次離子質(zhì)譜simsppt課件(參考版)
2025-05-04 02:47本頁(yè)面
【正文】 vall et al. Analytical Chemistry, 2022,75: 34293434. 鑒別和定位生物樣品中的有機(jī)分子 ImprintImaging TOFSIMS SIMS應(yīng)用示例（二）： 藥物研究 Anna M. Belu et al., Biomaterials, 2022,24:36353653. SIMS還應(yīng)用于： 半導(dǎo)體及微電子領(lǐng)域：基體表面痕量雜質(zhì)分析 環(huán)境領(lǐng)域：大氣中微粒成分分析 地球及天體科學(xué)：地質(zhì)樣品 納米科學(xué)：納米材料的結(jié)構(gòu) …… ? 化學(xué)、物理學(xué)、生物學(xué)、材料科學(xué)、微電子、光電、冶金、地質(zhì)、礦物、醫(yī)藥等領(lǐng)域 。、 C60、 gold cluster…… SIMS—質(zhì)量分析器： ? 四極質(zhì)譜計(jì)（ Quadrupole Mass Spectrometer） ? 雙聚焦磁偏轉(zhuǎn)（ Double Focusing Magic Sector —QMS ）質(zhì)譜計(jì) ? 飛行時(shí)間（ Time of Flight—TOF）質(zhì)譜計(jì) 代表性的商品化 SIMS儀器： Quadrupole Based SIMS ? 德國(guó) ATOMIKA 4600 ? 美國(guó) Φ (PHYSICAL ELECTRONIC） ADEPT – 1010 Double Focusing Magic SIMS ? 法國(guó) CAMECA IMS 6f, 1270和 NANO 50 ? 澳大利亞國(guó)立大學(xué) SHRIMP RG TOF (TimeofFlight) SIMS ? 德國(guó) IONTOF GmbH TOFSIMS IV ? 美國(guó) Φ (PHYSICAL ELECTRONIC） TRIFT III Quadrupole Based SIMS Double Focusing Magic SIMS TOF (TimeofFlight) SIMS SIMS的發(fā)展 —離子探針 ? 又稱離子微探針質(zhì)量分析器（ Ion Microprobe Mass Analyzer—IMMA）或掃描離子顯微鏡（ SIM） SIMS的發(fā)展 —直接成像質(zhì)量分析器 ? Director Imaging Mass Analyzer(DIMA)，又稱成像質(zhì)譜儀（ Imaging Mass Spectrometer—IMS）或離子顯微鏡（ IM） SIMS的發(fā)展 —靜態(tài) SIMS和動(dòng)態(tài) SIMS ? Static SIMS amp。 Δ有機(jī) SIMS (利用產(chǎn)生的分子及分子碎片 ) Δ粒子誘導(dǎo)發(fā)射質(zhì)譜 2. SIMS最主要的優(yōu)缺點(diǎn)： 優(yōu)點(diǎn)：檢測(cè)靈敏度高 能分析化合物及有機(jī)大分子 缺點(diǎn)：定量差 識(shí)譜有一定難度 破壞性分析 理論不完整 SIMS—優(yōu)點(diǎn)： ? 一種 “ 軟電離 ” 技術(shù)，適于不揮發(fā)的熱不穩(wěn)定的有機(jī)大分子 ? 得到樣品表層真實(shí) 信息 ? 分析全部元素（同 位素） ? 實(shí)現(xiàn)微區(qū)面成分分 析和深度剖析 ? 靈敏度很高，動(dòng)態(tài) 范圍很寬 Secondary Ion Mass Spectroscopy (SIMS) ： 利用質(zhì)譜法分析初級(jí)離子入射靶面后，濺射產(chǎn)生的二次離子而獲取材料表面信息的一種
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