【正文】 掃查探測(cè) (1)確定焊縫的位置： (2)掃查方式： 缺陷的判別 堆焊層超聲波探傷 堆焊層中常見(jiàn)缺陷 堆焊層晶體結(jié)構(gòu)特點(diǎn) 探傷方法 奧氏體不銹鋼焊縫超聲波探傷 組織特點(diǎn) 探測(cè)條件的選擇 儀器的調(diào)整與探測(cè) 鋁焊縫超聲波探傷 鋁焊縫特點(diǎn)與常見(jiàn)缺陷 探測(cè)條件的選擇 探傷準(zhǔn)備 缺陷的測(cè)定與評(píng)級(jí) 小徑管對(duì)接焊縫超聲波探傷 概述 探測(cè)條件的選擇 儀器的調(diào)整 掃查探測(cè)與缺陷判別 質(zhì)量評(píng)定 焊縫探傷中缺陷性質(zhì)與偽缺陷判別 缺陷性質(zhì)的估判 1）氣孔 2）夾渣 3）未焊透 4）未熔合 5）裂紋 6）咬邊反射 偽缺陷波的判別 1）儀器雜波 2）探頭雜波 3）耦合劑反射波 4）焊縫表面溝槽反射波 5）焊縫上下錯(cuò)位的反射波 6）其它偽缺陷波 。靈敏度要求同管座角焊縫。斜探頭探傷時(shí)，調(diào)整方法同平板對(duì)接焊縫。 (2)耦合劑： T型焊縫探傷中常用的耦合劑有機(jī)油、漿糊等。 翼板外探傷，常用斜探頭的折射角為 450。在腹板上探傷的探頭折射角根據(jù)腹板厚度來(lái)選擇，見(jiàn)表 。 探測(cè)條件的選擇 (1)探頭：采用直探頭探傷時(shí)，探頭的頻率為，探頭的晶片尺寸不宜過(guò)大。比較而言，外側(cè)一次波探測(cè)靈敏度較高，定位方便。 (3)采用斜探頭在翼板外側(cè)或內(nèi)側(cè)進(jìn)行探測(cè)，如圖中探頭位置 3。 (2)采用斜探頭在腹板上利用一、二次波進(jìn)行探測(cè)，如圖中探頭位置 2。 (2)靈敏度調(diào)整： Y型管節(jié)點(diǎn)焊縫探傷前，常用對(duì)比試塊或模擬試塊來(lái)測(cè)試距離－波幅曲線，如圖 所示。 儀器的調(diào)整 (1)時(shí)基線比例的調(diào)整：在 Y型管節(jié)點(diǎn)焊縫探傷中，一般采用聲程法調(diào)節(jié)儀器的時(shí)基線比例，不用深度法或水平法調(diào)整。 (3)耦合劑： Y型管節(jié)點(diǎn)焊縫探傷中，一般采用粘度較大的耦合劑，如黃油、漿糊等。 管節(jié)點(diǎn)焊縫的主支管材質(zhì)晶粒較小，為了提高探傷靈敏度和分辨力，宜選用較高的頻率，一般為 5MHz。又由于不同探測(cè)位置的截面曲率半徑不同，如圖 (b)所示，所以探頭斜契要修成與支管表面相吻合的曲面。即主支管軸線夾角 θ =900的 Y型。 管節(jié)點(diǎn)焊縫探傷 管節(jié)點(diǎn)焊縫的結(jié)構(gòu)與探傷方法 管節(jié)點(diǎn)焊縫的結(jié)構(gòu)型式有多種，歸結(jié)起來(lái)基本型式有 T型、 Y型和 K型等三種，如圖 。 對(duì)于不允許存在的缺陷應(yīng)予返修，返修后復(fù)探的部位向兩端各延伸 50mm。 敏度，而指示長(zhǎng)度大于或等于判廢長(zhǎng)度者。 ，如未熔合、裂紋等。且最小可為 10mm，但最大不超過(guò) 30mm。 (1)不允許存在下列缺陷 。 同深度的兩個(gè)相鄰缺陷間距小于其中較小者時(shí)作為同一缺陷處理，以各缺陷指示長(zhǎng)度之和作為該缺陷的指示長(zhǎng)度，若間距大于較小者時(shí)，則分別計(jì)算其長(zhǎng)度。 缺陷指示長(zhǎng)度：當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)時(shí)，用半波高度法測(cè)長(zhǎng)。 缺陷當(dāng)量大小：直探頭探傷時(shí)，可用當(dāng)量計(jì)算法或試塊比較法來(lái)確定。可見(jiàn) JB314482標(biāo)準(zhǔn)的評(píng)定線靈敏度高于JB/。 34 0 l g 72dB?φ△ ＝φ同距離處 φ 3與 φ 2平底孔的回波差為 : 所以， JB/ φ 2與φ 3－ 7dB相當(dāng)。 標(biāo) 準(zhǔn) GB1134589 JB473094 JB314482 A B C 評(píng)定線 (EL) φ 3 φ 2 φ 2 φ 2(φ 37 dB) φ 36dB 定量線 (SL) φ 4 φ 3 φ 3 φ 3 φ 3 判廢線 (RL) φ 6 φ 4 φ 6 φ 6 φ 6 JB/ 21確定 表 21 管座角焊縫直探頭距離－波幅曲線的靈敏度 評(píng)定線 定量線 判廢線 φ2mm平底孔 φ3mm平底孔 φ6mm平底孔 由表 21可知， JB/線、定量線及判廢線靈敏度與 GB1134589標(biāo)準(zhǔn) B級(jí)相同。 －波幅曲線 直探頭探傷時(shí)，平底孔距離－波幅曲線可在 CS1或CS2試塊上測(cè)試。直探頭探傷靈敏度要求不低于 φ 2平底孔。具體調(diào)整方法同鍛件探傷。斜探頭探測(cè)時(shí)，可利用 CSKⅠA 或 ⅡW2 試塊按聲程調(diào)整儀器時(shí)基線比例，是最大探測(cè)聲程位于儀器時(shí)基線后半部分。 表 曲面平底孔試塊 S、 b尺寸 S(mm) 100 125 150 175 b(mm) 50 50 60 60 斜探頭探傷用試塊同平板對(duì)接焊縫探傷。試塊材質(zhì)、曲率半徑、表面粗糙度同工件。探測(cè)面應(yīng)打磨使之平整光潔，表面粗糙度 Ra≤ μ m。 W ＜ 2R采用斜探頭探測(cè)時(shí)，探頭與工件接觸面尺寸應(yīng)滿足以下要求： 2Dab（ 或 ） ≤ () 式中 a―― 斜探頭接觸面長(zhǎng)度（周向探測(cè)）； B―― 斜探頭接觸面寬度（軸向探測(cè)）； D―― 探測(cè)面曲率直徑。為了實(shí)現(xiàn)較好的耦合，探頭的尺寸不宜過(guò)大。 (1)探頭：在管座角焊縫探傷中，探測(cè)頻率為 ～。對(duì)于直探頭掃查不到的區(qū)域，如安放式焊縫根部，需要另加斜探頭進(jìn)行探測(cè)。 (3)采用斜探頭在接管內(nèi)壁利用一次波探測(cè)，如圖中探頭位置 3?？刹捎靡韵聨追N方式探測(cè) (1)采用直探頭在容器筒體內(nèi)壁進(jìn)行探測(cè)，如圖中探頭位置 1。也可在接管外壁利用二次波探測(cè)，但后者靈敏度較低。 (2)采用斜探頭在容器筒體外壁利用一、二次波進(jìn)行探測(cè)，如圖中探頭位置 2。 插入式管座角焊縫是接管插入容器內(nèi)焊接而成，如圖，可采用以下幾種方式探測(cè)。 (3)位于 Ⅰ 區(qū)的非危害性缺陷評(píng)為 Ⅰ 級(jí)。 (1)焊縫中不允許存在以下缺陷： 1）反射波幅位于 Ⅲ 區(qū)者； 2）檢驗(yàn)人員判定為裂紋等危害缺陷者。 JB/ Ⅰ 、 Ⅱ 、Ⅲ 三級(jí)，其中 Ⅰ 級(jí)質(zhì)量最高， Ⅲ 級(jí)質(zhì)量最低。 (2)缺陷指示長(zhǎng)度小于 10mm時(shí)，按 5mm計(jì)。 JB115281與 GB1134589標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：當(dāng)相鄰兩缺陷間距≤ 8mm時(shí)，以兩缺陷指示長(zhǎng)度之和作為一個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度（不含間距）。當(dāng)缺陷位于 Ⅰ 區(qū)，如有必要，可用評(píng)定線作為絕對(duì)靈敏度測(cè)其指示長(zhǎng)度。 缺陷指示長(zhǎng)度的測(cè)定： JB115281與 JB/2022標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：當(dāng)缺陷只有一個(gè)高點(diǎn)時(shí)，用 6dB法測(cè)其指示長(zhǎng)度。 用一次波探傷發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí) df =nτf () lf = Kdf () 用二次波探傷發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí) df =2Tnτ f () lf =Knτ f () 缺陷大小的測(cè)定 探傷中發(fā)現(xiàn)位于定量線或定量線以上的缺陷要測(cè)定缺陷波的幅度和指示長(zhǎng)度。 當(dāng)儀器按深度 1： n調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)采用深度定位法來(lái)確定缺陷的位置。若儀器按水平 1： 1調(diào)節(jié)掃描速度，那么示波屏上缺陷前沿所對(duì)應(yīng)的水平刻度值 τ f就是缺陷的水平距離 lf。 用一次波探傷發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí) lf=sinβ =nτ fsinβ () df=xfcosβ =nτ fcosβ () 用二次波探傷發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí) lf=xfsinβ =nτ fsinβ () df=2Txfcosβ =2Tnτ fcosβ