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2025-02-19 23:03本頁面
【正文】 ,頻率及數(shù)量 a)子組容量 — 一般要求較大的子組容量 (50200)。 b)分組頻率 — 根據(jù)產(chǎn)品的周期分組 。 c)分組的數(shù)量 — 25或更多的子組 。 計算每個子組內(nèi)的不合格品率 (p) 被檢項目的數(shù)量 — n。 發(fā)現(xiàn)的不合格項目的數(shù)量 — np。 不合格品率 :p=np/n。 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 不合格品率為縱坐標(biāo) ,子組頻率為橫坐標(biāo) ,縱坐標(biāo)的刻度從 0到最大不合格率的 。 繪制控制圖 描繪 p值點并連線檢查 。 3 用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖 B. 計算控制限 計算過程平均不合格率 (p) p=n1p1+n2p2+nkpk/n1+n2+nk 計算上下控制限 (UCL,LCL) 畫線并標(biāo)注 過程均值 (p)水平實線 。 控制限 (UCL,LCL)水平虛線 。 在初始研究階段 ,為試驗控制限 。確定可能超過其平均值177。 25%的樣本容量范圍 ,找出所有子組 。重新計算控制限 。描繪新的上下控制限 。 3 用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖 C. 過程控制用控制圖解釋 分析數(shù)據(jù)點 ,找出不穩(wěn)定的證據(jù) a)超出控制限的點 ? 超出上控制限 : 控制限計算錯誤或描點時描錯 。 過程性能惡化 。 評價系統(tǒng)變化 。 ? 超出下控制限說明 : 控制限或描點錯誤 。 評價系統(tǒng)已改進(jìn) 。 測量系統(tǒng)已改變 。 3 用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖 b)鏈 連續(xù) 7點位于平均值的一側(cè) 。 連續(xù) 7點上升或下降 。 ? 高于平均值的鏈或上升鏈說明 : 過程性能已惡化 ,需要糾正 。 評價系統(tǒng)改變 。 ? 低于平均值的鏈或下降鏈說明 : 過程性能已改進(jìn) 。 評價系統(tǒng)改變 ,掩蓋過程的真實性 。 3 用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖 c)明顯的非隨機圖形 各點與 p的距離 : 大約 2/3的描點應(yīng)落在控制限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi) ,大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域 ,大約 1/20的點將位于與控制限較接近的區(qū)域 (外部 1/3的區(qū)域 )。 如果超過 90%的點落在控制限 1/3的區(qū)域內(nèi) ,則應(yīng)調(diào)查 : 控制限或描點已計算錯誤或描錯 。 過程或取樣方法被分層 。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯 。 如果少于 40%的點落在中間 1/3的區(qū)域 ,則應(yīng)調(diào)查 : 控制限或描點已計算錯誤或描錯 。 子組數(shù)據(jù)包含了多個不同過程流的測量值 。 3 用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖 D. 過程能力解釋 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖上的每一點直接表明不符合顧客要求的不合格品的百分?jǐn)?shù)或比值 ,因此 ,計數(shù)型控制圖的能力指數(shù)直接定義為不合格品的平均百分?jǐn)?shù)或比例 。 計算過程能力 當(dāng)所有的點均受控后 ,計算 p。 評價過程能力 按現(xiàn)有水平穩(wěn)定運行 。 3 用于計數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH
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