河南超聲波檢測(cè)第五章(參考版)
2025-05-14 20:14本頁面
【正文】 主要用于發(fā)現(xiàn)單探頭法難以檢出的缺陷。與波束軸線平行的片狀缺陷難以檢出，當(dāng)缺陷與波束軸線傾斜時(shí)，則根據(jù)傾斜角度的大小，能夠收到部分反射波或者因反射波束全部反射在探頭之外而無法檢出。單探頭法操作方便，大多數(shù)缺陷可以檢出，是目前最常用的一種方法。但自動(dòng)檢測(cè)比較復(fù)雜，成本高，設(shè)備笨重，不易隨意移動(dòng)，多用于生產(chǎn)線上的自動(dòng)檢測(cè)，并且只能檢測(cè)形狀規(guī)則的工件。 ㈡ 自動(dòng)檢測(cè)法 用機(jī)械裝置持探頭自動(dòng)進(jìn)行檢測(cè)的方法，叫自動(dòng)檢測(cè)法。顯然，手工檢測(cè)比較經(jīng)濟(jì)，簡(jiǎn)單易行，所用設(shè)備不多，是一種常用的主要檢測(cè)法。 四、按操作方式分類 超聲波檢測(cè)方法按操作方式分有手工檢測(cè)法和自動(dòng)檢測(cè)法。主要用于薄板、薄壁管等形狀簡(jiǎn)單的試件檢測(cè)，板波充塞于整個(gè)試件，可以發(fā)現(xiàn)內(nèi)部的和表面的缺陷。 ㈣ 板波法 滿足一定入射條件的縱波，就可以在薄板型工件中產(chǎn)生板波。使用表面波進(jìn)行檢測(cè)的方法，稱為表面波法。 其它試件檢測(cè)時(shí)，則作為一種有效的輔助手段，用以發(fā)現(xiàn)垂直檢測(cè)法不易發(fā)現(xiàn)的缺陷。由于透入試件的橫波束與探測(cè)面成銳角，所以又稱斜射法。 ㈡ 橫波法 當(dāng)縱波的入射角大于第一臨界角而小于第二臨界角時(shí)，則在第二種介質(zhì)內(nèi)只有折射橫波。根據(jù)兩探頭相互傾斜的角度，使發(fā)現(xiàn)和接收的焦點(diǎn)落在離檢測(cè)面一定深度的位置上，使處于焦點(diǎn)處的缺陷波高最大，而其它位置的缺陷波高急劇降低。當(dāng)一個(gè)探頭發(fā)射的聲波入射角很小時(shí)，在工件內(nèi)主要產(chǎn)生折射縱波，用另一個(gè)探頭接
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