儀器分析化學(xué)庫侖滴定-wenkub.com
2025-08-07 19:27 本頁面
【正文】 這種突出的電流峰之為 “ 極譜極大 ” 。 08:16:28 產(chǎn)生的原因： 由于帶電荷的被測(cè)離子（或帶極性的分子）在靜電場(chǎng)力的作用下運(yùn)動(dòng)到電極表面所形成的電流。 08:16:28 三、干擾電流與抑制 interference current and elimination （ a）微量雜質(zhì)等所產(chǎn)生的微弱電流 產(chǎn)生的原因 ：溶劑及試劑中的微量雜質(zhì)及微量氧等。 簡(jiǎn)單金屬離子的極譜波方程式： （ 可逆；受擴(kuò)散控制；生成汞齊 ） Mn+ +ne +Hg = M（ Hg） （ 汞齊 ） c?a 滴汞電極表面上形成的汞齊濃度； c?M可還原離子在滴汞電極表面的濃度； ?a， ?M活度系數(shù)； )1(ln oMMHgoOcacnFRTEE aa????08:16:28 由于 汞齊濃度很稀， aHg不變；則： )2(ln oMMoOccnFRTEE aa???? ?由擴(kuò)散電流公式： id = KM cM （ 3） 在未達(dá)到完全濃差極化前， c?M不等于零；則： )4()( oMMM ccKi ??(4)(3) 得 : )5(。 08:16:28 (2)被測(cè)物濃度影響 被測(cè)物濃度較大時(shí) ,汞滴上析出的金屬多，改變汞滴表面性質(zhì)，對(duì)擴(kuò)散電流產(chǎn)生影響。 c 08:16:28 (1)溶液攪動(dòng)的影響 擴(kuò)散電流常數(shù) I= 607nD1/2 = id /（ K越大，測(cè)定越靈敏。汞滴面積的變化導(dǎo)致不斷產(chǎn)生充電電流（電容電流）。 (受汞滴周期性滴落的影響，汞滴面積的變化使電流呈快速鋸齒性變化 )； c. 氫在汞上的超電位較大 ； d. 金屬與汞生成汞齊 ,降低其析出電位 ,使堿金屬和堿土金屬也可分析。 (3) 電解液中 含有較大量的惰性電解質(zhì) ， 使待測(cè)離子在電場(chǎng)作用力下的遷移運(yùn)動(dòng)降至最小 。 08:16:28 2. 極限擴(kuò)散電流 id 平衡時(shí) ， 電解電流僅受擴(kuò)散運(yùn)動(dòng)控制 ， 形成： 極限擴(kuò)散電流 id。 圖中 ① ～ ② 段，僅有微小的電流流過，這時(shí)的電流稱為 “ 殘余電流 ” 或 背景電流 。 08:16:28 選擇內(nèi)容 第一節(jié) 電解分析原理與應(yīng)用 principle and application of electrolytic analysis 第二節(jié) 庫侖分析原理與應(yīng)用 principle and applications of coulometric analysis 第三節(jié) 庫侖滴定 coulometric titration 結(jié)束 08:16:28 第六章 極譜與伏安分析法 第一節(jié) 極譜分析原理與過程 一、極譜分析原理與過程 principle and process polarography 二、擴(kuò)散電流理論 theory of diffusion current 三、干擾電流與抑制 interference current and elimination
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