實驗二-門電路的特性-資料下載頁
2025-06-25 05:39本頁面
【正文】 號波形如下：（黃—輸入；綠—輸出） 分析數(shù)據(jù)：由預(yù)習(xí)報告中實驗原理可知，由于MOS管寄生電容以及輸出端負(fù)載電容的存在，當(dāng)輸入信號跳變的時候，輸出電壓的變化必然滯后于輸入電壓的變化，由此產(chǎn)生了傳輸延遲時間。將波形圖放大得到下圖，并得出上表格中的記錄數(shù)據(jù)。其中，tPHL與tPLH的數(shù)量均與理論相接近。n 實驗收獲與總結(jié)1， 本次實驗為本學(xué)期數(shù)電第二次實驗，通過本次實驗，初步掌握了數(shù)電實驗的基本接線方法，并對與非門電路的性質(zhì)有了更深地了解。2， 本次實驗中第一次使用芯片進(jìn)行接線。由于本次實驗的電路較為簡單，所以在接線過程中并未出現(xiàn)很大的錯誤。不過在最開始接線的時候采用了用很長的導(dǎo)線接線，發(fā)現(xiàn)這樣做問題很大，不但電路不穩(wěn)而且不易于后續(xù)的檢查和調(diào)節(jié)，電路也不夠清晰。除此之外接出來的電路有些混亂，不易于進(jìn)行后續(xù)檢查。因此在以后的實驗中應(yīng)該盡量保持接線的步驟，使用長短適宜的導(dǎo)線完成電路，并將線路盡量搭接清晰。3， 通過本次數(shù)電實驗，發(fā)現(xiàn)排錯能力非常重要。首先應(yīng)當(dāng)細(xì)心接線，不犯低級錯誤，其次，出現(xiàn)了意外之后，應(yīng)當(dāng)冷靜的思考，認(rèn)真排查、找出根源、排除故障。本次實驗中出現(xiàn)的一些小問題（比如接觸不良、芯片燒毀等）都是非正常故障，應(yīng)該通過實驗累積經(jīng)驗，逐漸提高自己的排錯能力。4， 本次實驗中，在測量傳輸延遲時間時曾出現(xiàn)波形不穩(wěn)定的情況，后調(diào)節(jié)了觸發(fā)模式，便穩(wěn)定了下來。說明在使用示波器和調(diào)試方面還有很大的欠缺，以后實驗中應(yīng)當(dāng)注意。n 實驗思考題1，在CMOS數(shù)字集成電路中，如CD4011,若僅用到其中的一個門電路，其余門電路輸入端應(yīng)該如何處理？為什么？答：即使只是用一個門電路時，也不能將CMOS芯片中其他門電路輸入端懸空，因為懸空時CMOS門電路容易受到外界噪聲的干擾，將會使邏輯功能混亂，容易對門電路造成損壞，應(yīng)當(dāng)將輸入端做接地處理。3，能，V1選取5V，20kHz的方波，利用滑動變阻器將VDD在5~12V之間調(diào)節(jié)，取多組值進(jìn)行讀數(shù)，就可以觀測CMOS電路的直流噪聲容限與電源電壓的關(guān)系。
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