【正文】 注：如果某些子組的樣本容量與平均樣本容量的差超過正負(fù) 25%，按下式重新計(jì)算其準(zhǔn)確的控制限： 10. 單位 不合格（缺陷）數(shù)的 u圖 U/LSLu = u 177。 3 C 過程控制解釋（同 P管制圖） 過程能力解釋 固定樣本容量為 n 的過程能力為其不合格數(shù)的平均值 c. 9 不合格 （缺陷）數(shù)的 c 圖 使用的時(shí)機(jī) u圖用來測(cè)量具有不同的樣本（受檢材料的量不同）的子組 內(nèi)每檢驗(yàn)單位產(chǎn)品之內(nèi)的不合格數(shù)量（可以用 不良率 表示） . 數(shù)據(jù)的收集 各子組樣本容量彼此不必都相同，盡量使它的容量在其平 均值的正負(fù)擔(dān)過重 25%以內(nèi)，可以簡化控制限的計(jì)算 . 記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的單位產(chǎn)品不合格數(shù)（ u） u=c / n 式中 : C為發(fā)現(xiàn)的不合格數(shù)量， n為子組中樣本的容量。 824 過程控制解釋和過程能力解釋 同 p管制圖 8 不合格品 數(shù)的 np 圖 采用時(shí)機(jī) C圖用來測(cè)量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的不合格（的缺陷）的數(shù)量， C圖 要求樣本的容量恒定或受檢驗(yàn)材料的數(shù)量恒定，主要用于以下兩 類檢驗(yàn)： 不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上（如：每條尼龍上的瑕疵，玻 璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點(diǎn)），以及可以用不合格的 平均比率表示的地方（如 100平方米上的缺陷） 在單個(gè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)中可能發(fā)現(xiàn)不同原因造成的不合格。 數(shù)據(jù)的收集（基本和 p 圖相同） 受檢驗(yàn)的樣本的容量必須相同，樣本容量足夠大使每個(gè)子組 內(nèi)都有幾個(gè)不良品并在。 C、 按上式分別計(jì)算樣本容量為 n 和 n 時(shí)的點(diǎn)的控制限 . UCL,LCL = P 177。 在實(shí)際運(yùn)用中 ， 當(dāng)各組容量不超過其平均容量 25%時(shí) ， 7 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 可用平均樣本容量 n 代替 n 來計(jì)算控制限 USL； LSL。 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 一般不良品率為縱坐標(biāo) ， 子組別 （ 小時(shí) /天 ） 作為橫坐標(biāo) ,縱坐標(biāo)的刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀讀數(shù)中最大的不合格率值的 到 2倍 。 分組頻率： 根據(jù)實(shí)際情況，兼大容量和信息反饋快的要求。 6 單值和移動(dòng)極差圖（ X— MR） 式中： R 為移動(dòng)極差的均值， d2是隨樣本容量變化的常數(shù)。 b 單值的最大值與最小值之差的 2倍 。 62 5 過程能力分析 單值和移動(dòng)極差圖（ X—MR） 用途 測(cè)量費(fèi)用很大時(shí)，（例如破壞性實(shí)驗(yàn)）或是當(dāng)任何時(shí)刻點(diǎn)的輸出 性質(zhì)比較一致時(shí)（例如：化學(xué)溶液的 PH值）。 ? ，用于建立經(jīng)濟(jì)控制界限。 過程 能力分析之用途 ? ，使其能盡量利用目前之過程能力，以設(shè)計(jì) ? 新產(chǎn)品。 b 對(duì)于雙邊容差，根據(jù) Zusl 和 Zlsl 的值查標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表，分別算出 Pzusl 和 Pzlsl 的百分比，再將其相加。 過程能力 計(jì)算 對(duì)于雙向容差，計(jì)算： Zusl=(USLX) / σ Zlsl=(XLSL) / σ Z=Min{ Zusl。 過程能力重要概念 要注意的是 所有的能力評(píng)審都是針對(duì)單個(gè)過程特性的，千萬不要把幾個(gè)過程的能力結(jié)果合成平均為一個(gè)指數(shù)。 量度的意義 －－性能指數(shù)、能力指數(shù) CpL、 CpU以及 Cpk C p L = (xLSL)/3ζ, 對(duì)單邊下規(guī)格限 C p U = (USLX)/3ζ, 對(duì)單邊上規(guī)格限 產(chǎn)品的規(guī)格：下規(guī)格線 LSL，上規(guī)格線 USL 規(guī)格中心（目標(biāo)值）： M=（ LSL+USL） /2 過程能力指數(shù) ? ? ? CPK＝ T2ε／ 6σ ε＝（ Tu＋ Tl）／ 2X 雙側(cè)偏差 TU X M TL ε －－性能指數(shù)、能力指數(shù) 量度的意義 過程能力評(píng)定 Cp 值 等級(jí) Cp 特級(jí) 精度過高 , 可作必要調(diào)整 CP 一級(jí) 精度稍高 , 允許一定外來波動(dòng) CP 二級(jí) 精度尚可 , 需對(duì)過程密切注意 CP 三級(jí) 精度不足 , 廢次品率偏高 CP 四級(jí) 精度嚴(yán)重不足 , 必須改進(jìn)工序能力狀態(tài)Cpk： process capability （ K是偏移量），是過程能力指數(shù)，表示過程能力滿足技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的程度； Ppk： process performance（ K同樣是偏移量），指的是長期過程性能指數(shù)。 過程總偏差 ζs：由于普通和特殊兩種原因所造成的變差。當(dāng)點(diǎn)子分布出現(xiàn)異常，說明工序品質(zhì)不穩(wěn)定時(shí)，找出原因，及時(shí)消除異常影響因素，使工序恢復(fù)到正常的控制狀態(tài)。 如何 判斷過程是否穩(wěn)定 使用控制圖標(biāo)判斷過程是否穩(wěn)定 控制圖表按照用途分類 分析用控制圖 控制用控制圖 如何 判斷過程是否穩(wěn)定 分析用控制圖。只有過程變差的普通原因存在且不改變時(shí)，過程的輸出才可以預(yù)測(cè) 。其系數(shù)值 見下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 0 0 0 0 0 A2 注： 對(duì)于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值。 4. SPC控制圖的制作 計(jì)量 型控制圖： XbarR圖 計(jì)算控制限 首先計(jì)算極差的控制限，再計(jì)算均值的控制限 。常取 0， 1， 2等非負(fù)整數(shù)。 預(yù)測(cè) 時(shí)間 范圍 目標(biāo)值線 如果存在變差的特殊 原因，隨著時(shí)間的推 預(yù)測(cè) 移，過程的輸出不 穩(wěn)定。 縱座標(biāo)為輸出特性 X，橫 坐標(biāo)為時(shí)間或編號(hào) 控制圖 的形式 181。 ζ 將正態(tài)分布圖及其界 限 181。即我們常說的 3 σ管理。177。177。177。 1ζ之外。 表示分布的中心位置； ζ表示分布的標(biāo)準(zhǔn)差或者表示數(shù)據(jù)的分散程度，或用極差表示； 在界限 181。－ ζ 若某過程輸出特性 x 服從 N(181。 ■ ■ ■ ■ ■ “波動(dòng)”的概念及統(tǒng)計(jì)規(guī)律性 生產(chǎn)線上加工出來的產(chǎn)品沒有絕對(duì)相同的。 確定過程的統(tǒng)計(jì)控制界限，判斷過程是否失控和過程是否有能力。 (有效的策略就是預(yù)防 ) 有效的預(yù)防策略 : ? 簡便易行的控制系統(tǒng) ? 2. SPC的基本概念 實(shí)施 SPC的 過程包含三大內(nèi)容： 第一步、用 SPC工具對(duì)過程進(jìn)行 分析 ，如繪制分析用控制圖等 ； 第二步、根據(jù) 分析結(jié)果 采取必要措施 ：可能需要消除過程中的系統(tǒng)性因素，也可能需要管理層的介入來減小過程的隨機(jī)波動(dòng)以滿足過程能力的需求 。 ? 50年代在日本工業(yè)界大量推廣應(yīng)用，對(duì)日本產(chǎn)品質(zhì)量的崛起起到了至關(guān)重要的作用。