【摘要】2011年紹興文理學(xué)院校大學(xué)生電子設(shè)計競賽數(shù)字集成電路測試儀參賽組別小組成員2011年6月5日目錄一、任務(wù) 2二、方案設(shè)計與論證比較 2 2 3 3 3三
2025-03-28 05:04
【摘要】目錄簡易數(shù)字集成電路測試儀的設(shè)計與實現(xiàn)畢業(yè)論文目錄摘要 IABSTRACT III1緒論 1課題的研究背景及意義 1國內(nèi)外數(shù)字電路測試系統(tǒng)現(xiàn)狀 1本設(shè)計所要解決的主要問題 3研究內(nèi)容和章節(jié)安排 32測試儀的總體方案 5測試儀的方案選擇 5總體方案構(gòu)成 6硬件組成 7軟件任務(wù) 73硬件系統(tǒng)設(shè)計 9
2025-07-30 07:17
【摘要】一種數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)的設(shè)計隨著數(shù)字集成電路的廣泛應(yīng)用,測試系統(tǒng)就顯得越來越重要。在網(wǎng)絡(luò)化集成電路可靠性試驗及測試系統(tǒng)項目中,需要檢驗?zāi)承┚哂袑掚娖椒秶能娪脭?shù)字集成電路芯片,而市場上常見的中小型測試系統(tǒng)可測電平范圍達不到要求,而大型測試系統(tǒng)價格昂貴。本文介紹了為此項目研制的一種數(shù)字集成電路測試系統(tǒng),可測電平范圍達±32V,使用方便,且成本較低。測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)及工
2025-03-28 02:55
【摘要】數(shù)字集成電路設(shè)計實驗報告數(shù)字集成電路設(shè)計實驗指導(dǎo)該實驗分為三個階段:階段一、行為設(shè)計和行為仿真(HDL)實驗1:用數(shù)字集成電路設(shè)計方法設(shè)計一個帶有異步清零端的四位2進制計數(shù)器任務(wù):設(shè)計該四位2進制計數(shù)器的verilog源程序并進行功能仿真,要求有編寫好的源程序及仿真波形圖。可使用QuartusII或Cadence設(shè)計軟件進行
2025-08-07 01:36
【摘要】《電子線路》配套多媒體CAI課件電子教案第15章數(shù)字集成電路應(yīng)用舉例教學(xué)重點:1.掌握比較器的工作原理。2.了解數(shù)據(jù)選擇器工作原理。3.掌握555時基電路的功能,了解555時基電路的應(yīng)用。4.了解各種集成電路的接口電路。教學(xué)難點:1.555時基集成電路的應(yīng)用。2.集成電路的接口電路。學(xué)時分配:序號內(nèi)容學(xué)時1比較器
2025-06-26 18:31
【摘要】CMOS集成電路設(shè)計基礎(chǔ)-數(shù)字集成電路基礎(chǔ)對邏輯門的基本要求1)魯棒性(用靜態(tài)或穩(wěn)態(tài)行為來表示)靜態(tài)特性常常用電壓傳輸特性(VTC)來表示即輸出與輸入的關(guān)系),傳輸特性上具有一些重要的特征點。邏輯門的功能會因制造過程的差異而偏離設(shè)計的期望值。(2)噪聲容限:芯片內(nèi)外的噪聲會使電路的響應(yīng)偏離設(shè)計的期望值(電感、電容耦合,電源
2025-07-18 18:10
【摘要】第三章、器件一、超深亞微米工藝條件下MOS管主要二階效應(yīng):1、速度飽和效應(yīng):主要出現(xiàn)在短溝道NMOS管,PMOS速度飽和效應(yīng)不顯著。主要原因是太大。在溝道電場強度不高時載流子速度正比于電場強度(),即載流子遷移率是常數(shù)。但在電場強度很高時載流子的速度將由于散射效應(yīng)而趨于飽和,不再隨電場強度的增加而線性增加。此時近似表達式為:(),(),出現(xiàn)飽和速度時的漏源電壓是一個常數(shù)。線性區(qū)的電流公式
2025-06-28 07:21
【摘要】集成電路設(shè)計基礎(chǔ)第十章基本數(shù)字集成電路設(shè)計(補充)華南理工大學(xué)電子與信息學(xué)院廣州集成電路設(shè)計中心殷瑞祥教授基本數(shù)字集成電路設(shè)計(補充)?靜態(tài)傳輸邏輯設(shè)計?靜態(tài)恢復(fù)邏輯設(shè)計?動態(tài)恢復(fù)邏輯設(shè)計?時序電路設(shè)計基礎(chǔ)第十章基本數(shù)字集成電路設(shè)計(補充)CMOS靜態(tài)傳輸邏輯設(shè)計
2025-01-11 14:24
【摘要】集成電路設(shè)計考點1.填空題1.NML和NMH的概念,熱電勢,D觸發(fā)器,D鎖存器,施密特觸發(fā)器。低電平噪聲容限:VIL-VOL高電平噪聲容限:VOH-VIH這一容限值應(yīng)該大于零?熱電勢:兩種不同的金屬相互接觸時,其接觸端與非接觸端的溫度若不相等,則在兩種金屬之間產(chǎn)生電位差稱為熱電勢。??2.MOS晶體管動態(tài)響應(yīng)與什么有關(guān)
【摘要】常用數(shù)字集成電路引腳圖74LS51雙與或非門74LS112雙J-K下降沿觸發(fā)器74LS126三態(tài)緩沖器
2025-06-27 19:41
【摘要】北華大學(xué)畢業(yè)設(shè)計(論文)摘要隨著數(shù)字集成電路日益廣泛的應(yīng)用,其相關(guān)的測試技術(shù)也顯得愈發(fā)重要。為了保證數(shù)字集成電路的功能和性能參數(shù)符合技術(shù)要求,在集成電路的設(shè)計驗證、產(chǎn)品檢驗以及現(xiàn)場維護等方面都需要對集成電路進行測試。而測試設(shè)備是必不可少的工具,因此研究它們的測試技術(shù)和開發(fā)測試設(shè)備具有重要的意義。本文所設(shè)計的集成電路測試儀采用MCS-51單片機為核心,構(gòu)建數(shù)字集成電路的測試儀器
2025-06-30 22:36
【摘要】1第7章組合邏輯電路P90集成電路設(shè)計系列2本章概要?概述?靜態(tài)CMOS電路?鏡像電路?C2MOS?準(zhǔn)nMOS電路?動態(tài)CMOS電路?多米諾邏輯?雙軌邏輯電路?CMOS邏輯電路的比較?多路選擇器?二進制譯碼器?優(yōu)先權(quán)譯碼器3
2024-08-26 23:59
【摘要】2022/5/271第九章數(shù)字集成電路基本單元與版圖TTL基本電路CMOS基本門電路及版圖實現(xiàn)數(shù)字電路標(biāo)準(zhǔn)單元庫設(shè)計焊盤輸入輸出單元了解CMOS存儲器2022/5/272TTL基本電路圖TTL反相器的基本電路Rb1T1T2T
2025-05-16 02:03
【摘要】第二章CMOS數(shù)字集成電路引言集成電路的主要生產(chǎn)工藝?晶片準(zhǔn)備?制版?光刻工藝?氧化工藝?淀積?腐蝕
2025-05-08 12:05
【摘要】數(shù)字集成電路驗證方法學(xué)浙江大學(xué)ICLAB實驗室2022-12-26主要內(nèi)容?驗證的必要性?驗證方法學(xué)介紹?驗證工具介紹?演示2共91頁主要內(nèi)容?驗證的必要性?驗證方法學(xué)介紹?驗證工具介紹?演示3共91頁驗證的必要性?驗證的概念,驗證與測試
2025-07-22 17:39