x射線光電子能譜-資料下載頁
2025-01-05 05:52本頁面
【正文】 小刀刮剝表面污層；對粉末樣品可采用研磨的方法。 。對于能耐高溫的樣品，可采用高真空下加熱的辦法除去樣品表面吸附物。 ? 樣品的安裝： 一般是把粉末樣品粘在雙面膠帶上或壓入銦箔（或金屬網(wǎng)）內(nèi)，塊狀樣品可直接夾在樣品托上或用導(dǎo)電膠帶粘在樣品托上進行測定。 其它方法： ：對疏松軟散的樣品可用此法。 ：將樣品溶解于易揮發(fā)的有機溶劑中，然后將其滴在樣品托上讓其晾干或吹干后再進行測量。 ：對不易溶于具有揮發(fā)性有機溶劑的樣品，可將其少量研壓在金箔上，使其成一薄層，再進行測量。 ? 樣品荷電的校正： (絕緣體的荷電效應(yīng)是影響結(jié)果的一個重要因素 ) ： 用電子中和槍是目前減少荷電效應(yīng)的最好方法；另一種方法是，在導(dǎo)電樣品托上制備超薄樣品，使譜儀和樣品托達到良好的電接觸狀態(tài)。 ： 主要有以下幾種方法： ； ； ； ； ； 。 XPS譜圖的解釋步驟： ? 在 XPS譜圖中首先鑒別出 C1s、 O1s、 C(KLL) 和O(KLL)的譜峰（通常比較明顯）。 ? 鑒別各種伴線所引起的伴峰。 ? 先確定最強或較強的光電子峰（或俄歇電子峰），再鑒定弱的譜線。 ? 辨認 p、 d、 f自旋雙重線，核對所得結(jié)論。 XPS 的特點： ? 可以分析除 H和 He以外的所有元素。 ? 相鄰元素的同種能級的譜線相隔較遠，相互干擾較少，元素定性的標識性強。 ? 能夠觀測化學(xué)位移，化學(xué)位移同原子氧化態(tài)、原子電荷和官能團有關(guān)。化學(xué)位移信息是利用 XPS進行原子結(jié)構(gòu)分析和化學(xué)鍵研究的基礎(chǔ)。 ? 可作定量分析，即可測定元素的相對濃度，又可測定相同元素的不同氧化態(tài)的相對濃度。 ? 是一種高靈敏超微量表面分析技術(shù)，樣品分析的深度約為 20197。，信號來自表面幾個原子層，樣品量可少至 108g，絕對靈敏度高達 1018g。 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH
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