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2025-02-19 12:25本頁面
【正文】 CQualitechConsultancyLimited.計算產(chǎn)品性能指數(shù) PPKＰ PK3^ σ ＳXLSL USLX3^ σ Ｓ最小值^ σ Ｓ = X∑ i=1n （ Xi ）n12式中S P CQualitechConsultancyLimited.練 習(xí)S P CQualitechConsultancyLimited.S P CQualitechConsultancyLimited.S P CQualitechConsultancyLimited.對能力分析的解釋 ……結(jié) 果 說 明指數(shù)＞ 滿足客戶要求 ,可按控制計劃執(zhí)行生產(chǎn) .≤ 指數(shù) ≤ 目前可接受 ,但仍須改進(jìn).指數(shù)＜ 該過程目前不能滿足客戶要求 , 仍須改進(jìn) .注 :CPK只能用于穩(wěn)定過程S P CQualitechConsultancyLimited. (計數(shù)型 )S P CQualitechConsultancyLimited.計數(shù)值控制圖用來控制不可以用計量數(shù)據(jù)度量的特性，通常而言，用于合格與不合格，通過與未通過，良品與不良品等。S P CQualitechConsultancyLimited.計數(shù)值控制圖種類控制圖種類 用途P圖 用以監(jiān)視過程不良品的比率P 圖 用以監(jiān)視過程不良品的數(shù)目U圖 用以監(jiān)視每個單位產(chǎn)品的平均缺陷數(shù)C圖 用以監(jiān)視過程缺陷的數(shù)目nS P CQualitechConsultancyLimited. PChart 不合格率圖 (計數(shù)型 )S P CQualitechConsultancyLimited.Pnpn不合格品率不合格品數(shù)被檢項目的數(shù)量S P CQualitechConsultancyLimited.計算過程平均不合格品率Pnp1+np2+np3+……+ np Kn+ n+ ……+ nK多個子組不合格品率總和多個子組數(shù)總和S P CQualitechConsultancyLimited.UCL P+3 P(1P) nP3 P(1P) nLCL樣本均值控制上限控制下限S P CQualitechConsultancyLimited.日期 5/11 6/11 7/11 8/11 9/11 10/11檢驗樣本數(shù)968 1216 804 1401 1376 995不合格數(shù)8 13 13 16 14 15不合格率 (UCL)(CL)(LCL)典型的 P 圖S P CQualitechConsultancyLimited. 練 習(xí)根據(jù)下列數(shù)據(jù) ,作出 P圖S P CQualitechConsultancyLimited.分析 P 控制圖S P CQualitechConsultancyLimited.UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)超出控制上限S P CQualitechConsultancyLimited.UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)超出控制下限S P CQualitechConsultancyLimited.數(shù)據(jù)點超出 P 控制圖上下限的可能原因 :控制界限計算錯誤描點錯誤測量系統(tǒng)變化過程不合格率上升上述原因中，只有最后原因是與過程能力相關(guān)的變化特殊原因 ,其余均為人為錯誤造成S P CQualitechConsultancyLimited.UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)連續(xù)七點上升S P CQualitechConsultancyLimited.UpperControlLimit(UCL)CenterLine(CL)LowerControlLimit(LCL)連續(xù)七點下降S P CQualitechConsultancyLimited.數(shù)據(jù)點連續(xù)上升或下降的原因可能有 :測量系統(tǒng)已經(jīng)發(fā)生變化過程性能已發(fā)生變化S P CQualitechConsultancyLimited.控制界限的更換篇PChartS P CQualitechConsultancyLimited.控制界限建立以后并非一成不變，而根據(jù)實際控制狀況加以調(diào)整，在過程發(fā)生以下變化時，需重新計算控制界限。，經(jīng)過改善 過程重新受控后，S P CQualitechConsultancyLimited.分析過程能力篇PChartS P CQualitechConsultancyLimited.P圖分析過程能力的前提條件：過程受控測量系統(tǒng)可接受S P CQualitechConsultancyLimited.根據(jù)計算出的過程能力指數(shù)可以直觀評價過程能力，如能達(dá)到 6σ 標(biāo)準(zhǔn) ,則過程不合格率為 PPMP圖的過程能力的度量指數(shù)為 PS P CQualitechConsultancyLimited.S P CQualitechConsultancyLimited.附錄 : 常數(shù)表X R Charts X S ChartsX Chart R Chart X Chart S ChartSubgroupSizeFactorforControlLimitDivisor forEstimateofStandardDeviation Factor forControl LimitFactorforControlLimitDivisor forEstimateofStandardDeviation Factor forControl Limitn A2 d2 D3 D4 A3 c4 B3 B42 3 4 5 6 7 8 9 10 S P CQualitechConsultancyLimited.謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH
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