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2024-10-04 16:58本頁面
【正文】 之判讀法 :有單獨(dú)一個點(diǎn)子 ,出現(xiàn)在三個標(biāo)準(zhǔn)差區(qū)域之外者 (有一點(diǎn)落在管制界限之外者 ). +1? +2? +3? UCL CL A區(qū) B區(qū) C區(qū) . :連續(xù)三點(diǎn)之中有兩點(diǎn)落在 A區(qū)或甚至於 A區(qū)以外者 (在中心線之同側(cè)三個連續(xù)點(diǎn)中有兩點(diǎn)出現(xiàn)在兩個標(biāo)準(zhǔn)差之外者 ). +1? +2? +3? UCL CL A區(qū) B區(qū) C區(qū) . . . . . . 33 :連續(xù)五點(diǎn)之中有四點(diǎn)落在 B區(qū)或甚至於 B區(qū)以外者 (在中心線之同側(cè)五個連續(xù)點(diǎn)中有四點(diǎn)出現(xiàn)在一個標(biāo)準(zhǔn)差之外者 ). +1? +2? +3? UCL CL A區(qū) B區(qū) C區(qū) . . . . . . . . . . :連續(xù)有八點(diǎn)落在 C區(qū)或甚至於 C區(qū)以外者 (八個連續(xù)點(diǎn)子出現(xiàn)在中心線之同一側(cè)者 ). +1? +2? +3? UCL CL A區(qū) B區(qū) C區(qū) . . . . . . . . 34 . ,如 : (1)連續(xù) 11點(diǎn)中有 10點(diǎn)以上 . (4)連續(xù) 20點(diǎn)中有 16點(diǎn)以上 . (3)連續(xù) 17點(diǎn)中有 14點(diǎn)以上 . (2)連續(xù) 14點(diǎn)中有 12點(diǎn)以上 . :連續(xù)有七點(diǎn)上升 (或下降 ). . +1? +2? +3? UCL CL . . . . . . LCL 1? 2? 3? . 35 (3)連續(xù) 10點(diǎn)中有 4點(diǎn)以上 . (2)連續(xù) 7點(diǎn)中有 3點(diǎn)以上 . (1)連續(xù) 3點(diǎn)中有 2點(diǎn)以上 . ,一般是以超出 2?區(qū)域之 點(diǎn)為調(diào)查基準(zhǔn) ,如 : 36 ● 計量控制圖：由于計算機(jī)的應(yīng)用普及， 控制圖的計算機(jī)毫無困難，而且無論樣本是否大于 10， 圖計算的結(jié)果都是精確的，故均值標(biāo)準(zhǔn)差圖完全可以代替均值極差圖。 ●計件控制圖：當(dāng)樣本大小 n變化時，由于 p圖、 np圖的控制界限都呈凹凸?fàn)睿坏鲌D不方便，更無法判穩(wěn)、判異，可以通過應(yīng)用不合格數(shù) npT圖替代。 ●計點(diǎn)控制圖：當(dāng)樣本大小 n變化時，由于 u圖、 c圖的控制界限都呈凹凸?fàn)睿坏鲌D不方便，更無法判穩(wěn)、判異，可以應(yīng)用通用不合格數(shù) cT圖替代。 ●有用的控制圖： 、 、 npT圖、 cT控制圖 常用控制圖評價 sX?sX?sX? RX?RX?37 5. Cpk amp。 Ppk 的差異 38 管制圖計算時 RX?2? dR???????? ????? ?3)(,?3)( LU SXXSM inC p K制程能力指數(shù) CpK 制程在統(tǒng)計控制狀態(tài)下 39 制程能力指數(shù) CpK 綜合 Ca與 Cp兩值之指數(shù) CpK值之計算式（ 2） CpCaC p K )1( ??40 管制圖計算時 RX?2? dR??制程初始能力指數(shù) PpK ?????? ????? ?3)(,?3)( LU SXXSM inC p KPpk 不考慮制程是否在統(tǒng)計控制狀態(tài)下
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