“顆粒粒徑分析方法”匯總大全-資料下載頁(yè)
2025-06-26 02:28本頁(yè)面
【正文】 測(cè)量的最大和最小顆粒之比約為20：1。(2)容易發(fā)生堵孔故障。雖然新型的計(jì)數(shù)器具有自動(dòng)排堵功能，畢竟影響了測(cè)量的順暢。 （3）測(cè)量下限不夠?。含F(xiàn)實(shí)中能用的小孔管最小孔徑為60 μm左右， μm左右。三、粒度儀的選擇 測(cè)試范圍：測(cè)試范圍是指粒度儀的測(cè)試上限和下限之間所包含的區(qū)域?qū)嶋H樣品的粒度范圍最好在儀器測(cè)量范圍的中段。測(cè)試范圍要留有一定的余量。 重復(fù)性：重復(fù)性是儀器好壞的主要指標(biāo)。通過實(shí)際測(cè)量的方法來(lái)檢驗(yàn)儀器的重復(fù)性是最真實(shí)的。比較重復(fù)性時(shí)一般用 DD50、D90 三個(gè)數(shù)值。 用途：由于不同粒度儀的性能各有所長(zhǎng)，可以根據(jù)不同的需要選擇更適合的儀器。比如測(cè)試量多和樣品種類多的就要用激光法粒度儀，測(cè)試量少和樣品單一的可以選擇沉降法粒度儀，需要了解顆粒形貌和其它特殊指標(biāo)的選用圖像儀等。 與行業(yè)習(xí)慣和主要客戶保持一致：由于粒度測(cè)試的特殊性，不同粒度儀的測(cè)試結(jié)果往往會(huì)有偏差。為減少不必要的麻煩，應(yīng)選用與行業(yè)習(xí)慣和主要客戶相同（原理相同甚至型號(hào)相同）的粒度儀。四、總結(jié) 粒度測(cè)試是一項(xiàng)專業(yè)性和技術(shù)性很強(qiáng)的工作。此項(xiàng)工作對(duì)粉體產(chǎn)品的生產(chǎn)過程和產(chǎn)品質(zhì)量控制都具有重要影響，對(duì)人員、儀器、環(huán)境都有很高的要求。了解粒度測(cè)試的基本知識(shí)和基本方法，對(duì)作好粒度測(cè)試工作具有一定的現(xiàn)實(shí)意義。參考文獻(xiàn)： [1] Xiao M, Chen H, Ming T, et al. PlasmonModulated Light Scattering from Gold NanocrystalDecorated Hollow Mesoporous Silica Microspheres. ACS Nano, 2010, 4(11): 65656572. [2] Zhu J, Tang J, Zhao L, et al. Ultrasmall, welldispersed, hollow siliceous spheres with enhanced endocytosis properties. Small, 2010, 6(2): 276282. [3] Marcano D C, Kosynkin D V, Berlin J M, et al. Improved Synthesis of Graphene Oxide. ACS Nano, 2010, 4(8): 48064814.
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