【正文】 等功能，便于更好更方便的分析系統(tǒng)性能，從而控制整個系統(tǒng)。void clreep(){ if(KINC==0) /*判斷按鍵是否按下*/ { delayMS(50)。 if(KINC==0) /*再次判斷按鍵是否按下*/ { temp=0。 /*屏顯數(shù)值清零*/ write_Leeprom(0,0)。 /*寫EEPROM清零*/ BUZ=1。 /*清除蜂鳴報警*/ } } }void clrbuz(){ if(KDEC==0) /*判斷按鍵是否按下*/ { delayMS(50)。 if(KDEC==0) /*再次判斷按鍵是否按下*/ { BUZ=1。 /*清除蜂鳴報警*/ errc=0。 /*清除錯誤數(shù)值*/ } }}void conmk(){ if(KMOD==0) /*檢測控制電磁鐵通斷按鍵是否按下*/ { delayMS(50)。 if(KMOD==0) /*檢測到控制電磁鐵通斷鍵按下后的處理函數(shù)*/ { MK=0。 /*檢測到控制電磁鐵通斷鍵按下則吸合電磁鐵*/ while(1) { if(KMOD==0) { delayMS(50)。 MK=~MK。 /*再檢測到電磁鐵通斷鍵按下則斷開電磁鐵*/ } } poweroff()。 /*調(diào)用總電源通斷掃描函數(shù)*/ } } } 錯誤處理部分程序當由于按鍵未被正確按下達到一定值、按鍵達到壽命失靈以及電磁鐵磨損嚴重效能下降等原因?qū)е路澍Q報警時需及時判斷處理且自動斷開系統(tǒng)，這時正確的錯誤處理函數(shù)便顯得尤為重要。if(errc10) /*10次按鍵未按下處理函數(shù)*/ { write_Leeprom(0,temp)。 /*把數(shù)據(jù)寫入EEPROM*/ BUZ=0。 /*蜂鳴器報警*/ }void eerord(){if(errc=132amp。amp。BUZ==0) /*如果30S檢測不到按鍵按下且蜂鳴一直響則斷開電磁鐵*/ { while(1) { MK=1。 /*電磁鐵斷開*/ delayMS(20)。 /*延時20MS*/ BUZ=1。 /*清除蜂鳴報警*/ clreep()。 /*調(diào)用顯示數(shù)據(jù)清零函數(shù)*/ poweroff()。 /*調(diào)用總電源通斷掃描函數(shù)*/ } } } EEPROM讀寫部分程序當系統(tǒng)停止工作時需要及時保存一些配置參數(shù)和測試數(shù)據(jù)，這就需要單片機內(nèi)部的EEPROM來對其進行讀寫處理并記錄保存。long int read_Leeprom(uchar adr){ uchar i,dattemp[4]。 long int res。 for(i=0。i4。i++) { DEECON=0x00。 /*初始化DEECON*/ DEEADR=adr。 /*賦值DEEADR*/ while((DEECONamp。0x80)==0)。 /*等待*/ dattemp[i]=DEEDAT。 /*將讀出的值賦給dattemp*/ DEECON=DEECONamp。0x7F。 /*清0讀完成標志位*/ adr++。 /*地址遞增*/ } res=dattemp[0]*0x1000000+dattemp[1]*0x10000。 /*處理讀到的EEPROM的值*/ res=res+dattemp[2]*0x100+dattemp[3]。 return(res)。}void write_Leeprom(uchar adr,long int dat) { uchar i,dattemp[4]。 dattemp[0]=dat24。 /*以下4句為寫EEPROM的總字節(jié)*/ dattemp[1]=dat16。 dattemp[2]=dat8。 dattemp[3]=datamp。0x000000ff。 for(i=0。i4。i++) { EA=0。 DEECON=0x00。 /*初始化DEECON*/ DEEDAT=dattemp[i]。 /*賦值DEEDAT*/ DEEADR=adr。 /*賦值DEEADR*/ while((DEECONamp。0x80)==0)。 /*等待寫完成*/ DEECON=DEECONamp。0x7F。 /*清0寫完成標志位*/ adr++。 /*地址遞增*/ }} 結(jié) 論本文介紹了基于MCU的薄膜按鍵壽命測試系統(tǒng)的實現(xiàn)方案和開發(fā)流程，并最終通過了機電配合控制以及硬件和軟件的調(diào)試。從目前測試的情況來看，整個系統(tǒng)基本達到了預(yù)期的要求。相關(guān)的結(jié)論主要歸納為以下幾點：系統(tǒng)實現(xiàn)自動按鍵并實時顯示的功能。在論證方案可行性的過程中，充分考慮了本系統(tǒng)對所需單片機、電磁鐵、驅(qū)動管、光電耦合器等主要元器件的要求，經(jīng)過比較選出最適合本系統(tǒng)的元器件，并結(jié)合實際進行設(shè)計。在機電結(jié)合設(shè)計的過程中，以實物進行比對，對所需固定裝置的結(jié)構(gòu)、形狀和尺寸參數(shù)進行分析，選擇易于組裝、操作靈活的方案進行設(shè)計，并最終出圖送工廠加工出實物，從而實現(xiàn)對整個系統(tǒng)的穩(wěn)固固定。固定底座為系統(tǒng)的可靠運行提供了穩(wěn)定的條件。系統(tǒng)采用自底向上的模塊化設(shè)計，分別進行底層驅(qū)動及模塊化處理，最后匯總進行綜合調(diào)試。采用體積小、功能強大、集成度高、內(nèi)置EEPROM、性價比高的P89LPC936單片機作為系統(tǒng)的中央控制單元。系統(tǒng)的硬件設(shè)計完成調(diào)試的電路包括：單片機最小系統(tǒng)電路、電磁鐵驅(qū)動電路、按鍵掃描電路、液晶顯示電路、控制接口及蜂鳴報警電路，重點使用的芯片有P89LPC93HT162TIP12TLP11LM7805等。系統(tǒng)的軟件設(shè)計包括程序初使化、對片內(nèi)EEPROM讀寫、HT1621驅(qū)動、液晶分屏顯示等，在調(diào)試過程中，主要測試了電壓電流、受臺前后行程、按壓按鍵速度和按鍵是否始終被正確按下之間的關(guān)系，并對數(shù)據(jù)進行了分析整理，最后選出最優(yōu)的技術(shù)參數(shù)對薄膜按鍵進行測試。本系統(tǒng)已通過基本的調(diào)試，性能穩(wěn)定、操作方便，系統(tǒng)能夠正常工作并完成相應(yīng)的測試要求。參考文獻[1] 張毅剛,彭喜元,[M].北京:高等教育出版社,.[2] [M].北京:清華大學初版社,.[3] 翟玉文,梁偉,[M].北京:中國電力出版社,.[4] （上冊）[M].北京:北京航空航天大學出版社,.[5] 康華光.《電子技術(shù)基礎(chǔ)》模擬部分[M].北京:高等教育出版社,.[6] [M].北京:科學出版社,.[7] [M].北京:北方交通大學出版社,.[8] [M].上海:復(fù)旦大學出版社,.[9] 王佳斌,[J].,16(4):6467.[10] Guiyun and application of microcontroller[M].北京:高等教育出版社，.[11] Zhao Haixin．Mo amp。 Rolling Stock Institute of Technology，Scitech Development Center[J]，Jiang’an Lootive Depot，.[12] Song Bijuan，Guo For Electric Lootiver[J]，Western Sanmenxia Railway lootivebranch，.附錄1 系統(tǒng)總體電路圖附錄2 系統(tǒng)實物圖片致 謝通過這次的畢業(yè)設(shè)計，使我對機械設(shè)計和電子電路等相關(guān)知識都有了更深的理解和掌握，同時也開闊了思路和視野。在這里我要衷心感謝我的恩師程立敏在我做畢業(yè)設(shè)計過程中給予的幫助，他開闊的思路、豐富的知識、嚴謹?shù)木?、精益求精的作風，無不深深地感染和激勵著我。從課題的選擇到最終完成，程老師都始終給予我悉心的關(guān)懷和耐心的指導，謝謝他給我提供在校外做畢業(yè)設(shè)計的支持和其間給予的指導，謝謝他在大學期間對我的諄諄教誨和教導。本設(shè)計是在程老師耐心指導和同學幫助下完成的。程老師平日里工作繁多，但在我做畢業(yè)設(shè)計的每個階段，從機電結(jié)合方案的分析論證、設(shè)計草案的確定及修改、機械圖紙的設(shè)計與繪制、中期檢查調(diào)試、后期詳細設(shè)計等整個過程中都給予了我全面的指導和不厭其煩的講解，可以說我設(shè)計中的每一步都有他的心血在里面。當然，這期間也離不開給予我建議和幫助的同學們，在這里我要衷心的對他們表達謝意。最后，對所有幫助我、關(guān)心我的人說聲謝謝，謝謝他們對我的幫助和支持。