【導(dǎo)讀】用戶SPC理論培訓(xùn)教材

　　

【正文】 組數(shù)。 判異 判異規(guī)則 當(dāng)現(xiàn)場數(shù)據(jù)不滿足用戶或者管理者定義的判異規(guī)則時，圖形區(qū)域中的相關(guān)點會以異常色彩標(biāo)出。用戶定義的判異規(guī)則有八種基本情況： （ 1） n個點出界； （ 2）連續(xù) n個點落在中心線同一側(cè)； （ 3）連續(xù) n個點遞增或者遞減； （ 4）連續(xù)點 n中相鄰點交替上下； （ 5）連續(xù) n點中有 m點落在中心線同一側(cè)的 B區(qū)以外； （ 6）連續(xù) n點中有 m點落在中心線同一側(cè)的 C區(qū)以外； （ 7）連續(xù) n點落在中心線兩側(cè)的 C區(qū)內(nèi)； （ 8）連續(xù) n點落在中心線兩側(cè)且無一在 C區(qū)內(nèi)。 用戶基于這八種基本情況進(jìn)行任意延伸形成符合用戶需求的判異規(guī)則。 當(dāng)數(shù)據(jù)出現(xiàn)異常且該點為失控點時，單擊該點可以察看異常信息，關(guān)聯(lián)點以異常色標(biāo)注。 失控點與關(guān)聯(lián)點 以數(shù)據(jù)順序進(jìn)行判斷，當(dāng)不符合判異規(guī)則的情形出現(xiàn)時所對應(yīng)的點即為失控點，該規(guī)則在判斷時所涉及的點為相關(guān)點。一個點可能有多處異常。各異常信息會在點的拾取界面中顯示出來。 控制線 （ 1）關(guān) 于控制線 設(shè)定 控制線的設(shè)定影響到了判異。控制線主要有三種設(shè)定方式 :指定控制線、按照理論值計算控制線、按照公式計算方式。 若設(shè)為指定控制線，則在作圖前請指定控制線。指定控制線有兩種方式：在系統(tǒng)管理中指定，即在參數(shù)設(shè)定時指定。另外可在現(xiàn)場監(jiān)控中指定控制線。其操作流程為：選擇主菜單中的“工具“ —— 〉選擇設(shè)置控制線菜單項 —— 〉在下拉組合框中選擇圖形類型（如均值極差圖） —— 〉填寫控制線的值（對于雙圖的圖形類型，需要同時設(shè)定主副圖的控制線）。 若設(shè)為按理論值計算控制線。對于不同的圖形，其相關(guān)的理論參數(shù)也不同。對于均值標(biāo)準(zhǔn)差圖、 均值極差圖、中位數(shù)極差圖、單值移動極差圖需要指定參數(shù)的期望值 (181。)、方差 (σ )對于 EWMA圖需要指定目標(biāo)值和方差 (σ ).對于不合格品圖、不合格品數(shù)圖需要指定不合格品率（ p）、對于缺陷圖（不合格數(shù)圖、單位不合格數(shù)圖）需要指定不合格數(shù)（ c） 若設(shè)為公式計算方式，作圖時系統(tǒng)會按照指定的公式計算出控制線。 （ 2）關(guān)于判異 所有的判異都是基于控制線進(jìn)行的。通常將中心線與上控線之間分為三等分，分別稱之為 C區(qū)、 B區(qū)、 A 區(qū)。下方也同樣。可以在圖形屬性界面中選中使用判異線，清楚的察看異常情況。 點的拾取 在圖形界面左 鍵單擊數(shù)據(jù)點即可彈出點的拾取界面。 點的拾取界面由點的本身數(shù)據(jù)信息、關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息、控制線信息、標(biāo)簽信息、異常信息組成，同時還提供數(shù)據(jù)異常時，異常原因、糾正措施的選擇備注信息的登記和點的剔除功能。選擇剔除當(dāng)前點后，該點將不會參與作圖、判異和計算。 在點的拾取界面界面的操作（追加原因、措施、備注、剔除點）均針對特定子組。因此在計量參數(shù)點的拾取界面剔除一個點，則該組數(shù)據(jù)全被剔除。 6 控制線的計算公式 （按理論值計算 /按樣本計算） 計量類的控制線 符號說明： Xi:I=1,2,3,… n為樣本數(shù) 據(jù) μ：期望值 σ：方差 __X ：均值 __X =∑ Xi/n _X ：各子組均值的均值 __S ：各子組標(biāo)準(zhǔn)差的平均值 __R ：各子組極差的平均值 __Me：各子組中位數(shù)的平均值 __MR：各子組移動極差的平均值 λ： EWMA因子（ 0λ 1） SQRT：開平方運算 均值標(biāo)準(zhǔn)差圖 按理論值計算 均值圖： UCL=μ +Nσ /3*A1*σ CL=μ LCL=μ N /3*A1*σ 標(biāo)準(zhǔn)差圖： UCL=(C4+Nσ *SQRT(1C4))* σ CL=C4*σ LCL=(C4Nσ *SQRT(1C4))* σ 按樣本計算 均值圖： UCL=_X +Nσ /3*A3*__S CL=_X LCL=_X Nσ /3*A3*__S 標(biāo)準(zhǔn)差圖： UCL=__S +__S * Nσ /3 *(B41) CL=__S LCL=__S +__S * Nσ /3 *(B31) 均值極差圖 按理論值計算 均值圖： UCL=μ +Nσ /3*A1*σ CL=μ LCL=μ Nσ /3*A1*σ 極差圖： UCL=(d2+Nσ *d3)* σ CL=d2*σ LCL=( d2Nσ *d3)* σ 按樣本計算 均值圖： UCL=_X +Nσ /3*A2*__R CL=_X LCL=_X Nσ /3*A2*__R 極差圖： UCL=__R +__R * Nσ /3 *(D41) CL=__R LCL=__R +__R * Nσ /3 *(D31) 位數(shù)極差圖 按理論值計算 中位數(shù)圖： UCL=μ +Nσ /3*d2*m3A2*σ CL=μ LCL=μ Nσ /3*d2*m3A2*σ 極差圖： UCL=(d2+Nσ *d3)* σ CL=d2*σ LCL=( d2Nσ *d3)* σ 按樣本計算 中位數(shù)圖： UCL=__Me+Nσ /3*m3A2*__R CL=__Me LCL=__MeNσ /3*m3A2*__R 極差圖： UCL=__R +__R * Nσ /3 *(D41) CL=__R LCL=__R +__R * Nσ /3 *(D31) 單值移動極差圖 按理論值計算 單值圖： UCL=μ +Nσ *σ CL=μ LCL=μ Nσ *σ 移動極差： UCL=(d2+Nσ *d3)* σ CL=d2*σ LCL=( d2Nσ *d3)* σ 按樣本計 算 單值圖： UCL=__X +Nσ /d2*__MR CL=__X LCL=__X Nσ /d2*__MR 移動極差： UCL=__MR+__MR* Nσ /3 *(D41) CL=__MR LCL=__MR+__MR* Nσ /3 *(D31) 其中： MRi=Max(Xi,Xi+1,..Xi+k) Min(Xi,Xi+1,..Xi+k) .k為移動子組大小 EWMA圖 UCL=μ +3*SQRT(λ /(2λ ))* σ CL=μ LCL=μ 3*SQRT(λ /(2λ ))* σ 合格數(shù)據(jù)類的控制線 設(shè)數(shù)據(jù) Ki,Di表示第 I批的批量為 Di,不合格數(shù)為 Ki p:不合格率 q:合格率 q=1p P 圖 按理論值計算 UCL=p+Nσ *SQRT(p*(1p)/Di) CL=p LCL= pNσ *SQRT(p*(1p)/Di) 按樣本計算 UCL=__p +Nσ *SQRT(__p *(1__p )/Di) CL=__p LCL= __p Nσ *SQRT(__p *(1__p )/Di) 其中 __p =∑ Ki/ ∑ Di Pn 圖 對于 Pn圖 ,Di=D,I=1,2,3… . 按理論值計算 UCL=p*D+Nσ *SQRT(p*(1p)*D) CL=p*D LCL= p*DNσ *SQRT(p*(1p)*D) 按樣本計算 UCL=__p *D+Nσ *SQRT(__p *(1__p )*D) CL=__p *D LCL= __p *D Nσ *SQRT(__p *(1__p )*D) 其中 __p =∑ Ki/ ∑ Di Q 圖 按理論值計算 UCL=q+Nσ *SQRT(q*(1q)/Di) CL=q LCL= qNσ *SQRT(q*(1q)/Di) 按樣本計算 UCL=__q +Nσ *SQRT(__q *(1__q )/Di) CL=__q LCL= __q Nσ *SQRT(__q *(1__q )/Di) 其中 __q =∑ (DiKi)/ ∑ D Qn 圖 對于 Qn圖 ,Di=D,I=1,2,3… . 按理論值計算 UCL=q*D+Nσ *SQRT(q*(1q)*D) CL=q*D LCL= q*DNσ *SQRT(q*(1q)*D) 按樣本計算 UCL=__q *D+Nσ *SQRT(__q *(1__q )*D) CL=__q *D LCL= __q *D Nσ *SQRT(__q *(1__q )*D) 其中 __q =∑ (DiKi)/ ∑ Di 缺陷數(shù)據(jù)類的控 制線 設(shè)數(shù)據(jù) Ki,Di表示第 I批的批量為 Di,缺陷個數(shù)為 Ki C 圖 對于 C圖 ,Di=D,I=1,2,3… n. 按理論值計算 UCL=p*D+Nσ *SQRT(p*D) CL=p*D LCL= p*DNσ *SQRT(p*D) 按樣本計算 UCL=__p *D+Nσ *SQRT(__p *D) CL=__p *D LCL= __p *DNσ *SQRT(__p *D) 其中 __p =∑ Ki/ ∑ Di U 圖單位缺陷數(shù)圖 按理論值計算 UCL=p +Nσ *SQRT(p/Di) CL=p LCL= p Nσ *SQRT(p/Di) 按樣本計算 UCLi=__p +Nσ *SQRT(__p /Di) CL=__p LCLi= __p Nσ *SQRT(__p /Di) 其中 __p =∑ Ki/ ∑ Di 7 分析工具 過程能力分析 —— 過程能力 是指過程的加工質(zhì)量滿足技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的能力決定于質(zhì)量因素 4M1E。過 程能力指數(shù)表示過程能力滿足產(chǎn)品質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn) (產(chǎn)品規(guī)格 )的程度。一般記以 Cp。 Cp 值越大，表明加工精度越高，但相應(yīng)的加工成本也越高，所以對于 Cp 值的選擇應(yīng)根據(jù)技術(shù)要求與經(jīng)濟(jì)性綜合考慮來決定。另外，過程能力指數(shù)對瞬時的質(zhì)量變化是不靈敏的，一個階段度量一次才有意義。 過程能力變動分析 —— 對不同時間段上的過程能力指數(shù)進(jìn)行比較，發(fā)現(xiàn)過程能力指數(shù)隨時間的變化趨勢 ,綜合反映過程能力的變動趨勢及其過程的改善情況，評估企業(yè)改進(jìn)的效果，使過程能力不斷得到改善。 產(chǎn)品直通率分析 —— 一般情況下，企業(yè)面向最終用戶的產(chǎn) 成品都是經(jīng)過多道工序加工形成的。每道工序都有一個投入產(chǎn)出比例，稱之為良品率。一個產(chǎn)品的直通率就是所有工序的良品率的乘積。通過產(chǎn)品的直通率分析，用戶可以了解每個特性參數(shù)的良品率和該產(chǎn)品總的直通率。通過分析使用戶清楚地認(rèn)識到產(chǎn)品加工過程中的薄弱環(huán)節(jié)和可改進(jìn)空間。最終達(dá)到整體提升企業(yè)的良品率，提高企業(yè)整體加工質(zhì)量。 多參數(shù)對比分析 —— 比較兩個或多個質(zhì)量特性值在不同子組，日，周，月的變動情況，以利于對這些質(zhì)量特性質(zhì)的變動作橫向的比較，認(rèn)識到差距，以做出相應(yīng)的質(zhì)量改進(jìn)。 正態(tài)概率紙 采用正態(tài)概率紙 可以直觀地判斷一組數(shù)據(jù)是否服從正態(tài)分布。從概率紙上還可以得到正態(tài)分布參數(shù)均值和標(biāo)準(zhǔn)差。而且概率紙對小樣本數(shù)據(jù)更適合。 DPMO轉(zhuǎn)換表 —— DPMO 是指百萬計缺陷率，通過對它的分析可以直觀的了解產(chǎn)品再生產(chǎn)過程中的不良狀況并進(jìn)行過程能力（ CpK） 評價，從而使企業(yè)不僅可以準(zhǔn)確的掌握生產(chǎn)過程的整體狀況，同時還可以深入研究過程的不良現(xiàn)象，原因以及糾正措施，為質(zhì)量管理提供決策支持。 DPMO 分析表不僅提供與 DPMO 相關(guān)的統(tǒng)計數(shù)據(jù)，而且提供影響 DPMO的缺陷類別圖以及 各類卻顯得明細(xì)圖，深入分析影響 DPMO的原因，以 便有的放矢的解決缺陷問題，改善過程的 DPMO.