【正文】 學(xué)習(xí)參考。你必須努力，當(dāng)有一天驀然回首時，你的回憶里才會多一些色彩斑斕，少一些蒼白無力。4. 歲月是無情的，假如你丟給它的是一片空白，它還給你的也是一片空白。既糾結(jié)了自己，又打擾了別人。用一些事情，總會看清一些人。2. 若不是心寬似海，哪有人生風(fēng)平浪靜。)之間偏差之程度,稱為制程準(zhǔn)確度Ca,今我們可用下面方法將準(zhǔn)確度用數(shù)字表示出來，以利于評價偏差之程度制程能力指標(biāo)Ca平均值與規(guī)格中心值其間偏差的程度 平均值 － 規(guī)格中心值 Ｘ－μw Ca= = 規(guī)格公差 ／ ２ Ｔ／２ (雙邊規(guī)格時) (Ｔ= ＵＳＬ－ＬＳＬ)w Ca 愈小質(zhì)量愈好, Ca= 0 表示 平均值與規(guī)格中心完全一致 w 等級評定后之處置原則(Ca等級之處置)A級 作業(yè)員遵守作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)操作并達(dá)到規(guī)格之要求,須繼續(xù)維持B級 有必要盡可能將其改進(jìn)為A級C級 作業(yè)員可能看錯規(guī)格不按作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)操作或檢討規(guī)格及作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)D級 應(yīng)采取緊急措施全面檢討所有可能影響之因素,必要時得停止生產(chǎn) 以上僅是些基本原則, 在一般應(yīng)用上, Ca如果不良時, 其對策方法是制造單位為主, 技術(shù)單位為副, 品管單位為輔制程能力指標(biāo) Cp規(guī)格公差范圍與制程變異寬度兩者之間相差的程度 規(guī)格公差 Ｔ w Cp= = (雙邊規(guī)格時) 6 倍標(biāo)準(zhǔn)差 ６σ 規(guī)格上限－平均值 ＵＳＬ－Ｘ w Cp= = (單邊規(guī)格時) 3 倍標(biāo)準(zhǔn)差 3σ 平均值－規(guī)格下限 Ｘ－ＬＳＬ 或 Cp= = 3 倍標(biāo)準(zhǔn)差 3σw Cp 愈大質(zhì)量愈好, 表示制程的變異寬度愈小于規(guī)格公差(4) 等級評定后之處置原則(Cp等級之處置) A級 此一制程甚為穩(wěn)定, 可以將規(guī)格許容差縮小或勝任更精密之工作 B級 有發(fā)生不良品之危險, 必須加以注意, 并設(shè)法維持不要使其變壞及迅速追查 C級 檢討規(guī)格及作業(yè)標(biāo)準(zhǔn), 可能本制程不能勝任如此精密之工作 D級 應(yīng)采取緊急措施, 全面檢討所有可能影響之因素, 必要時應(yīng)停止生產(chǎn)以上也是與Ca一樣, 僅是一些基本原則, 在一般上Cp如果不良時其對策方法是技術(shù)單位為主, 制造單位為副, 品管單位為輔3》綜合評價(不良率P) 某制程生產(chǎn)實(shí)績是否達(dá)到規(guī)格之要求, 是要Ca及Cp均很好, 因?yàn)橛袝rCa雖很好但Cp不好, 結(jié)果實(shí)績也會有很多落規(guī)格外或是Cp很好, 但Ca很差時那也有很高之不良率之可能, 總評就是用Ca及Cp對整個制程質(zhì)量之綜合評價Cpk 制程能力指數(shù)(總合指數(shù))(1) Cpk是總合 Ca(k) 和 Cp 二值之指數(shù) 其計(jì)算式為設(shè) k =|X181。單位產(chǎn)品不合格數(shù)0．70．60．50．40．30．20．10UCL=u=子組號2 4 6 8 10 12 14 圖10 表9數(shù)據(jù)的u圖管制圖之判讀法 :w Nelson 8個法則 : (1984,1985) w (1) 一點(diǎn)落在A區(qū)以外w (2) 連續(xù)九點(diǎn)在C區(qū)或C區(qū)以外w (3) 連續(xù)六點(diǎn)持續(xù)地上升或下降w (4) 連續(xù)十四點(diǎn)交互著上下跳動w (5) 連續(xù)三點(diǎn)有兩點(diǎn)落在A區(qū)或A區(qū)以外w (6) 連續(xù)五點(diǎn)有四點(diǎn)落在B區(qū)或B區(qū)以外w (7) 連續(xù)十五點(diǎn)在管制中心在線下兩側(cè)之C區(qū)w (8) 連續(xù)八點(diǎn)在管制中心兩側(cè)但無點(diǎn)在C區(qū)制程準(zhǔn)確度Ca(Capability of accuracy)2. 制程能力評價方法 / 處理原則欲判斷一群體質(zhì)量好壞，可依據(jù)下幾項(xiàng)數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)來進(jìn)行，諸如：(一)為平均數(shù)代表其集中趨勢(二)為標(biāo)準(zhǔn)差代表其離中趨勢 (三)為超出規(guī)格之不良率 (四)為集中趨勢與離中趨勢之總合指數(shù)，制程能力評價也就是從這四方面來評價制程準(zhǔn)確度 Ca (capability of accuracy) : 各制程之規(guī)格中心值設(shè)定之目的，就是希望各工程制造出來之各個產(chǎn)品之實(shí)績值能以規(guī)格中心為中心，呈左右對稱之常態(tài)分配而制造時，也應(yīng)以規(guī)格中心值為目標(biāo)。此控制圖表明過程處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)。用總不合格數(shù)（表9 中c值行）除以被檢產(chǎn)品總數(shù)（如1415）：（由于下控制限不可能為負(fù)數(shù)，故不標(biāo)出下控制限。表9 給出了有關(guān)數(shù)據(jù)。）九、u圖[例7] 在某輪胎生產(chǎn)廠，每半小時抽檢15個輪胎，記錄下總不合格數(shù)和單位產(chǎn)品不合格數(shù)。表8 錄像帶的預(yù)備數(shù)據(jù)下面計(jì)算中心線和控制限，并將結(jié)果標(biāo)繪于圖9 中。為了控制該生產(chǎn)過程，打算用c圖點(diǎn)繪不合格疵點(diǎn)數(shù)。錄像帶按4000m的長度生產(chǎn)，連續(xù)對來自某個過程的20卷錄像帶（每卷長350m）進(jìn)行表面檢查，得出不合格疵點(diǎn)數(shù)的數(shù)據(jù)。于是，修正后的P圖控制線計(jì)算如下：由于LCL不可能為負(fù)數(shù)，故不標(biāo)出。正如上面所提及的，對子組大小各異的每個子組標(biāo)繪其上、下控制限的是費(fèi)時而枯燥的過程。因此，修正后的P值就可作為建立控制圖的標(biāo)準(zhǔn)不合格品率。應(yīng)當(dāng)將這兩個子組從數(shù)據(jù)據(jù)中剔除，并及時查找導(dǎo)致這兩組數(shù)據(jù)值偏大的原因，以便采取糾正措施防止其再次發(fā)生?？梢钥闯?，為每個子組標(biāo)繪其UCL和LCL是相當(dāng)耗時的工作。月平均不合格率計(jì)算如下：由于子組大小各不相同，故對每個子組根據(jù)下式分別計(jì)算其UCL和LCL：式中：ni為子組大小。數(shù)據(jù)如表7 所示。已經(jīng)收集和分析了1個月的數(shù)據(jù)。例如不點(diǎn)繪p值，而改為點(diǎn)繪標(biāo)準(zhǔn)化Zi值，當(dāng)給定標(biāo)準(zhǔn)值p0時：（公式四）而當(dāng)未給定標(biāo)準(zhǔn)時： （公式五）這樣，中心線和控制線與ni無關(guān)，即： UCL =3CL =0LCL =3 （公式六）后一種方法與國內(nèi)所用的通用控制圖在指導(dǎo)思想和結(jié)果的表達(dá)形式上是一致的。實(shí)際上，當(dāng)ni變化在其目標(biāo)值20%以內(nèi)，可采用該方法。于是P控制圖的控制線為：（公式二）（二） 關(guān)于ni的兩點(diǎn)說明（1） 公式一中，若每個子組大小ni都相等，將其記為n，若P0（給定標(biāo)準(zhǔn)值）或p（未給定標(biāo)準(zhǔn)值）很小，則要選樣本量充分大，使得每個子組平均有一個不合格品，通常取（公式三）（2） 公式一中，若ni不全相等，則p控制圖的LCLp和UCLp是凹凸?fàn)睿瑢Υ薌B/T40912001給出兩種解決方法。p圖的統(tǒng)計(jì)基礎(chǔ)是二項(xiàng)分布。中位數(shù)控制圖：CL = Me =UCL = Me+A4R=+（）=LCL