【正文】 入射角小于折射角C、內(nèi)表面入射角大雨折射角 D、以上都可能 管材水漫法探傷中，偏心距x與入射角α的關(guān)系是（ ）。（rR為管材的內(nèi)外半徑） 管材自動(dòng)探傷設(shè)備中，探頭與管材相對(duì)運(yùn)動(dòng)的形式是（ ）A、探頭旋轉(zhuǎn)，管材直線前進(jìn) B、探頭靜止，管材螺旋前進(jìn)C、管材旋轉(zhuǎn)，探頭直線移動(dòng) D、以上均可 下面有關(guān)鋼管水浸探傷的敘述中，哪點(diǎn)是錯(cuò)誤的（ ）A、使用水浸式縱波探頭 B、探頭偏離管材中心線C、無(wú)缺陷時(shí)，熒光屏上只顯示始波和l～2次底波D、水層距離應(yīng)大于鋼中一次波聲程的1／2 鋼管水浸聚焦法探傷中，下面有關(guān)點(diǎn)聚焦方法的敘述中，哪條是錯(cuò)誤的？（ ）A、對(duì)短缺陷有較高探測(cè)靈敏度 B、聚焦方法一般采用圓柱面聲透鏡C、缺陷長(zhǎng)度達(dá)到一定尺寸后，回波幅度不隨長(zhǎng)度而變化D、探傷速度較慢 鋼管水浸聚焦法探傷時(shí)，下面有關(guān)線聚焦方式的敘述中，哪條是正確的？（ ）A、探傷速度輕快 B、回波幅度隨缺陷長(zhǎng)度增大而增高C、聚焦方法一般采用圓柱面透鏡或瓦片型晶片D、以上全部 使用聚焦探頭對(duì)管材探傷，如聚焦點(diǎn)未調(diào)到與聲束中心線相垂直的管半徑上，且偏差較大距離，則會(huì)引起（ ）A、盲區(qū)增大 B、在管中折射發(fā)散C、多種波型傳播 D、同波脈沖變寬 鍛件的鍛造過(guò)程包括：（ ）A、加熱形變，成型和冷卻 B、加熱，形變C、形變，成型 D、以上都不全面 鍛件缺陷包括：（ ）A、原材料缺陷 B、鍛造缺陷C、熱處理缺路 D、以上都有 鍛件中的粗大晶?？赡芤穑海? ）A、底波降低或消失 B、噪聲或雜波增大C、超聲嚴(yán)重衰減 D、以上都有 鍛件中的白點(diǎn)是在鍛造過(guò)程中哪個(gè)階段形成：（ ） A、加熱 B、形變 C、成型 D、冷卻 軸類鍛件最主要探測(cè)方向是：（ ）A、軸向直探頭探傷 B、徑向直探頭探傷C、斜探頭外圓面軸向探傷 D、斜探頭外圓面周向探傷 餅類鍛件最主要探測(cè)方向是：（ ）A、直探頭端面探傷 B、直探頭翻面探傷C、斜探頭端面探傷 D、斜探頭側(cè)面探傷 筒形鍛件最主要探測(cè)方向是：（ ）A、直探頭端面和外圓面探傷 B、直探頭外圓面軸向探傷C、斜探頭外四面周向探傷 D、以上都是 鍛件中非金屬夾雜物的取向最可能的是：（ ） A、與主軸線平行 B、與鍛造方向一致C、占鍛件金屬流線一致 D、與鍛件金屬流線垂直 超聲波經(jīng)液體進(jìn)入具有彎曲表面工件時(shí)，聲束在工件內(nèi)將會(huì)產(chǎn)生：（ ）A、與液體中相同的聲束傳播 B、不受零件幾何形狀的影響C、凹圓弧面聲波將收斂，凸圓弧面盧波將發(fā)散D、與C的情況相反 鍛鋼件探測(cè)靈敏度的校正方式是：（ ）A、沒(méi)有特定的方式 B、采用底波方式C、采用試塊方式 D、采用底波方式和試塊方式 以工件底面作為靈敏度校正基準(zhǔn)，可以：（ ）A、不考慮探測(cè)面的耦合差補(bǔ)償 B、不考慮材質(zhì)衰減差補(bǔ)償C、不必使用校正試塊 D、以上都是 ，如用400mm深底波調(diào)整Φ3mm平底孔 度，底波調(diào)整后應(yīng)提高多少db探傷？（晶片直徑D=14mm）（ ）A、 B、 C、50db D、 在直探頭探傷，調(diào)節(jié)鍛件200mm底波于熒光屏水平基線滿量 度10。如果改用5MHz直探頭，儀器所有旋紐保持不變，則200mm底波出現(xiàn)在（ ）A、刻度5處 B、越出熒光屏外C、仍在刻度10處 D、須視具體情況而定 化學(xué)成份相同，厚度相同，以下哪一類工件超聲波衰減最大（ ）A、鋼板 B、鋼管 C、鍛鋼件 D、鑄鋼件 通用AVG曲線的通用性表現(xiàn)在可適用于：（ ）A、不同的探測(cè)頻率 B、不同的晶片尺寸C、不同示波屏尺寸的A型探傷儀 D、以上都是 大型鑄件應(yīng)用超聲波探傷檢查的主要困難是：（ ）A、組織不均勻 B、晶粒非常粗C、表面非常粗糙 D、以上都對(duì) 鍛鋼件大平底面與探測(cè)面不平行時(shí)，會(huì)產(chǎn)生：（ ）A、無(wú)底面回波或底面回波降低 B、難以發(fā)現(xiàn)平行探測(cè)面的缺陷C、聲波穿透能力下降 D、缺陷同波受底面回波影響 利用試塊法校正探傷靈敏度的優(yōu)點(diǎn)是：（ ）A、校正方法簡(jiǎn)單 B、對(duì)大于3N和小于3N的鍛件都？C、可以克服探傷面形狀對(duì)靈敏度的影響 D、不必考慮材質(zhì)差異 下列哪種方法可增大超聲波在粗晶材料中的穿透能力：（ ）A、用直徑較大的探頭進(jìn)行檢驗(yàn) B、在細(xì)化晶粒的熱處理后檢驗(yàn)C、將接觸法探傷改為液浸法探傷 D、將縱波探傷改為橫波探傷 以下有關(guān)鍛件白點(diǎn)缺陷的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（ ）A、白點(diǎn)是一種非金屬夾雜物 B、白點(diǎn)通常發(fā)生在鍛件中心部位C、白點(diǎn)的回波清晰尖銳往往有多個(gè)波峰同時(shí)出現(xiàn)D、一旦判斷是白點(diǎn)缺陷，該鍛件即為不合格 在鍛件探傷中當(dāng)使用底面多次回波計(jì)算衰減系數(shù)時(shí)應(yīng)注意一次底面回波聲（ ）A、大于非擴(kuò)散區(qū) B、大于近場(chǎng)區(qū)C、人于3倍近場(chǎng)區(qū) D、無(wú)甚要求 鍛件超聲波探傷時(shí)機(jī)應(yīng)選樣（ ）A、熱處理前孔槽臺(tái)階加工前 B、熱處理后孔曹臺(tái)階加工前C、熱處理前孔槽臺(tái)階加工后 D、熱處理孔槽臺(tái)階加工后 鋼鍛件探傷中，超聲波的衰減主要取決于（ ）A、材料的表面狀態(tài) B、材料晶粒度的影響C、材料的幾何形狀 D、材料對(duì)聲波的吸收 下面有關(guān)用試塊法調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的敘述中，哪點(diǎn)是正確的。（ ）A、對(duì)厚薄鍛件都適用 B、對(duì)平面和曲面鍛件都適用C、應(yīng)作耦合及衰減差補(bǔ)償 D、以上全部 用底波法調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度時(shí)，下面有關(guān)缺陷定量的敘述中哪點(diǎn)是錯(cuò)誤的？（ ）A、可不考慮探傷耦合差補(bǔ)償B、C、可不使用試塊D、缺陷定量可不考慮材質(zhì)衰減差修正 用直探頭檢驗(yàn)鋼鍛件時(shí)，引起底波明顯降低或消失的因素有（ ）A、底面與探傷面不平行 B、工件內(nèi)部有傾斜的大缺陷C、工件內(nèi)部有材質(zhì)衰減大的部位 D、以上全部 鍛件探傷中，如果材料的晶粒粗大，通常會(huì)引起（ ）A、底波降低或消失 B、有較高的“噪聲”顯示C、使聲波穿透力降低 D、以上全部 鑄鋼件超聲波探傷頻率一般選擇（ ）A、 B、15MHZ C、 D、510MHZ 鍛件探傷時(shí)，哪些因素會(huì)在熒光屏上產(chǎn)生非缺陷回波（ ）A、邊緣效應(yīng) B、工件形狀及外形輪廓 C、缺陷形狀和取向 D、以上全部 鍛件探傷時(shí)．如果用試塊比較法對(duì)缺陷定量對(duì)于表面粗糙的缺陷，缺陷實(shí)際尺寸會(huì)（ ）A、大于當(dāng)量尺寸 B、等于當(dāng)量尺寸C、小于當(dāng)量尺寸 D、以上都可能 下面有關(guān)鑄鋼件探測(cè)條件選擇的敘述中，哪點(diǎn)是正確的’ （ ）A、探測(cè)頻率5MHz B、透聲性好粘度大的耦合劑C、晶片尺寸小的探頭 D、以上全部 通常要求焊縫探傷在焊后48小時(shí)進(jìn)行是因?yàn)椋海? ）A、讓工件充分冷卻 B、焊縫材料組織穩(wěn)定C冷裂縫有延時(shí)產(chǎn)生的特點(diǎn) D、以上都對(duì) 對(duì)接焊縫探傷時(shí)，在CSKIIA試塊上測(cè)得數(shù)據(jù)繪制距離dB曲線，現(xiàn)要計(jì)入表面補(bǔ)償4dB，則應(yīng)：（ ）A、將測(cè)長(zhǎng)線下移4dB B、將判廢線下移4dBC、三條線同時(shí)上移4dB D、三條線同時(shí)下移4dB 焊縫斜角探傷時(shí)，正確調(diào)節(jié)儀器掃描比例是為了：（ ）A、缺陷定位 B、缺陷定量 C、判定結(jié)構(gòu)反射波和缺陷波 D、以上A和C 采用半圓試塊調(diào)節(jié)焊縫探傷掃描比例時(shí)，如圓弧第一次反射波對(duì)準(zhǔn)時(shí)基刻度2， 則以后各次反射波對(duì)應(yīng)的刻度為（ ） A、4，6，8，10 B、3，5，7，9 C、6，10 D、以上都不對(duì) 探測(cè)出焊縫中與表面成不同角度的缺陷，應(yīng)采取的方法是（ ）A、提高探鍘頻率 B、用多種角度探頭探測(cè) C、修磨探傷面 D、以上都可以 焊縫斜角探傷時(shí)，焊縫中與表面成一定角度的缺陷，其表面狀態(tài)對(duì)回波高度的影響是（ ）A、粗糙表面回波幅度離 B、無(wú)影響 C、光滑表面回波幅度高 D、以上都可能 焊縫斜角探傷時(shí)，熒光屏上的反射渡來(lái)自：（ ） A、焊道 B、缺陷 C、結(jié)構(gòu) D、以上全部 斜角探傷時(shí)，焊縫中的近表面缺陷不容易探測(cè)出來(lái)，其原因是（ ） A、遠(yuǎn)場(chǎng)效應(yīng) B、受分辨力影響 C、盲區(qū) D、受反射波影響 厚板焊縫斜角探傷時(shí)，時(shí)常會(huì)漏掉：（ ） A、與表面垂直的裂紋 B、方向無(wú)規(guī)律的夾渣 C、根部未焊透 D、與表面平行未熔臺(tái) 焊縫檢驗(yàn)中，對(duì)一缺陷環(huán)繞掃查，其動(dòng)態(tài)波形包括絡(luò)線是方形的，則缺陷性質(zhì)可估 判為（ ） A、條狀?yuàn)A渣 B、氣孔或圓形夾渣 C、裂紋 D、以上A和C 板厚100mm以上窄間隙焊縫作超聲檢驗(yàn)時(shí)，為探測(cè)邊緣未熔合缺陷，最有效的掃查方法是（ ） A、斜平行掃查 B、串列掃查 C、晶斜探頭前后掃查 D、交叉掃查 對(duì)圓筒形工件縱向焊縫探傷時(shí)，跨距將（ ） A、增大 B、減小 C、不變 D、以上A或B 采用雙晶直探頭檢驗(yàn)鍋爐大口徑管座角焊縫時(shí)，調(diào)節(jié)探傷靈敏度應(yīng)采用（ ） A、底波計(jì)算法 B、試塊法 C、 D、以上都可以 對(duì)有加強(qiáng)高的焊縫作斜平行掃查探測(cè)焊縫橫向缺陷時(shí)．應(yīng)（ ）A、保持靈敏度不變 B、適當(dāng)提高靈敏度C、增加大K值探頭探測(cè) D、以上B和C 在厚焊縫單探頭探傷中，垂直焊縫表面的表面光滑的裂紋可能：（ ）A、用45176。斜探頭探出 B、用直探頭探出C、用任何探頭探出 D、反射訊號(hào)很小而導(dǎo)致漏檢 在對(duì)接焊縫超探時(shí)，探頭平行于焊縫方向的掃查目的是探測(cè)：（ ）A、橫向裂縫 B、夾渣C、縱向缺陷 D、以上都對(duì) 用直探頭探測(cè)焊縫兩側(cè)母材的目的是：（ ）A、探測(cè)熱影響區(qū)裂縫 B、探測(cè)可能影響斜探頭探測(cè)結(jié)果的分層C、提高焊縫兩側(cè)母材驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)，以保證焊縫質(zhì)量 D、以上都對(duì) 管座角捍縫的探測(cè)一般以哪一種探測(cè)為主（ ）A、縱波斜探頭 B、橫渡斜探頭C、表面波探頭 D、縱波直探頭 以下關(guān)于管節(jié)點(diǎn)焊縫探傷的敘述，哪一點(diǎn)是錯(cuò)誤的（ ）A、宜采用較高頻率，一般為5MHZB、宜采用大角度斜探頭，其中β=70176。探頭較好C、宜采用粘度大的耦合劑，如黃油D、一般以橫渡斜探頭從主管探測(cè)為主，支管探測(cè)為輔 以下哪一種探測(cè)方法不適宜T型焊縫（ ）A、直探頭在翼板上掃查探測(cè)B、斜探頭在翼板外側(cè)或內(nèi)側(cè)掃查探測(cè)C、直探頭在腹板上掃查探測(cè)D、斜探頭在腹扳上掃查探測(cè)三、問(wèn)答題 什么機(jī)械振動(dòng)和機(jī)械波？二者有什么關(guān)系？ 什么是振動(dòng)周期和振動(dòng)頻率？二者有何關(guān)系？ 什么是諧振動(dòng)？有何特點(diǎn)？什么叫阻尼振動(dòng)和受迫振動(dòng)？三者有何不同？超聲波探頭中的壓電晶片在發(fā)射或接收超聲波時(shí)產(chǎn)生何種振動(dòng)？ 什么是彈性介質(zhì)？同樣作為傳聲介質(zhì)，固體和液體、氣體有哪些不同？ 什么是波動(dòng)頻率、波速和波長(zhǎng)？三者有何關(guān)系？ 什么是超聲波？工業(yè)探傷應(yīng)用的頻率范圍是多少？在超聲波探傷中應(yīng)用了超聲波的哪些主要性質(zhì)？ 什么是波線、波陣面和波前？它們有何關(guān)系？ 什么是平面波、柱面波和球面波？各有何特點(diǎn)？實(shí)際應(yīng)用的超聲波探頭發(fā)出的波屬于什么波？ 簡(jiǎn)述影響超聲波在介質(zhì)中傳播速度的因素有哪些？ 什么是波的疊加原理？疊加原理說(shuō)明了什么？ 什么叫波的干涉現(xiàn)象？什么情況下合成振幅最大？什么情況下合成振幅最?。? 何謂駐波？為什么晶片厚度通常取二分之一波長(zhǎng)？ 何謂繞射（衍射）?繞射現(xiàn)象的發(fā)生與哪些因素有關(guān)？ 什么叫超聲場(chǎng)？超聲場(chǎng)的特征量有哪些？ 在什么樣的異質(zhì)薄層界面上聲壓往復(fù)透過(guò)率最高？ 什么叫波型轉(zhuǎn)換？波型轉(zhuǎn)換與哪些因素有關(guān)？ 什么叫端角反射？它有何特點(diǎn)？超聲波檢測(cè)單面焊根部未焊透缺陷時(shí)，探頭K值應(yīng)怎樣選擇？ 什么叫超聲波的衰減？簡(jiǎn)述衰減的種類和原因？ 何謂主聲束？何謂指向性？指向性與哪些因素有關(guān)？ 圓盤源活塞波聲場(chǎng)可分為哪幾個(gè)區(qū)域？各有什么特點(diǎn)？ 實(shí)際聲場(chǎng)（固體介質(zhì)中的脈沖波聲場(chǎng)）與理想聲場(chǎng)（液體介質(zhì)連續(xù)波聲場(chǎng)有哪些不同？ 橫法聲場(chǎng)與縱波聲場(chǎng)相比，有哪些特點(diǎn)？ 試連聚焦聲場(chǎng)的結(jié)構(gòu)與特點(diǎn)？ 聚焦探頭在應(yīng)用上有哪些優(yōu)點(diǎn)和不足？ 什么是缺陷的當(dāng)量尺寸？在超聲波探傷中為什么要引進(jìn)當(dāng)量的概念？ 什么是AVG曲線？AVG曲線中的A、V、G備代表什么？AVG曲線可分為哪幾類？ 簡(jiǎn)述超聲波探傷儀中同步電路的作用？ 超聲波探傷儀發(fā)射電路中的阻尼電阻有什么作用？ 超聲波探傷儀的接收電路由哪兒部分組成？“抑制”旋鈕有什么作用？ 什么是壓電晶體？舉例說(shuō)明壓電晶體分為幾類？ 何謂壓電材料的居里點(diǎn)？哪些情況要考慮它的影響？ 探頭保護(hù)膜的作用是什么？對(duì)它有哪些要求？ 聲束聚焦有什么優(yōu)點(diǎn)？簡(jiǎn)述聚焦探頭的聚焦方法和聚焦形式？ 超聲波搽傷儀主要性能指標(biāo)有哪些？ 簡(jiǎn)述超聲探傷系統(tǒng)主要性能指標(biāo)有哪些？ 窄脈沖超聲場(chǎng)有哪些特點(diǎn)？ 對(duì)超聲波探傷所用探頭的晶片材料有哪些要求？ 什么是試塊？試塊的主要作用是什么？ 試塊有哪幾