷卻機 傳送機 測試機 所有區(qū)域 HFE 7500 —— 溫度過高就會產(chǎn)生熱分解 ,進 而形成的危險蒸汽 丙二醇 —— 將對皮膚和眼睛產(chǎn)生刺激 FC 3283 特殊流體 —— 溫度過高 , 就產(chǎn)生熱分解 ,進而有可能形成的有毒蒸汽或氣體。 電離 : 高電壓 /低電流沖擊 傳送機 測試機 在使用 Summit 傳送機處理系統(tǒng)時要倍加小心以防接觸電流。傳送帶和滑輪、傳送架、套子、安全護罩、以及其他組件也可能會引發(fā)最嚴重的傷害。 機械危險: 傳送機 測試機 轉(zhuǎn)動架與盤子組件包含具有巨大動力的機械裝置。 表 33 設(shè)備的危險能量 危險能量 能量源 說明 /結(jié)果 鋒利邊緣 所有設(shè)備 能造成劃傷 壓縮 氣體 傳送機 在 EMO 或互鎖處于激活狀態(tài)時 , 切記 OFA 供應(yīng)是不能進行的。將對眼睛產(chǎn)生刺激 成都電子機械高等專科學(xué)校 電子與電氣工程系畢業(yè)設(shè)計論文 16 設(shè)備的危險
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