亞科德電子公司ic檢驗規(guī)范書-資料下載頁
2025-06-03 18:56本頁面
【導讀】適用于我司各種封裝功能的IC來料的檢驗。⑴表面可輕易擦凈的污漬。2．劃痕、破碎。4．絲印錯誤、模糊不清。5．封裝、尺寸不符。6．引腳的可焊性差。⑴橫條、白板、黑屏、黑點、花屏、無設(shè)備。⑴輸出電壓不符。⑴IC外形的清潔度、完整度；⑵IC引腳的完整性、氧化狀況；的清晰度和準確性。⑵IC引腳的尺寸；用烙鐵為其引腳上錫，要求340℃—350℃、時間2±秒。將LDO焊接到“U3”位。⑶鼠標雙擊桌面“amcap2a”，打開測試程序的窗口畫面，并對準近處某一物體調(diào)焦，正常狀態(tài)下老化30分鐘后，觀察顯示畫面狀況。
【正文】 參見我司 《 MI360 檢驗規(guī)范》 2． Dsp 類 —————————— （待定） 3． LDO 類 ⑴在 LDO 測試架上找到“ U3”位，手拿鑷子夾取 LDO 放置在“ U3”位，用烙鐵和錫線將 LDO 焊接到“ U3”位。 ⑵將測試架連接到測試電腦的 USB 接口上，用萬用表測試 LDO 輸出腳的輸出電壓，檢驗其輸出電壓值 ⑶ 鼠標雙擊桌面“ amcap2a” ， 打開測試程序的窗口畫面， 并對準近處某一物體調(diào)焦，正常狀態(tài)下老化 30 分鐘后，觀察 顯示畫面狀況。
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