[管理學(xué)]統(tǒng)計(jì)制程管制作業(yè)員講義版(參考版)
2024-10-22 02:08本頁面
【正文】 D. 計(jì)算平均不良率 二、不良率管制圖 (p管制圖 ) World Class Quality Unimicron 40 前次投影片 E. 計(jì)算管制界限 : (一 ). 當(dāng)製程中母體不良率 p未知 則管制界限如下： 情形一 :每組樣本大小 n 均相等 時(shí) (設(shè)有 m組 ) 中心線 : mppmii???1管制上限 : pp pn??31( )管制下限 : pp pn??31( )(若管制下限 0,則設(shè)為 0) World Class Quality Unimicron 41 前次投影片 例四、 OQC 在測試站抽樣檢驗(yàn)，得到下列檢驗(yàn)結(jié)果， 請用下表之資料，點(diǎn)繪一不良率管制圖 組號 n d p 組號 n d p 1 100 3 16 100 3 2 100 4 17 100 6 3 100 3 18 100 2 4 100 8 19 100 7 5 100 5 20 100 5 6 100 5 21 100 5 7 100 7 22 100 8 8 100 6 23 100 4 9 100 5 24 100 5 10 100 6 25 100 4 11 100 3 12 100 6 13 100 8 14 100 5 合計(jì) 2500 125 15 100 2 平均 100 5 World Class Quality Unimicron 42 前次投影片 [解 ]： 1. 計(jì)算管制中心線及上下界限 0n)p(1p3p%n)p(1p3+p=%2 5 00125=p??????管制下限管制上限中心線不良率管制圖 2. 點(diǎn)繪管制圖 World Class Quality Unimicron 43 前次投影片 第三單元 總結(jié) A2: P30~35. A1: (1)XR: 適用於小樣本數(shù) , 即 1n=10. (2)XS: 樣本數(shù)不論大小皆可使用 . (但樣本數(shù)大於 10,則必頇使用此管制圖 ) _ _ ? _ _ 1. XR Chart與 XS Chart 使用時(shí)機(jī)有何不同 ? 。 C. 分組 通常皆以一定時(shí)間之產(chǎn)品為一組、或以每批產(chǎn)品為一組、或以每天產(chǎn)品為一組，每組樣本之大小是依平均不良率來決定， 並使每組樣本內(nèi)含有 1至 5個(gè)不良品為佳，亦即 n=25~100。 失控 World Class Quality Unimicron 39 前次投影片 ▼ 建立不良率管制圖之步驟 A. 選擇管制項(xiàng)目 選擇適合使用不良率管制圖之品質(zhì)特性。他從生產(chǎn)線上 收集到 15組 (每組樣本數(shù)目大小為 3,即 n=3),線寬量測數(shù)據(jù)如下， 請利用此筆量測數(shù)據(jù)繪製解析用之平均值與全距管制圖並判讀製程 是否失控。 b. X管制圖上有點(diǎn)超出管制界限時(shí) ， 則表示製程平均發(fā)生變化或 變異增大 。 c. R管制圖上有點(diǎn)超出管制界限時(shí) ，則表示 製程變異增大 。如有點(diǎn)超出管制界限時(shí)，則判定製程有不正常原因侵入。 X XM. 點(diǎn)圖 將 F及 G兩節(jié)中所計(jì)算得之 X及 R 數(shù)據(jù)，點(diǎn)繪在適當(dāng)位置，並在相鄰兩點(diǎn)間以直線連接之。 World Class Quality Unimicron 33 前次投影片 管制界限的係數(shù)表 World Class Quality Unimicron 34 前次投影片 L. 繪製管制界限 管制圖在上， R 管制圖在下，按習(xí)慣一般 圖之寬度較 R 圖為大。 I. 計(jì)算 全距之平均值 :Ｒ 。 H. 計(jì)算 總平均值 :Ｘ 。 G. 計(jì)算各組數(shù)據(jù)之 全距 :Ｒ 。 分組法與層別有關(guān) ， 普通按時(shí)間順序或測定順序分組 ， 使組內(nèi)不含不同性質(zhì)數(shù)據(jù) ， 並使 n=2~5之間 ，k=15~20 之間最為適當(dāng) 。 D. 數(shù)據(jù)之 分組 每組所含之?dāng)?shù)據(jù)個(gè)數(shù)稱為 樣本大小 (sample size)， 以 n表示 。 World Class Quality Unimicron 31 前次投影片 B. 搜集 數(shù)據(jù) 蒐集最近之?dāng)?shù)據(jù) 100個(gè)以上 ，對這些數(shù)據(jù)之來源應(yīng)充分瞭解，並希望以後之製造工程，其情況需與蒐集數(shù)據(jù)時(shí)相同。 3 2 World Class Quality Unimicron 28 前次投影片 A3: XR, XS, XR, XRm ~ _ _ XR, XS, XRm _ _ A2: 計(jì)量 ,計(jì)數(shù) A1:中心線 (CL),管制上限 (UCL),管制下限 (LCL) A4: p, np, c, u p, c ? : – 依數(shù)據(jù)型態(tài)分為那兩種 ? ? 常用的是那幾種 ? ? 常用的是那幾種 ? 第二單元 總結(jié) World Class Quality Unimicron 29 前次投影片 第二單元 總結(jié) A6:管制圖中心線之兩側(cè) A6:管制圖中心線之同一側(cè) A5:P23 A7:P24 2項(xiàng) ? ? ? 區(qū)間測試用於 ? 連串測試用於 ? World Class Quality Unimicron 30 前次投影片 ● 適用情況 適用於 小樣本數(shù) ， 即樣本數(shù)小於或等於 10 (註：樣本數(shù)大於 10時(shí)， 則必頇使用 X S 管制圖 )。 上述法則有一成立時(shí) ， 則判斷 製程失控 。 有 十四點(diǎn) 落在管制中心的同一側(cè) 。 有 十點(diǎn) 落在管制中心的同一側(cè) 。請對此管制圖進(jìn)行判讀，也就是說，判斷出這個(gè)管制圖是否有出現(xiàn)製程失控？
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