【正文】 2024年10月21日星期一3時6分50秒Monday, October 21, 2024 愛情，親情，友情，讓人無法割舍。上午3時6分50秒上午3時6分03:06:5024.10.21 每天都是美好的一天，新的一天開啟。2024年10月上午3時6分24.10.2103:06October 21, 2024 這些年的努力就為了得到相應(yīng)的回報。2024年10月21日上午3時6分24.10.2124.10.21 精益求精，追求卓越，因為相信而偉大。03:06:5003:06:5003:06Monday, October 21, 2024 安全放在第一位，防微杜漸。03:06:5003:06:5003:0610/21/2024 3:06:50 AM 做一枚螺絲釘，那里需要那里上。 3 u / n 844 過程控制解釋（同P管制圖） 845 過程能力解釋 過程能力為 u,?,生活中的辛苦阻撓不了我對生活的熱愛。 3 u / n 式中：n 為平均樣本容量。C和n都應(yīng) 記錄在數(shù)據(jù)表中。 833 計算控制限 8331 計算過程不合格數(shù)均值（C）： C = (C1+C2+…+Ck) / K 式中：C1, C2, …Ck為每個子組內(nèi)的缺陷數(shù) 8331 計算控制限 U/LSLc= C177。 832 數(shù)據(jù)的收據(jù) 8321 檢驗樣本的容量（零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度 等）要求相同，這樣描繪的C值將反映質(zhì)量性能的變化而 不是外觀的變化，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。 8231 計算上下控制限 USLnp=np + 3 np(1p) LSLnp=np 3 np(1p) p 為過程不良品率 , n 為子組的樣本容量。 8222 記錄表上記錄樣本的容量。 8212 各階段子組的樣本容量相同。 8133 重新計算控制限 初次研究，應(yīng)排除有變差的子組，重新計算控制限。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（明顯偏離均值的值已被調(diào)換或刪除） d 如果顯著少余2/3以上的描點落在離均值很近之處（對于25 子組，如果只有40%的點落在控制限的1/3區(qū)域）則應(yīng)對下列 情況的一種或更多進行調(diào)查： 控制限或描點計算錯描錯,?, 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個 不同平均性能的過程流的測量 8132 尋找并糾正特殊原因 當有任何變差時，應(yīng)立即進行分析，以便識別條件并防止 再發(fā)生，由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的， 希望操作者和檢驗員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。,?,b 一般情況，各點與均值的距離：大約2/3的描點應(yīng)落在控制 限的中間1/3的區(qū)域內(nèi)，大約1/3的點落在其外的2/3的區(qū)域。,?, 測量系統(tǒng)的改變（如新的檢驗人或新的量具 過程性能已惡化 b 低于均值的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： 過程性能已改進 測量系統(tǒng)的改好 注：當 np 很小時（5以下），出現(xiàn)低于 P 的鏈的可能性增加， 因此有必要用長度為8點或更多的點的長鏈作為不合格 品率降低的標志。 測量系統(tǒng)已改變或過程性能已改進。 過程惡化。 81311 超出控制限的點 a 超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種 或幾種： 控制限計算錯誤或描點時描錯 。 (初始研究時，這些被認為是試驗控制限。 3 P ( 1 – P ) / n = P 177。 B、分別找出樣本容量超出該范圍的所有子組和沒有超出該范圍 的子組。方法如下： A、確定可能超出其平均值 177。 812 計算控制限 8121 計算過程平均不合格品率（P） P=（n1p1+n2p2+…+nkpk）/ (n1+n2+…+nk),?,式中： n1p1；nkpk 分別為每個子組內(nèi)的不合格的數(shù)目 n1；nk為每個子組的檢驗總數(shù) 8122 計算上下控制限（USL；LSL） USLp = P + 3 P ( 1– P ) / n LSLp = P – 3 P ( 1– P ) / n P 為平均不良率；n 為恒定的樣本容量 注： 從上述公式看出，凡是各組容量不一樣，控制限隨之 變化。 8114 將不合格品率描繪在控制圖上 a 描點，連成線來發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。 8112 計算每個子組內(nèi)的不合格品率（P） P=np /n,?,n為每組檢驗的產(chǎn)品的數(shù)量；np為每組發(fā)現(xiàn)的不良品的數(shù)量。 子組數(shù)量：收集的時間足夠長，使得可以找到所有可能影響 過程的變差源。 811 收集數(shù)據(jù) 8111 選擇子組的容量、頻率和數(shù)量 子組容量：子組容量足夠大（最好能恒定），并包括幾個不 合格品。見下表： 注： 只有過程受控，才可直接用δ的估計值來評價過程能力。,?,3 計算控制限 X=（X1+X2+…+Xk）/ K R= (MR1+MR2+…+MRk)/ (K1) USLMR=D4R LSLMR=D3R USLX=X+E2R LSLX=XE2R,?,注：式中 R 為移動極差，X 是過程均值，DD3 、E2是隨樣本 容量變化的常數(shù)。 b 單值的最大值與最小值之差的1.5到2倍。 22 計算單值間的移動極差（MR），通常是記錄每對連續(xù)讀數(shù)間 的差值 。,?,單值和移動極差圖（X—MR）,用途 測量費用很大時，（例如破壞性實驗）或是當任何時刻點的輸出 性質(zhì)比較一致時（例如：化學溶液的PH值）。 55 標中位數(shù),?,操作者將每個子組的中位數(shù)圈出，并標注任何一個超出控制限 的中位數(shù)。 53 描點 操作者將每個單值的點標在中位數(shù)圖上。,?,中位數(shù)圖的替代方法 在已確定了中位數(shù)圖的控制限后，可以利用以下方法將中位數(shù)圖的制作過程簡化： 51 確定圖樣 使用一個其刻度值的增量與所使用的量具的刻度值一樣的圖 （在產(chǎn)品規(guī)范值內(nèi)至少有20個刻度值），并劃上中位數(shù)的中心線和控制限。 32 畫一個窄的垂直框標注超過極差控制限的子組。 14 將每個子組的中位數(shù)?X和極差R填入數(shù)據(jù)表. 2 控制限的計算,?,?,21 計算子組中位數(shù)的均值，并在圖上畫上這條線作為中位線， 將其記為?X ； 22 計算極差的平均值，記為R； 23 計算極差和中位數(shù)的上下控制限 ： USLR=D4R USL X = X + A2 R LSLR=D3R LSL X = X A2 R 式中：DD4 和 A2 是隨樣本容量變化的常數(shù)，見下表：,?,?,?,?,?,?,?,?,?,注：對于樣本容量小于7時，沒有極差的控制下限。 c 刻度應(yīng)與量具一致。 15 過程能力評價（同 XR 圖的 43）,?,?,中位數(shù)極差圖（X R）,中位數(shù)圖易于使用和計算，但統(tǒng)計結(jié)果不精確 可用來對幾個過程的輸出或一個過程的不同階段的輸出進行比較 數(shù)據(jù)的收集 11 一般情況，中位數(shù)圖用于子組的樣本容量小于或等于10的情況， 當子組樣本容量為偶數(shù)時，中位數(shù)是中間兩個數(shù)的均值。 13 過程控制的分析（同XR） 14 過程能力的分析（同XR） 估計過程標準差： σ = S / C4= σ S / C4,?,?,?,式中：S 是樣本標準差的均值（標準差受控時的），