1675-7晶體中電子能態(tài)密度-資料下載頁
2025-06-24 18:46本頁面
【正文】 正比，亦與能量為E的電子向空能級躍遷的幾率W(E)(或稱發(fā)射幾率)成正比，即 I(E)∝W(E)N(E)圖575 金屬與非金屬的X射線發(fā)射譜上式中的W(E)是一個隨E連續(xù)緩變的函數(shù)，所以，可以認為，I(E)主要由E（E)隨E的變化來決定。也就是說，軟x射線發(fā)射譜的形狀直接反映出晶體電子態(tài)密度的特征。圖575是幾種典型的金屬與非金屬的X射線發(fā)射譜．由圖看出，各晶體的發(fā)射譜在低能方面都是隨能量增加而逐漸上升的，說明從能帶底起，隨著電子能量的增加，態(tài)密度逐漸增大；在高能端，金屬的x射線發(fā)射譜是突然下降的，所對應(yīng)的能量大致與費米能相同；非金屬的發(fā)射增則隨能量增加而逐漸下降為零．這正好反映了金屬與非金屆的電子填充能帶的狀況。金屬中的電子沒有填滿能帶，電子填充的最高能級的能量約為，態(tài)密度，所以，發(fā)射譜就突然下降。鎂及鋁的發(fā)射譜與圖574(b)的形狀相似，說明這兩種金屬的能帶有交疊。石墨及硅的發(fā)射譜的形狀則與圖574（a）相似，說明這些晶體中的價電子剛好填滿一個能帶。價電子處于滿帶之中，所以，這些晶體是絕緣體。4 / 4
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