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50g標準具型光梳狀濾波器畢業(yè)論文-資料下載頁

2025-07-14 15:42本頁面
  

【正文】 terleaver樣品的測試由該測試系統(tǒng)完成。該系統(tǒng)由Agilent8164A光譜儀、 HEWLETT8169A偏振控制儀、PC機組成。圖6. 1 測試系統(tǒng)結構圖,由 Agilent8164A光譜儀自帶的可調諧光源發(fā)出的非偏振光,經過HEWLETT8169A偏振控制儀調制后,從Interleaver的輸入端輸入,兩路輸出光由Agilent8164A光譜儀上的光功率計模塊接收,再由已經編好的程序分析數(shù)據(jù),得出Interleaver的各項指標。其中,偏振控制器是該系統(tǒng)的核心組成部分,是測量偏振相關損耗(PDL)的依據(jù)。它是由一個偏振器,一個λ/4波片和λ/2波片組成,偏振器可以產生一種線形偏振光,λ/4波片和λ/2波片將確定性地把線形輸入狀態(tài)轉換成其它偏振狀態(tài),從而實現(xiàn)掃描輸出。 測試結果本次畢業(yè)設計期間一共采購七套原材料,其中一套破損,其余六套均成功制成樣品,同時為保證樣品的可靠性,我們分別將六只樣品分別放置在三種不同溫度下進行測試。將測試系統(tǒng)測得的數(shù)據(jù)整理如下:(詳細的數(shù)據(jù)見附錄) 測試帶寬: ITUT177。8GHz 表6. 1 GTglass001三溫下測試數(shù)據(jù)表23℃65℃5℃ CWLOffset(平均值)ILRipplePDLISOBW@表6. 2 GTglass003三溫下測試數(shù)據(jù)表23℃65℃5℃ CWLOffset(平均值)ILRipplePDLISOBW@表6. 3 GTglass004三溫下測試數(shù)據(jù)表23℃65℃5℃ CWLOffset(平均值)ILRipplePDLISOBW@表6. 4 GTglass005三溫下測試數(shù)據(jù)表23℃65℃5℃ CWLOffset(平均值)ILRipplePDLISO30BW@表6. 5 GTglass006三溫下測試數(shù)據(jù)表23℃65℃5℃ CWLOffset(平均值)ILRipplePDLISOBW@表6. 6 GTglass007三溫下測試數(shù)據(jù)表23℃65℃5℃ CWLOffset(平均值)ILRipplePDLISOBW@以下是由測試系統(tǒng)得到的GT004在常溫下的的插入損耗波形和PDL波形,其他幾只波形和004基本一致,為避免重復,不再一一列出,詳細的分析根據(jù)實驗數(shù)據(jù)進行。 圖6. 2 50G標準具型Interleaver插入損耗波形圖 圖6. 3 50G標準具型Interleaver偏振相關損耗(PDL)波形圖 測試結果分析1) 數(shù)據(jù)分析下表為本次設計的樣品必須達到的指標要求:表6. 7 50G/100G Interleaver的指標要求 單位最小值最大值測試波長范圍nm~(96信道)波長精度pm4040測試帶寬GHz8+8插入損耗dBnmnm帶內波動dB回波損耗dB40偏振相關損耗dB信道隔離度dB25偏振模色散ps測試溫度℃565通過測試數(shù)據(jù)對比指標要求可以看出, 六只樣品中, 0000007各項指標完全合格,滿足設計要求,屬于優(yōu)秀的樣品。00006指標擦邊,但還是滿足設計要求的,也屬于成功樣品。而001在高溫(低溫)情況下各項指標明顯偏差,可見溫度特性偏差,不能達到設計要求。 常溫下,六只樣品的參數(shù)都是符合指標要求的,再根據(jù)輸出波形判斷得,六只樣品都能夠實現(xiàn)梳狀濾波功能,所以,總體上樣品的制作是成功的。但是,六只樣品在高低溫下的參數(shù)差異明顯很大,說明樣品存在很多不穩(wěn)定因素,可靠性不夠完美。下面利用對六指樣品中心波長精度對比來研究一下6只樣品的溫度穩(wěn)定性,分析不穩(wěn)定因素存在的原因。圖6. 4 6只樣品相對ITUT中心波長偏移量對照表,各個樣品的輸出波形相對于ITUT中心波長的偏移值。從圖中可以看出:高溫時,輸出波形的中心波長向長波偏移,低溫時,輸出波形的中心波長向短波偏移。 六只樣品輸出波形的偏移方向一致而偏移量相差很大。在上一章分析溫度穩(wěn)定性的過程中曾經提到,影響波長偏移的兩個關鍵因素為:金屬外盒的密封性和標準具墊片的不一致性。六只樣品輸出波形偏移方向一致客觀上反應金屬外盒密封性是完好了。而偏移量大小的不一致性很大可是了標準具墊片長度不一致和墊片膨脹系數(shù)不一致,即GT腔長度不一致性引起的。001的指標很壞的原因很大可能就是標準具系數(shù)的膨脹系數(shù)很大。2) 波形分析 所示,測試系統(tǒng)測出來的波形沒有mathcad仿真出的波形那么完美,因為實際情況下或多或少會有一定的噪聲干擾,也可能有個別微小的灰塵散落在通光面上,但總體上沒有過多的影響實驗結果,實際波形和仿真波形一致性很高,除帶內波動有帶內增加外,帶寬和隔離度都非常理想,達到預期的設計目標。,帶外PDL波形有些混亂,但我們并只關心通信信道中心波長附近一定帶寬內的偏振相關損耗,而這部分損耗是完全符合指標要求的。所以,從插入損耗和PDL的波形圖也可以看出,樣品的性能是比較理想的。 標準具型Interleaver的優(yōu)越性驗證現(xiàn)調出光迅公司以前測得比較優(yōu)秀的晶體型Interleaver數(shù)據(jù)與GT004常溫下的數(shù)據(jù)作對比,對比表格如下:表6. 8 50G晶體型和標準具型Interleaver對照表晶體型標準具中心波長偏移量(nm)插入損耗 (dB)帶內起伏 (dB)偏振相關損耗 (dB)隔離度(dB)(nm),,離輸出近似方波的要求又更進了一步。而且標準具型Interleaver插損、隔離度、帶內起伏等大多指標都是優(yōu)于晶體型的,標準具型Interleaver的優(yōu)越性顯而易見。 本章小結本章節(jié)通過對測試數(shù)據(jù)的整理和分析,對標準具型Interleaver的樣品性能進行了評估,并對樣品的溫度穩(wěn)定性和可靠性進行分析和研究,得出了樣品腔長穩(wěn)定性不高的相關結論。最后,通過將本次樣品數(shù)據(jù)和晶體型數(shù)據(jù)的對比,驗證了標準具型Interleaver的優(yōu)越性。 7 總結本文通過對當前光纖通信現(xiàn)狀和DWDM技術的調研,導出研究Interleaver技術的意義,并進一步學習Interleaver基本工作原理,對目前市場上比較成熟和正在研究探索中的Interleaver制造技術進行分析和比較,選取標準具型Interleaver這種比較有發(fā)展前景的Interleaver技術作為研究對象。結合偏振光學理論和光的多光束干涉理論詳細分析雙折射GT腔的濾波特性,并在理論成熟的基礎上提出設計方案,借助mathcad進行光學計算和對輸出光譜進行模擬仿真,分析設計方案的可行性,進而進行技術改良。最后,在實習公司相應硬件設施的輔助下,制作出標準具型Interleaver樣品,通過實驗對樣品的性能進行測試,得出結論,并分析了標準具型Interleaver的優(yōu)越性。 結論本文通過大量的理論分析、仿真計算和實驗論證,得到一下結論:1) 密集波分復用的進一步發(fā)展迫切要求通信系統(tǒng)的信道間隔進一步的減小,而Interleaver能夠實現(xiàn)在信道間隔很小的時候進行復用和解復用,它的研究和制備給光纖通信系統(tǒng)容量的升級帶來了曙光。2) 單級標準具型Interleaver的信道隔離度在25dB以下,不能滿足通信系統(tǒng)的需求。采用兩極標準具二次濾波是制備性能良好的標準具型Interleaver的有效方案。3) 通過分析實驗數(shù)據(jù)得到,標準具腔長不一致性影響成品Interleaver的性能。兩種原因:第一,兩標準具腔長存在不一致因素。第二,標準具墊片膨脹系數(shù)過大,溫度變化時標準具腔長也發(fā)生了變化。4) 通過晶體型和標準具型Interleaver的參數(shù)對比可知,標準具Interleaver的性能明顯優(yōu)于晶體型,確為比較理想的Interleaver制作方案。 心得體會在本次畢業(yè)設計的過程中,我深入的學習了光梳狀濾波技術及其,比較成功的實現(xiàn)了這次畢業(yè)設計預期任務。畢業(yè)設計的好壞是對本科理論學習的一個驗證過程,有了這一段時間的學習和實踐,我對基礎光通信理論和物理光學的知識更加了解,理論根基越來越牢,并通過對樣品的調試學習,是自己的動手能力的到更好的提高,并為以后正式參加工作打下了良好的基礎。在剛剛進入公司實習的時候,我對光梳狀濾波技術是相當陌生的。因為光纖通信教材中介紹密集波分復用未曾涉及到光梳狀濾波器。這就意味我要重頭學起,我知道萬事開頭難的道理,在開始實習的那段日子里,我一邊學習intreleaver相關的理論知識,一邊在產線上學習晶體型Interleaver的制作工藝,爭取做到理論與實踐齊頭并進,為以后標準具樣品的制作打下基礎。通過兩三個星期對理論的充實,我深深意識到物理光學是制作梳狀濾波器的核心理論基礎,物理光學是我學的很不扎實的一門課程,當初的學習僅僅是否在表面,而且并未設計到偏振光學的學習。當時,我感覺很痛苦,覺得這次畢業(yè)設計成功得可能比較小。深深得思考之后,我意識到,任何事情得成功并不是一蹴而就而又一帆風順的,必須付出自己的汗水才會有結晶的產生。于是,我拿起了沉重的物理光學課本,開始從頭學起。通過接下來兩個月不懈的努力,我對物理光學知識和光梳狀濾波技術的原理有了非常深刻的理解,并且成功設計出了光梳狀濾波器的制作方案,成功了一小步,感覺很欣慰。由于本次樣品制作多用到的都是微光學器件,所以樣品的制作過程也是困難重重。微小的抖動或是粘接不牢固都會對樣品的性能產生影響,因此在調試過程中必須非常細心,不能的浮燥的心理。通過時間和汗水的結合,我成功的實現(xiàn)了樣品的制作,這次畢業(yè)設計的結束就意味著本科階段的學習已經畫上圓滿的句號。這次設計成功的曲折性使我真正的體會到那種只有付出汗水才會有成果的喜悅之感。經過這次畢業(yè)設計使我更加懂得了知識的重要性,“知識就是力量”,通過對知識的靈活運用,再加上恒心、毅力、耐心,能夠取得許多平時連想都不敢想的成果。 結束語 光梳狀濾波技術是現(xiàn)代光纖通信領域內的的新型濾波技術,它的出現(xiàn)使許多傳統(tǒng)濾波器技術在DWDM應用中重新找到了自己的位置, 大大降低了器件設計制作的壓力, 有效提高了濾波組件的性能價格比。理想的In terleaver 器件應當滿足插入損耗低、通帶形狀平坦、信道間串擾小、溫度和機械穩(wěn)定性好等要求。本文綜述了多種新型的Interleaver的制作原理和研究進展,并著重對標準具型Interleaver的結構及性能進行了分析。由于標準具Interleaver的結構簡單、設計方便、靈活,加工工藝比較成熟,通過優(yōu)化設計和精細加工,各項性能指標良好、穩(wěn)定,器件尺寸小巧,是既可靠而又易于開發(fā)而且成本較低高端產品的Interleaver結構,具有很高的實用價值,更是目前用于實現(xiàn)更窄窄通道頻率間隔器件的理想選擇。通過本文分析可知,單級標準具型Interleaver的輸出波形相連信道間串繞較大,隔離度達不到市場需求,而雙級標準型Interleaver能夠很好的改善了隔離因此,構造多級結構,實現(xiàn)寬帶陡沿的濾波輸出,將是Interleaver器件今后發(fā)展的方向。然而,多級標準具的級聯(lián)結構卻引入了各級GT腔長度不一致的問題,所以,這種類型Interleaver研制中所要解決的關鍵問題是如何精確控制GT腔的長度,以及溫度穩(wěn)定性的提高。在Interleaver的研制尚未完全成熟的今天,完善對這些新穎的設計具有十分重要的意義。相信在不久的將來Interleaver定能以其特有的優(yōu)點成為光通信市場中大放異彩的產品! 參考文獻[1] 劉增基,周洋溢,胡遼林,[M].西安:.[2] ,高啟祥(譯).《密集波分復用技術導論》[M].北京:高啟祥譯,人民郵電出版社,2001.[3] 江紹基,柴紅芳,(Interleaver)的薄膜實現(xiàn)方案[J].光通信技術,2003,8。4243.[4] Chen Haixing,Gu Peifu, Zhang Yueguang. et a l Op tical interleaver based on multicavity FabryPerot thin film filter in optical ponents and transm ission system s [J ]. 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