電子公司統(tǒng)計(jì)制程管理培訓(xùn)講義-資料下載頁(yè)
2025-07-29 18:35本頁(yè)面
【導(dǎo)讀】正態(tài)分布的概率？普通原因與特殊原因？控制圖的判圖標(biāo)準(zhǔn)？重復(fù)性與可再現(xiàn)性？各制程所需之SPC管制圖？SPC為統(tǒng)計(jì)制程管理，S-Statistical；階段收集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，并調(diào)整制程，從而達(dá)到改進(jìn)與保證產(chǎn)品品質(zhì)的目的。SPC強(qiáng)調(diào)預(yù)防，防患於未然是SPC的宗旨。。的一個(gè)重要工具。Ⅲ.管制圖可以迅速的發(fā)現(xiàn)異常以利及時(shí)的采取措施改善制程；Mean是一組數(shù)據(jù)（樣本）的平均值\平均數(shù)，又稱X-bar。EXCEL中用函數(shù)AVERAGE即可。Range是一組數(shù)據(jù)中最大值與最小值之間的差值，簡(jiǎn)稱R。Median是一組數(shù)據(jù)中由小到大排列后的中間值。一組花瓣沖壓阻抗的數(shù)據(jù)，請(qǐng)計(jì)算其中位值Median。Mode是一組數(shù)據(jù)中出現(xiàn)次數(shù)最多的數(shù)值。S2是一組數(shù)據(jù)中，每一個(gè)數(shù)據(jù)與均值之差的平方和的均值。σ為總體的標(biāo)準(zhǔn)偏差。Exercise:PQCXX在9月1日至3日取樣SS47μF16V花瓣時(shí)，UCL──控制上限；LCL──控制下限；，稱之為流程的聲音。，將控制上下限每月加嚴(yán)，若無(wú)法加嚴(yán)，則依上月的控制上下限繼續(xù)管控。
【正文】 性 分?jǐn)?shù) 極低 沒(méi)有控制失效模式的措施 100000 1/10 10 低 探測(cè)失效的可能性很遙遠(yuǎn) 50000 1/20 9 20200 1/50 8 10000 1/100 7 中等 可能探測(cè)到失效 5000 1/200 6 2020 1/500 5 高 很可能探測(cè)到失效的發(fā)生 1000 1/1000 4 500 1/2020 3 極高 工藝自動(dòng)探測(cè)失效 200 1/1500 2 控制措旆一定探測(cè)到失效 100 1/10000 1 FMEA FMEA(失效模式及后果分析 ) 風(fēng)險(xiǎn)順序數(shù) RPN=嚴(yán)重序數(shù) *頻度數(shù) *不易探測(cè)度 風(fēng)險(xiǎn)順序數(shù) RPN=SEV*OCC*DET FMEA FMEA(失效模式及后果分析 ) 提出有效之改善措施， 并制訂措施完成的日期后， 最后再重新進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估， 以確認(rèn)措施之有效性 . FMEA GAGE Ramp。R Gage Ramp。R:量測(cè)系統(tǒng)的可重復(fù)性及其可再現(xiàn)性。 量測(cè)系統(tǒng)：測(cè)量?jī)x器、測(cè)量軟件、測(cè)量人員、測(cè)量環(huán)境 、測(cè)量方法以及被測(cè)量物品構(gòu)成的一個(gè)整體。 確保測(cè)量誤差相對(duì)于產(chǎn)品規(guī)范或制程誤差來(lái)講是可以接受的。 如：制四課選別機(jī)因其測(cè)量誤差較大，而導(dǎo)致選別后的良品到制 五課加工時(shí)，發(fā)現(xiàn)有特性異?，F(xiàn)象，即容量處于邊緣狀態(tài)。 可重復(fù)性：即同一個(gè)人在同一環(huán)境下使用同一臺(tái)儀器反復(fù)測(cè)量同 一個(gè)產(chǎn)品所產(chǎn)生的誤差。 AV 可再現(xiàn)性：即兩個(gè)以上的人在同一環(huán)境下使用同一臺(tái)儀器測(cè)量同 一個(gè)產(chǎn)品，測(cè)量結(jié)果的均值的誤差。 EV GAGE Ramp。R )()( iiDi f fX XM I NXM A XXR ???測(cè)量次數(shù) K1 2 3 測(cè)量人數(shù) K2 2 3 2* KR X制作 Gage Ramp。R步驟： ，且儀器之分辨率可滿足要求； ； 10PCS以上； 23次。 可重復(fù)性 AV= 可再現(xiàn)性 EV= *K1 R22amp。 AERR ??? ??T O LRRRR amp。amp。% ?? GAGE Ramp。R 判定標(biāo)準(zhǔn) 10%誤差的量測(cè)系統(tǒng)是可以接受的。 %數(shù)值 30%的誤差的量測(cè)系統(tǒng)可接受或不接受， 決定于該量測(cè)系統(tǒng)的重要性、量具的成本、修理所需的 費(fèi)用等，可能是可以接受的。 30%的誤差的量測(cè)系統(tǒng)不可以接受，須予以改 進(jìn)，進(jìn)行各種勢(shì)力，發(fā)現(xiàn)并改正。必要時(shí)更換量具或 對(duì)量具進(jìn)行重新調(diào)整，并對(duì)該量測(cè)系統(tǒng)以前所量測(cè)的 產(chǎn)品庫(kù)存進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)，若發(fā)現(xiàn)庫(kù)存品已超出規(guī)格或 已出貨給客戶，應(yīng)立即追蹤并通知到客戶處，協(xié)調(diào)處 理對(duì)策。 D ell 10 steps DELL 10 Steps Step 1:制作制程流程圖、工程圖面；（如 QC工程圖） Step 2:計(jì)算良品直通率，并繪出 PChart； RTY=FPY1*FPY2*FPY3 Step 3:定義各制程中，所需管控的關(guān)鍵參數(shù)； 制一 PQC：花瓣厚度，鉚接阻抗 制二 PQC：無(wú)黑豆、無(wú)束腰、無(wú)封口 制三 PQC：反極 制四、六 PQC： CAP、 DF、 LC 制五 PQC：貼平反極 Step 4:確定關(guān)鍵參數(shù)的管制上下限并每月更新一次； （可根據(jù)一個(gè)月收集的數(shù)據(jù)來(lái)修訂關(guān)鍵參數(shù)的上下限） Step 5:制作 GRamp。R，確定量測(cè)系統(tǒng)的可重復(fù)性以及可 再現(xiàn)性可以滿足要求，以避免人員或設(shè)備的變異； D ell 10 steps DELL 10 Steps Step 6:針對(duì)制程的關(guān)鍵參數(shù)執(zhí)行 SPC管控； Step 7:確認(rèn)制程的穩(wěn)定度后，再計(jì)算 CPK。在計(jì)算 CPK 前，先確認(rèn)數(shù)據(jù)是正態(tài)分布。當(dāng) CPK達(dá)不到 時(shí)，一定要對(duì)制程進(jìn)行檢討。 Step 8:使制程穩(wěn)定，確保 CPK=CP。 Step 9:確認(rèn)供應(yīng)商所控制的參數(shù)是否與客戶所控制的參 數(shù)一致或相關(guān)聯(lián)。 Step 10:要求主要之原材料供應(yīng)商推行 10 Steps. PQC 制一 PQC 花瓣沖壓厚度 X bar– R Chart 制一 PQC 花瓣鉚接阻抗 X bar– R Chart 制二 PQC C Control Chart 制三 PQC 反極 C Control Chart
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