【正文】 6dB 。 驗收要求無縫鋼管的判廢要求按相應(yīng)的技術(shù)文件規(guī)定。 結(jié)果評定若缺陷回波幅度等于或大于對比試塊人工缺陷回波時,則判為不合格。不合格品允許重新處理,處理后仍按本標準進行超聲檢測和等級評定。 高壓螺栓件的超聲檢測 適用范圍和一般要求本條適用于對直徑大于 M50 的高壓螺栓件進行超聲檢測和缺陷等級評定。本條不適用于奧氏體鋼螺栓件的超聲檢測。 探頭采用單直探頭。 試塊試塊的尺寸和形狀應(yīng)符合 條的規(guī)定。 檢測方法壓力容器螺栓件一般應(yīng)采用縱波檢測,盡可能檢測到工件的全體積。檢測面的表面粗糙度 Ra 為 μ m 。 縱波徑向掃查應(yīng)按螺旋線或沿圓周進行掃查,行程應(yīng)有重疊,掃查面應(yīng)能包括整個圓柱表面。 縱波軸向掃查應(yīng)從螺栓件的兩端面進行掃查 檢測靈敏度的確定 單直探頭靈敏度的確定按 條的規(guī)定。 檢測靈敏度一般不得低于最大探測距離處的φ 2mm 平底孔當量直徑。 缺陷當量的確定 一般應(yīng)采用距離—波幅曲線或計算法確定缺陷當量。 計算缺陷當量時,若材質(zhì)衰減系數(shù)超過 4dB/m,應(yīng)考慮修正。衰減系數(shù)的測定按 條的規(guī)定。 缺陷記錄 記錄當量直徑超過φ 2mm 的單個缺陷的波幅和位置。 根據(jù)表 814 的要求,記錄底波降低量。 缺陷等級評定 單個缺陷的等級評定見表 813 。 由缺陷引起的底波降低量等級評定見表 8 — 14 。表 813 單個缺陷的等級評定 mm等級 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ缺陷當量直徑 ≤φ 2 ≤φ 3 ≤φ 4 ≤φ 5 ≤φ 5表 814 由缺陷引起的底波降低量等級評定 dB等級 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ底波降低量 BG/BF ≤ 8 8 ～ 14 14 ～ 20 20 ～ 26 26注:表 814 僅適用于聲程大于一倍近場區(qū)的缺陷。 按表 813 和表 8 — 14 評定缺陷等級時,應(yīng)作為獨立的等級分別使用。 被檢測人員判定為危害性的缺陷時,其等級評定不受上述條文的限制。 壓力容器奧氏體鋼鍛件超聲檢測。 檢測范圍和一般要求本條適用于壓力容器用奧氏體鋼鍛件的超聲檢測和缺陷等級評定。 儀器探頭 儀器的工作頻率為 ～ 。 直探頭的晶片直徑為 20 ～ 35mm 。 斜探頭的 K 值一般取 ～ 2(30 176?！?60 176。)。 為了準確測定缺陷,必要時也可采用其它探頭。 試塊 所有對比試塊都應(yīng)盡量符合 JB4126 的規(guī)定。 對比試塊的晶粒大小應(yīng)同被測鍛件大致相近。 應(yīng)制備幾套不同晶粒度的奧氏體鋼校正試塊,以便能將缺陷區(qū)的衰減同試塊作合理的比較。 試塊的形狀和尺寸按圖 814 和表 815 所示。 在條件允許時,經(jīng)供需雙方協(xié)議,可在鍛件有代表的部位加工一個或幾個適當大小的對比孔或槽,代替試塊作為校正和檢測的基準。 檢測時機和工件要求 鍛件原則上應(yīng)在最終熱處理后、粗加工前進行超聲檢測,檢測面的表面粗糙度R a 為 μ m 。檢測面應(yīng)無氧化皮、漆皮、污物等。 鍛件應(yīng)加工成簡單的形狀,以利于掃查時聲束的覆蓋。 檢測方法一般應(yīng)進行縱波檢測。對筒形鍛件必要時還應(yīng)進行橫波檢測,但掃查部位和驗收標準應(yīng)由供需雙方商定。 橫波檢測橫波檢測應(yīng)按附錄 K(補充件)的要求進行。 縱波檢測縱波檢測應(yīng)符合 條的規(guī)定。圖 814 奧氏體鋼鍛件試塊表 815 試塊尺寸 mmφ 4 φ 6 φ 10 φ 13 L D L D L D L D 20 50 20 50 20 50 20 50 40 50 50 50 50 50 50 50 60 50 80 50 100 60 100 60 80 50 120 60 150 80 150 80 — — 160 80 200 80 200 80— — 200 80 250 100 250 100— — — — 300 100 300 100— — — — — — 400 150— — — — — — 500 150— — — — — — 600 200 檢測靈敏度的校正 當被檢鍛件厚度小于或等于 600mm 時,應(yīng)根據(jù)定貨鍛件厚度和要求的質(zhì)量等級,在適當厚度和當量的平底孔試塊上校正,并根據(jù)實測值做出距離—波幅曲線。當被檢鍛件厚度大于 600mm 時,在鍛件無缺陷部位將底波調(diào)至滿刻度的 80%,以此作為基準。 檢測靈敏度應(yīng)至少比距離—波幅曲線或校正基準波幅提高 6dB 。 缺陷記錄 由于缺陷的存在,而使底波降為滿刻度 25%以下的部位。 游動信號。 大于基準線 50%的信號。 缺陷等級評定 單直探頭檢驗的等級評定見表 816 。 斜探頭檢測的等級評定見表 817 。 表 8 — 16 和表 817 的級別應(yīng)作為獨立的等級使用。表 816 mm等 級 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ缺陷大小(底波降低量或缺陷當 量直徑)φ 4 φ 6 φ 10 φ 13 因缺陷引起底波降低至滿刻度的 5%表 817等級 Ⅰ Ⅱ缺陷大小 尖 角 槽 深 為 交 貨 壁 厚 的3%,最大為 3mm 尖角槽深為交貨壁厚的 5%,最大為 6mm9 壓力容器焊縫超聲檢測 鋼制壓力容器焊縫超聲檢測 檢測范圍和一般要求本條規(guī)定了焊縫缺陷的超聲檢測方法及檢測結(jié)果的等級評定。本條適用于母材厚度為 8 ～ 300mm 全焊透熔化焊對接焊縫的超聲檢測。本條不適用于鑄鋼及奧氏體鋼焊縫,外徑小于 159mm 的鋼管對接焊縫,內(nèi)徑小于或等于 200mm 的管座角焊縫,也不適用于外徑小于 250mm 或內(nèi)外徑之比小于 80%的縱向焊縫檢測。 試塊 應(yīng)符合 條的規(guī)定 采用的標準試塊為 CSK —Ⅰ A 、 CSKⅡ A 、 CSK —Ⅲ A 和 CSKⅣ A 。其形狀和尺寸應(yīng)分別符合圖 91 、圖 92 、圖 9 — 3 、圖 9 — 4 和表 9 — 1 的規(guī)定。有機玻璃圖 91 CSKⅠ A 試塊 CSKⅠ A 、 CSKⅡ A 和 CSK —Ⅲ A 試塊適用壁厚范圍為 8 ～ 120mm 的焊縫,CSK —Ⅰ A 和 CSK —Ⅳ A 系列試塊適用壁厚范圍大于 120 ～ 300mm 的焊縫。在滿足靈敏度要求時,也可采用其它型式的等效試塊。 檢測曲面工件時,如檢測面曲率半徑 R 小于等于W 2 /4 時(W 為探頭接觸面寬度,環(huán)縫檢測時為探頭寬度,縱縫檢測時為探頭長度),應(yīng)采用與檢測面曲率相同的對比試塊,反射孔的位置可參照對比試塊確定。試塊應(yīng)滿足:b ≥ 2 λ S/ D 0 ………………………(91) 式中:b —試塊寬度,mm。 λ—聲波波長,mm。 S —聲程,mm。D 0 —聲源有效直徑,mm 。 檢測準備 檢測面 K 值探頭、利用一次反射法在焊縫的單面雙側(cè)對整個焊接接頭進行檢測。當母材厚度大于 46mm 時,采用雙面雙側(cè)的直射波檢測。對于要求比較高的焊縫,根據(jù)實際需要也可將焊縫余高磨平,直接在焊縫上進行檢測。圖 92 CSKIIA 試塊L —試塊長度，由使用的聲程確定；T —試塊厚度，由被檢材料厚度確定；I —標準孔位置，由被檢材料厚度確定；根據(jù)檢測需要可在試塊上添加標準孔圖 93 CSKIIIA 試塊,再加上焊縫兩側(cè)各相當于母材厚度 30%的一段區(qū)域,這個區(qū)域最小為 10mm,見圖 95 。、鐵屑、油垢及其它雜質(zhì)。檢測表面應(yīng)平整光滑,便于探頭的自由掃查,其表面粗糙度 Ra 應(yīng)為 μ m,一般應(yīng)進行打磨。(1)采用一次反射法或串列式掃查檢測時,探頭移動區(qū)應(yīng)不小于 : P=2TK ……………………………………(9 — 2) 或 P=2Ttg β………………………………(9 — 3) 式中:P —跨距,mm。 T —母材厚度,mm。 K —探頭 K 值。β—探頭折射角,(176。)。(2)采用直射法檢測時。探頭移動區(qū)應(yīng)不小于 。圖 94 CSKIV A 試塊表 91 CSKⅣ A 試塊尺寸 mmCSK —Ⅳ A 被檢工件厚度 對比試塊厚度 T 標準孔位置 b 標準孔直徑 d№.1 120 ～150 135 T/4 №.2 150 ～200 175 T/4 №.3 200 ～250 225 T/4 №.4 250~300 275 T/4 檢測區(qū) 檢測面 位置 1 位置 2圖 95 檢測區(qū)域,應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材平齊。保留余高的焊縫,如果焊縫表面有咬邊、較大的隆起和凹陷等也應(yīng)進行適當?shù)男弈?并作圓滑過渡以免影響檢驗結(jié)果的評定。 探頭 K 值(角度) K 值(角度)選取可參照表 9 — 2 的規(guī)定。條件允許時,應(yīng)盡量采用較大 K 值探頭。表 92 推薦應(yīng)用的斜探頭 K 值板厚 T mm K 值8 ～ 25 ～ (72 176。～ 60 176。)25~46 ～ (68 176。~56 176。)46 ～ 120 ～ (60 176。~45 176。)120~300 ～ (60 176。~45 176。),推薦選用兩個 K1 的探頭,兩探頭實際折射角相差不應(yīng)超過 2 176。,探頭前沿長度相差應(yīng)小于 2mm 。為便于探測厚焊縫坡口邊緣未熔合缺陷,亦可選用兩個不同K 值的探頭,但兩個探頭 K 值均應(yīng)在 ～ 范圍內(nèi)。 母材的檢測斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域,應(yīng)先用直探頭檢測,以便檢測是否有影響斜探頭檢測結(jié)果的分層或其他種類缺陷存在。該項檢測僅作記錄,不屬于對母材的驗收檢測。母材檢測的規(guī)程要點如下::接觸式脈沖反射法,采用頻率 2 ～ 5MHz 的直探頭,晶片直徑 10 ～ 25mm。 :將無缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的 100%。 :凡缺陷信號幅度超過熒光屏滿刻度 20%的部位,應(yīng)在工件表面作出標記,并予以記錄。 距離—波幅曲線的繪制 距離一波幅曲線按所用探頭和儀器在試塊上實測的數(shù)據(jù)繪制而成,該曲線族由評定線、定量線和判廢線組成。評定線與定量線之間(包括評定線)為Ⅰ區(qū),定量線與判廢線之間(包括定量線)為Ⅱ區(qū),判廢線及其以上區(qū)為Ⅲ區(qū)。如圖 96 所示。判廢線 (RL)定量線 (SL)評定線 (EL)距離, mm 幅,dB圖 96 距離波幅曲線 距離— 8 ～ 120mm 的焊縫,其距離—波幅曲線靈敏度按表 9 — 3 的規(guī)定。 120 ～ 300mm 的焊縫,其距離—一波幅曲線靈敏度按表 9 — 4 的規(guī)定。 9 — 5 的規(guī)定。距離一波幅曲線的制作可在CS2 試塊上進行,其組成見 。,應(yīng)將各線靈敏度均提高 6dB 。 R 小于或等于W 2 /4 時,距離—波幅曲線的繪制應(yīng)在曲面對比試塊上進行。表 93 距離—波幅曲線的靈敏度試塊型式 極厚 mm 評定線 定量線 判廢線CSKⅡ A 8 ～ 46 46 ～ 120 φ 2 40 — 18dB φ 2 40 一 14dB φ 2 40 一 12dB φ 2 40 — 8dB φ 2 40 一 4dB φ 2 40+2dBCSKⅢ A 8~15 15~46 46~120 φ 1 6 一 12dB φ 1 6 一 9dB φ 1 6 一 6dB φ 1 6 — 6dB φ 1 6 一 3dB φ 1 6 φ 1 6+2dB φ 1 6+5dB φ 1 6+10dB表 94 距離——波幅曲線的靈敏度試塊型式 板厚 mm 評定線 定量線 判廢線CSK —Ⅳ A 120 ～ 300 φ d — 16dB φ d 一 10dB φ d注:d 為橫孔直徑,見表 91 。表 95 直探頭距離—波幅曲線的靈敏度評定線 定量線 判廢線φ 2mm 平底孔 φ 3mm 平底孔 φ 6mm 平底孔,否則應(yīng)按附錄 L(補充件)的規(guī)定進行傳輸損失補償。在一跨距聲程內(nèi)最大傳輸損失差不超過 2dB 時可不進行補償。 檢測方法 平板對接焊縫的檢測,原則上采用一種 K 值探頭或兩種 K 值探頭在焊縫的單面雙側(cè)進行檢測。母材厚度大于 46mm 時,采用雙面雙側(cè)檢測,如受幾何條件限制,也可在焊縫雙面單側(cè)采用兩種 K 值探頭進行檢測。斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中心線放置在檢測面上,作鋸齒型掃查,見圖 97 。探頭前后移動的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊縫截面。在保持探頭垂直焊縫作前后移動的同時,還應(yīng)作 10 176?！?15 176。的左右轉(zhuǎn)動。當壁厚大于 40mm 且單側(cè)坡口角度小于 5 176。時,應(yīng)采用串列式檢測。串列式檢測方法可參見附錄 P(參考件)。圖 97 。檢測時,可在焊縫兩側(cè)邊緣使探頭與焊縫中心線成 10 ～ 20 176。作斜平行掃查,見表 9 — 8 。焊縫余高磨平時,可將探頭放在焊縫及熱影響區(qū)上作兩個方向的平行掃查,見圖 9 — 9 。焊縫母材超過100mm 時,應(yīng)在焊縫的兩面作平行掃查或者采用兩種 K 值探頭(K1 和 或 K1 和 K2 并用)作單面兩個方向的平行掃查。必要時亦可用兩個 K1 探頭作串列掃查。對電渣焊縫還應(yīng)增加與焊縫中心線成 45 176。的掃查。圖 98 斜平行掃查 圖 99 平行掃查、方向和形狀,觀察缺陷動態(tài)波形和區(qū)分缺陷信號或偽缺陷信號,可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式,見圖 910 。前后 左右 轉(zhuǎn)角 環(huán)繞圖 910 四種基本掃查方法 曲面工件對接焊縫的檢測,可盡量按平板對接焊縫的檢測方法進行檢測。對于受幾何形狀限制,無法檢測的部位應(yīng)予以記錄。,對比試塊的曲率半徑與檢測面曲率半徑之差應(yīng)小于 10%。(1)根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭 K 值,并考慮幾何臨界角的限制,確保聲束能掃查