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2025-01-21 17:32 本頁面
【正文】 元素價(jià)態(tài)、結(jié)合態(tài)的研究。直觀反映表面；3電子束流可調(diào)小， 與 XPS相比， AES特點(diǎn)：? 1AES(Auger例：試作出在 Mg Ka ( hn = eV ) 作用下 Na的 XPS示意譜圖， Na的能級(jí)分布如右圖。XPSeV534/5614eV、 8 20eV。720,radiation)samplefrom 在一般的 X射線光電子譜儀中，沒有 X射線單色器，只是用一很薄 (1~2?m)的鋁箔窗將樣品和激發(fā)源分開，以防止 X射線源中的散射電子進(jìn)入樣品室，同時(shí)可濾去相當(dāng)部分的軔致輻射所形成的X射線本底。 同步輻射源是十分理想的激發(fā)源，具有良好的單色性，且可提供10X射線源是用于產(chǎn)生具有一定能量的 X射線的裝置，在目前的商品儀器中，一般以 Al/Mg雙陽極 X射線源最為常見。vacuumKαhv1Φ’。實(shí)際概念 ：某個(gè)能級(jí)或軌道上的電子躍遷到費(fèi)米能級(jí)所需的能量。根據(jù)上式，可以計(jì)算出電子在原子各能級(jí)的結(jié)合能 Eb。電子平均自由程 是指光電子在固體樣品表面不發(fā)生非彈性碰撞時(shí)逸出的深度。過 程如下： 當(dāng)光與物質(zhì)起相互作用時(shí)并不總產(chǎn)生光電效應(yīng)，而是有一定的幾率。光電子能譜的基本原理發(fā)射源（信號(hào)）：電子發(fā)射源（信號(hào)）：價(jià)電子（ 3） 俄歇電子能譜（ AES)UPS光電子能譜 表面分析一般是測定物質(zhì)表面的平均成分，不是體內(nèi)、也不是微區(qū)成分，它測定的是物質(zhì)受激發(fā)而發(fā)出的價(jià)電子或內(nèi)層電子的能量；與紅外光譜相比，紅外光譜給出的是分析指紋，或是基團(tuán)特征，而 表面分析則可給出原子指紋，測定原子的價(jià)態(tài)（電子結(jié)構(gòu)）、原子和電子所處的能級(jí)，從而可以定出分子結(jié)構(gòu)。因此，在作表面分析工作時(shí)，不僅在制備樣品時(shí)要求在 高真空和超凈條件 下進(jìn)行，而且在測試過程中也要注意儀器中的條件，以防止因污染而引起測試誤差。（ 2）物質(zhì)表面層 元素所處的狀態(tài) 或 與其它元素間的結(jié)合狀態(tài)和結(jié)構(gòu) ，即元素所處的原子狀態(tài)、價(jià)態(tài)、分子結(jié)構(gòu)等信息。表面的含義 ：指固體最外層的 1～ 10個(gè)原子的表面層和吸附在它上面的原子、分子、離子或其它覆蓋層。電子能譜是一種研究物質(zhì)表面的性質(zhì)和狀態(tài)的物理方法。概述7表面由于各種原因，具有與基體不同的物理化學(xué)性質(zhì)。（ 3） 表面層物質(zhì)的狀態(tài) 。（對(duì)真空度有要求）二次粒子和輻射源既可是同種也可以是異種。常見的表面分析法的比較俄歇電子能譜 XPS: Xray Photoelectron Spectroscopy離子探針顯微分析 表面分析法是一種 無損分析 ，分析的是最表
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