統(tǒng)計過程控制的作用與技術(shù)原理-資料下載頁
2025-02-16 14:13本頁面
【正文】 a2 過程已更改，或是在當(dāng)時的那一點(diǎn)（可能是一件獨(dú)立的 事件）或是一種趨勢的一部分。 a3 測量系統(tǒng)發(fā)生變化（例如：不同的量具或 QC） 不受控制的過程的均值（有一點(diǎn)超過控制限） 受控制的過程的均值 UCL LCL X LCL UCL X 342 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢： 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)或 7點(diǎn)連續(xù)上升或下降 a 與過程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者 。 a1 過程均值已改變 a2 測量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度） 注：標(biāo)注這些使人們作出決定的點(diǎn)，并從該點(diǎn)做一條參考線延伸到 鏈的開始點(diǎn)，分析時應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間。 不受控制的過程的均值（長的上升鏈） 不受控制的過程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈） UCL X LCL UCL X LCL 343 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個 控制限內(nèi) ， 或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等 。 b 一般情況 ， 各點(diǎn)與 X的距離：大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的 中間 1/3的區(qū)域內(nèi) ， 大約 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域； 1/20的 點(diǎn)應(yīng)落在控制限較近之處 。 c 如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R很近之處 （ 對于 25子組 ， 如果超過 90%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域 ） ， 則應(yīng)對下列情況的 一種或更多進(jìn)行調(diào)查： c1 控制限計算錯或描點(diǎn)描錯 c2 過程或取樣方法被分層 ， 每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或 多個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值 （ 如：從 幾組軸中 ， 每組抽一根來測取數(shù)據(jù) 。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯 (極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個子組更改刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 X很近之處（對于 25子組， 如 果有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一 種或更多進(jìn)行調(diào)查： d1 控制限計算錯或描點(diǎn)描錯 。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個不 同的過程流的測量值（這可能是由于對可調(diào)整的過程進(jìn)行 過度 控制造成的，這里過程改變是對過程數(shù)據(jù)中隨機(jī)波 動的響應(yīng)）。 注：如果存在幾個過程流，應(yīng)分別識別和追蹤。 UCL X LCL UCL X LCL 均值失控的過程（點(diǎn)離過程均值太近） 均值失控的過程（點(diǎn)離控制限太近） 35 識別并標(biāo)注所有特殊原因（均值圖） a 對于均值數(shù)據(jù)內(nèi)每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進(jìn)行一次過 程操作分析，從而確定產(chǎn)生特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)， 防止再發(fā)生。 b 應(yīng)及時分析問題，例如：出現(xiàn)一個超出控制限的點(diǎn)就立即開 始分析過程原因。 36 重新計算控制限（均值圖） 在進(jìn)行首次過程研究或重新評定過程能力時，要排除已發(fā)現(xiàn) 并解決了的特殊原因的任何失控點(diǎn)，然后重新計算并描畫過程 均值 X 和控制限，使所有點(diǎn)均處于受控狀態(tài)。 37 為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限 a 當(dāng)首批數(shù)據(jù)都在試驗(yàn)控制限之內(nèi)（即控制限確定后），延長控 制限，將其作為將來的一段時期的控制限。 b 當(dāng)子組容量變化時，（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率） 應(yīng)調(diào)整中心限和控制限 。方法如下： b 1 估計過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差（用 σ? 表示），用 現(xiàn)有的 子組容 量計算： σ? = R/d2 式中 R為子組極差的均值（在極差受控期間）， d2 為隨樣本 容量變化的常數(shù)，如下表： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 b –2 按照 新的 子組容量查表得到系數(shù) d2 、 D D4 和 A2， 計算新 的極差和控制限： R新 = σ? d2 UCLR= D4 R新 LCLR = D3 R新 UCLX = X+ A2 R新 LCLX = X– A2 R新 將這些控制限畫在控制圖上。 總結(jié)：過程異常判斷準(zhǔn)則 ? 出現(xiàn)超出控制線的點(diǎn) ? 存在鏈（ Run)： ? 連續(xù)七個點(diǎn)全在控制限之上或之下， ? 連續(xù)七個點(diǎn)上升（后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn)）或下降 ? 任何其他明顯非隨機(jī)的圖形，例如： ? 顯著多于 2/3以上的點(diǎn)落在均值很近之處（ 25組有超過90%的點(diǎn)落在控制限 1/3區(qū)域） ? 顯著少于 2/3以上的點(diǎn)落在均值很近之處（ 25組有等于或少于 40%的點(diǎn)落在控制限 1/3區(qū)域） 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAIT
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