smt生產(chǎn)工藝及pcb板的維修分析-資料下載頁
2024-11-14 03:01本頁面
【導(dǎo)讀】蘇州工業(yè)園區(qū)職業(yè)技術(shù)學(xué)院。畢畢業(yè)業(yè)項項目目。專業(yè)名稱表面貼裝工藝與設(shè)備。紹，并對生產(chǎn)中的有問題的產(chǎn)品維修的技能做相應(yīng)介紹。目標(biāo)：完成一篇7000字以上的論文。闡述了生產(chǎn)過程中產(chǎn)品出現(xiàn)的問題及維修方法。畢業(yè)項目各階段任務(wù)起止日期。1．選題12月20日至1月25日。2．查詢資料1月26日至4月15日。3．整理4月16日至4月30日。4．后期完善和答辯準(zhǔn)備5月1日至5月15日。析》是本人在指導(dǎo)老師的指導(dǎo)下，獨立研究、寫作的成果。引用是他人的無論以何種方式發(fā)布的文字、研究成果，均在論文中以。本聲明的法律結(jié)果由本人獨自承擔(dān)。貼片機的組成和功能，并對PCB板的維修做了說明。維修時常見問題進行闡述，其中列出了AOI測試出的問題（主要是冷。焊、橋接、偏移、漏件等一些常見問題），并且詳細(xì)介紹了ICT測試
【正文】 Training 2） Testing Digital Incircuit：一般的 數(shù) 位 IC 測試。 3） Testing Digital Functional： 數(shù) 位 IC 的群 組 (cluster)功能測試，一般少用。 4） Testing Analog Powered and Mixed：量測 IC 的電 壓、震蕩器的頻率，及 數(shù) 位類比混合型 IC 的測試。 解析 error reports 以下將針對 3070 各種不良報表做簡單的解釋與說明： 1） Shorts: Open 1 Thresh 9, Delay 50us Ohms From: J2011 22072 Open To: J2012 22073 Message is: None. 此報告中“ Open” 代表 開路不良，即點 J2011 與 J2012 之間應(yīng)該有短路 (小于臨界阻抗 9ohm) ，待測板上卻 量測為開路 (9ohm), 22072 代表即點 J2011所連接的 MINT pin(BRC) 。 （注 ：可能是測試點沒打準(zhǔn)，也可能是有地方開路） Short 1, Thresh 1000, Delay 50us Ohms From: CR201C 22163 3 To: VR201C 22162 3 Total of 2 nodes, Message is: None. 蘇州工業(yè)園區(qū)職業(yè)技術(shù)學(xué)院 2020 屆畢業(yè)項目 13 此報告中“ Short” 代表短路不良 ,即點 CR201C與 VR201C之間應(yīng)該是開路 (臨界阻抗 1000ohm) ，待測板上 卻 量測為短路，量測值為 3ohm，小于臨界阻抗。 2） analog incircuit : r205 HAS FAILED Measured: Nominal: High Limit: Low Limit: Resistance in OHMS 此報告中 “ r205 HAS FAILED”表示 電阻不良， R205 應(yīng)該是 1kohm 的電阻，上限 ，下限 ，卻 量測到 。 3） l201 HAS FAILED ： Measured: Nominal: High Limit: Low Limit: Inductance in HENRYS 此報告所示 電 感 L201 不良。 4） cb313 HAS FAILED Measured: Nominal: High Limit: Low Limit: Capacitance in FARADS 蘇州工業(yè)園區(qū)職業(yè)技術(shù)學(xué)院 2020 屆畢業(yè)項目 14 DEVICES IN PARALLEL cb314 cb315 cb301 100n cb302 100n 此報告所示 電 容 CB313 不良，並 聯(lián) 元件有 CB31 CB31 CB30 CB302。 5） d1 HAS FAILED Measured: High Limit: Low Limit: Forward VOLTAGE drop Status: 2cH Moa Voltage/Current Compliance Detector Over Range Integrator Over Voltage 此報告所示 二極體 D1 不良 ,導(dǎo)通電壓上限 828mV、下限 213mV，量測值為。 6） testjet Open 1 Device u10 Pin 1 Node DVOCLKOUT Measured (BRC 21423) Open 2 Device u1 Pin 10 Node DRV2A Through c12 Measured (BRC 214104) 蘇州工業(yè)園區(qū)職業(yè)技術(shù)學(xué)院 2020 屆畢業(yè)項目 15 此報告所示 元件 U10 第 1 腳及第 10 腳不良，第 1 腳之即點為 DVOCLKOUT 量測值為 2fF。 （ 注 :以上問題可以用更換掉損壞元件來解決 ，有時也會出現(xiàn)其所報原件本身并無問題，而是與其所連接的 IC 有問題，短路問題我并沒有列出，因為那要視情況而定 ） 六 、文獻參考資料 NOKIA 公司 內(nèi)部文獻資料 ； 《 SMT 表面組裝技術(shù)》 王應(yīng)海 屈有安 袁麗娟 朱利軍編 七 、 致謝 踉踉蹌蹌地 忙碌了 幾 個月，我的畢業(yè)設(shè)計課題也終將告一段落。但由于能力和時間的關(guān)系，總是覺得有 些 不盡人意的地方 。這也讓我了解到 做一件事情，不必過于在乎最終的結(jié)果，可貴的是過程中的收獲。 不過在此 非常 感謝 李紅益 老師對我的論文不厭其煩的 進行 細(xì)心指點 和鼓勵 。李 老師首先細(xì)致地為我解題 ， 當(dāng)我迷茫于 如何下手時， 李 老師 又為我提綱挈領(lǐng)，梳理脈絡(luò)，使我確立了本文的框架。論文 寫 作中， 多次 得到 李 老師的指點。從框架的完善，到內(nèi)容的擴充 以及自己在工作中的經(jīng)驗心得。 從行文的用語，到格式的 規(guī)范， 李 老師都嚴(yán)格要求，力求完美。我再次為 李 老 師的付出表示 忠心的 感謝 ！
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