屹東smt電子公司手機(jī)外觀檢驗sop規(guī)范-資料下載頁
2025-06-03 15:57本頁面
【導(dǎo)讀】用以規(guī)范和統(tǒng)一JV廠手機(jī)外觀檢驗標(biāo)準(zhǔn)。（當(dāng)針對型號的不同而另有特別規(guī)定的外觀標(biāo)準(zhǔn)時，以特別規(guī)定的外觀標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)核實不良產(chǎn)品。水泡、褪色、掉漆、水紋、漆面粗糙、漆面污點、漆面劃傷或損壞.凹痕、熔接痕、劃傷、污物、缺損、合模線、破壞、點、色差.字體重疊、印刷不全、印刷不正、字體周圍有多余印跡、印刷字體水波紋、字體斷線.根據(jù)表面等級標(biāo)準(zhǔn)將表面分為“AA”、“A”、“B”、“C”面.位置：a)、手機(jī)顯示屏與桌面呈45度角。Lens有顏色對比的缺陷)or。g、Lens內(nèi)部有手指印。的最大值為傾斜度，其測量方式見下圖。h、Flip異響或Flip無彈性。在自然開合的情況下,Flip在打開20－30度時
【正文】 圖二 天線頂部接合面漏光 h 天線頂帽 天線頂部 天線桿 ? 天線頂部接合面縫隙 h 光線可從中間透過 b 圖一 鍵盤按鈕高度示意圖 前蓋 當(dāng) b (按鈕平面與前蓋 的最小高度 )為 0時 , 即為按鈕與前蓋表面在一個平面上 鍵盤按鈕 圖三 天線頂帽偏 e 俯視 ? 天線頂帽與天線頂部偏移 圖四 電池連接觸點傾斜 ? 當(dāng) A向左側(cè)傾斜 ,A上的點 a向左方向越過 a1點時 , 即為電池連接觸點 A超過其所在孔洞 ? 電池連接觸點 B為正確位置 電池連接觸點 (A和 B) 電池連接觸點用孔洞 O1和 O2 b1 b A a B a1 O1 O2 孔洞 O1和 O2 后蓋 前蓋側(cè)面 立體圖 俯視 后蓋 圖五 電池連接器觸點 翹起 (俯視 ) 后蓋 前蓋 電池連接觸點 A 電池連接觸點 B ? 電池連接觸點 A翹出后蓋 ? 電池連接觸點 B為正確位置 立體圖 圖六 操作者操作示意圖 光源 1 光源 2 I 手機(jī)到眼睛的距離 a 手機(jī)背面與桌面的角度 L 桌面上量尺長度 a I L 附件 5. 缺陷測量方法 檢驗標(biāo)準(zhǔn) 不同形狀的缺陷 通過 : 缺陷小于檢驗標(biāo)準(zhǔn)點 下線 : 缺陷超過檢驗標(biāo)準(zhǔn)點的邊界 附件 6. Gap standard 和附圖 Product Gap between Accept How to measure P1 F/Hamp。R/H 在前蓋和后蓋之間的 任何一點，用 的塞尺能無阻力的插入。 P2 F/Hamp。R/H 同上 Gap standard Keypadamp。F/H 在前蓋和 keypad 之間的任何一點，用 的塞尺能無阻力的插入。 P3 F/Hamp。R/H 在前蓋和 keypad 之間的任何一點，用 的塞尺能無阻力的插入。 P4 F/Hamp。R/H 在前蓋和 keypad 之間的任何一點，用 的塞尺能無阻力的插入。
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