xps儀器及基礎(chǔ)分析講義(參考版)
2025-05-18 22:44本頁面
【正文】 Fe— Cr— Ni合金以及在鋼中注入 N＋ 離子和加入稀土原子等． ? 深度剖析不僅能給出元素的深度分布，同時(shí)也能給出某一元素的化學(xué)狀態(tài)隨深度變化的情況．這種情況能反映出一些鈍化膜主要成分的性質(zhì)與抗腐能力的關(guān)系． ? 下面以 A1— Cu合金材料表畫鈍化膜的深度剖析研究為例，介紹一下 XPS深度剖析在合金材料表面膜深度剖析中的應(yīng)用 . 525 530 535 540 54525003000350040004500500055006000圖－ 13 零時(shí)刻氧的 x ps 圖 Y intensityX bonding B525 530 535 540 5452600280030003200340036003800圖－ 14 600s 時(shí)氧的 x ps 圖Y intensityX bonding C525 530 535 540 545260028003000320034003600圖－ 15 1110s 時(shí)氧的 x ps 圖Y intensiyty X bonding D525 530 535 540 5452400260028003000320034003600圖 16 2400s 時(shí)氧的 x ps 能譜 圖Y intensity X bonding E0時(shí)刻的 XPS圖 600S時(shí)刻的 XPS圖 1100S時(shí)刻的 XPS圖 2400S時(shí)刻的 XPS圖 0 500 1000 1500 2021 25001234567圖 16 鍍件從表 面到基體 過 程 中氧含量的變化圖原子數(shù)百分比（%）時(shí)間（ s ）幾種最新的 XPS儀器 X射線光電子能譜儀 產(chǎn)品編號(hào)： C12082 產(chǎn)品型號(hào)： JPS9200 原產(chǎn)地： 日本 多功能 X射線光電子譜 (XPS/ESCA) 產(chǎn)地：日本 X射線光電子能譜儀 產(chǎn)地：英國(guó) XPS,UPS和 AES測(cè)定方法比較 名稱 樣品處理 樣品狀態(tài) 所得信息 不能分析元素 XPS 非破壞 固 .液 .氣 表面化學(xué)組成及定量 ,表面電子結(jié)構(gòu)和化學(xué)鍵特征 H, He UPS 非破壞 氣 .固 .液 表面化學(xué)組成 ,吸附分子的取向 ,表面原子成鍵
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