電鏡的近期發(fā)展-資料下載頁
2025-01-21 11:30本頁面
【正文】 表面結(jié)構的顯微研究與在加載、變溫條件下材料的宏觀性能測試結(jié)合起來，為材料的強度與斷裂的基本理論和應用研究展現(xiàn)出令人鼓舞的前景。 低真空掃描電鏡 (含環(huán)境掃描電鏡 ) 用掃描電鏡觀察非導體的表面形貌，以往需將試樣首先進行干燥處理，然后在其表面上噴鍍導電層，以消除樣品上的堆積電子。由于導電層很薄，所以樣品表面的形貌細節(jié)無大損傷。但導電層畢竟改變了樣品表面的化學組成和晶體結(jié)構，使這兩種信息的反差減弱；而且干燥常引起脆弱材料微觀結(jié)構的變化。更重要的是干燥終止了材料的正常反應，使反應動力學觀察不能連續(xù)進行。 為了克服這些缺點，低真空掃描電鏡應運而生。低真空掃描電鏡包括環(huán)境掃描電鏡 (后者縮寫為 ESEM)。低真空掃描電鏡是指其樣品室外于低真空狀態(tài)下，氣壓可接近 3kPa。它的成像原理基本上與普通掃描電鏡一樣，只不過普通掃描電鏡樣品上的電子由導電層引走；而低真空掃描電鏡樣品上的電子被樣品室內(nèi)的殘余氣體離子中和，因而即使樣品不導電也不會出現(xiàn)充電現(xiàn)象。 低真空掃描電鏡的機械構造除樣品室的真空系統(tǒng)和光欄外，與普通掃描電鏡基本上是一樣的。所以它的工作原理除樣品室內(nèi)的電離平衡外，也和普通掃描電鏡相差無幾。 低低真空掃描電鏡既可在低真空下工作，也可在高真空下工作。帶有場離子發(fā)射電子槍的環(huán)境掃描電鏡在低真空下的分辨本領已達到普通掃描電鏡高真空下操作時的水平。 (1)可在氣相或液相存在的環(huán)境中觀察樣品，避免干燥損傷和真空損傷 (2)可連續(xù)觀察材料反應動力學過程 演講完畢，謝謝觀看！
教學課件相關推薦
鄂ICP備17016276號-1