電鏡的近期發(fā)展-資料下載頁
2025-01-21 11:30本頁面
【正文】 表面結(jié)構(gòu)的顯微研究與在加載、變溫條件下材料的宏觀性能測(cè)試結(jié)合起來，為材料的強(qiáng)度與斷裂的基本理論和應(yīng)用研究展現(xiàn)出令人鼓舞的前景。 低真空掃描電鏡 (含環(huán)境掃描電鏡 ) 用掃描電鏡觀察非導(dǎo)體的表面形貌，以往需將試樣首先進(jìn)行干燥處理，然后在其表面上噴鍍導(dǎo)電層，以消除樣品上的堆積電子。由于導(dǎo)電層很薄，所以樣品表面的形貌細(xì)節(jié)無大損傷。但導(dǎo)電層畢竟改變了樣品表面的化學(xué)組成和晶體結(jié)構(gòu)，使這兩種信息的反差減弱；而且干燥常引起脆弱材料微觀結(jié)構(gòu)的變化。更重要的是干燥終止了材料的正常反應(yīng)，使反應(yīng)動(dòng)力學(xué)觀察不能連續(xù)進(jìn)行。 為了克服這些缺點(diǎn)，低真空掃描電鏡應(yīng)運(yùn)而生。低真空掃描電鏡包括環(huán)境掃描電鏡 (后者縮寫為 ESEM)。低真空掃描電鏡是指其樣品室外于低真空狀態(tài)下，氣壓可接近 3kPa。它的成像原理基本上與普通掃描電鏡一樣，只不過普通掃描電鏡樣品上的電子由導(dǎo)電層引走；而低真空掃描電鏡樣品上的電子被樣品室內(nèi)的殘余氣體離子中和，因而即使樣品不導(dǎo)電也不會(huì)出現(xiàn)充電現(xiàn)象。 低真空掃描電鏡的機(jī)械構(gòu)造除樣品室的真空系統(tǒng)和光欄外，與普通掃描電鏡基本上是一樣的。所以它的工作原理除樣品室內(nèi)的電離平衡外，也和普通掃描電鏡相差無幾。 低低真空掃描電鏡既可在低真空下工作，也可在高真空下工作。帶有場(chǎng)離子發(fā)射電子槍的環(huán)境掃描電鏡在低真空下的分辨本領(lǐng)已達(dá)到普通掃描電鏡高真空下操作時(shí)的水平。 (1)可在氣相或液相存在的環(huán)境中觀察樣品，避免干燥損傷和真空損傷 (2)可連續(xù)觀察材料反應(yīng)動(dòng)力學(xué)過程 演講完畢，謝謝觀看！
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