spc知識(shí)培訓(xùn)(文件)
【正文】 提高過程能力 應(yīng)將精力集中在減少普通原因上 ,即采取系統(tǒng)的糾正措施 。 單值圖的刻度按下列最大者選取 : a)產(chǎn)品的規(guī)范容差加上超過規(guī)范的讀數(shù)的允許值 。 極差下控制限 :LCLMR=D3R。 D. 過程能力解釋 如果過程處于正態(tài)分布 ,只要過程處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) ,就可用 σ 的估計(jì)值來評(píng)價(jià)過程能力 。 過程性能 :過程總變差的 6σ 范圍 。 CPL:下限能力指數(shù) 。 b)分組頻率 — 根據(jù)產(chǎn)品的周期分組 。 不合格品率 :p=np/n。確定可能超過其平均值177。 3 用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖 C. 過程控制用控制圖解釋 分析數(shù)據(jù)點(diǎn) ,找出不穩(wěn)定的證據(jù) a)超出控制限的點(diǎn) ? 超出上控制限 : 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 。 評(píng)價(jià)系統(tǒng)已改進(jìn) 。 ? 高于平均值的鏈或上升鏈說明 : 過程性能已惡化 ,需要糾正 。 3 用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖 c)明顯的非隨機(jī)圖形 各點(diǎn)與 p的距離 : 大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi) ,大約 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域 ,大約 1/20的點(diǎn)將位于與控制限較接近的區(qū)域 (外部 1/3的區(qū)域 )。 如果少于 40%的點(diǎn)落在中間 1/3的區(qū)域 ,則應(yīng)調(diào)查 : 控制限或描點(diǎn)已計(jì)算錯(cuò)誤或描錯(cuò) 。 評(píng)價(jià)過程能力 按現(xiàn)有水平穩(wěn)定運(yùn)行 。 3 用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖 D. 過程能力解釋 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖上的每一點(diǎn)直接表明不符合顧客要求的不合格品的百分?jǐn)?shù)或比值 ,因此 ,計(jì)數(shù)型控制圖的能力指數(shù)直接定義為不合格品的平均百分?jǐn)?shù)或比例 。 過程或取樣方法被分層 。 ? 低于平均值的鏈或下降鏈說明 : 過程性能已改進(jìn) 。 3 用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖 b)鏈 連續(xù) 7點(diǎn)位于平均值的一側(cè) 。 評(píng)價(jià)系統(tǒng)變化 。重新計(jì)算控制限 。 控制限 (UCL,LCL)水平虛線 。nkpk/n1+n2 繪制控制圖 描繪 p值點(diǎn)并連線檢查 。 計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率 (p) 被檢項(xiàng)目的數(shù)量 — n。 Ppk:過程中心的性能指數(shù) 。 Pp:性能指數(shù) ,容差范圍除以過程性能 。 過程總變差 :由于普通和特殊兩種原因所造成的變差 。 單值下控制限 :LCLX=XE2R。 移動(dòng)極差圖的刻度與 X圖一致 。 2 計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖 單值和移動(dòng)極差圖 (XMR) 適用于測(cè)量費(fèi)用很大 (例如破壞性試驗(yàn) )的情況 , 或當(dāng)在任何時(shí)刻點(diǎn)的輸出性質(zhì)比較一致時(shí) 。 如果 Z=4,則過程能力指數(shù)為 Cpk=。 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 計(jì)算過程能力 過程能力是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值與 規(guī)范界限的距離 ,用 Z表示 。 設(shè)計(jì)目標(biāo)值位于規(guī)范的中心 。 2 計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖 識(shí)別并標(biāo)注特殊原因 (均值圖 ) 識(shí)別 — 標(biāo)注 — 分析 — 對(duì)策 — 改進(jìn) 重新計(jì)算控制限 (均值圖 ) 排除所有受已被識(shí)別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組 ,重新計(jì)算新的過程均值和控制限并畫圖 。 過程或取樣方法被分層 。 測(cè)量系統(tǒng)改變 。 測(cè)量系統(tǒng)變化 。
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