測(cè)試分析報(bào)告v10-資料下載頁(yè)
2025-03-25 05:34本頁(yè)面
【正文】 不可測(cè)試或者用例不適用。實(shí)際上，需求跟蹤矩陣列出了一一對(duì)應(yīng)的用例情況以避免遺漏，此表作用為傳達(dá)需求的測(cè)試信息以供檢查和審核。需求覆蓋率計(jì)算 Y 項(xiàng) /需求總數(shù) 100％ 測(cè)試覆蓋 需求 /功能（或編號(hào)） 用例個(gè)數(shù) 執(zhí)行總數(shù) 未執(zhí)行 未 /漏測(cè)分析和原因 實(shí)際上，測(cè)試用例已經(jīng)記載了預(yù)期結(jié)果數(shù)據(jù)，測(cè)試缺陷上說(shuō)明了實(shí)測(cè)結(jié)果數(shù)據(jù)和與預(yù)期結(jié)果數(shù)據(jù)的偏差；因此沒(méi)有必要對(duì)每個(gè)編號(hào)在此包含更詳細(xì)的說(shuō)明的缺陷記錄與偏差，列表的目的僅在于更好的查看測(cè)試結(jié)果。 測(cè)試覆蓋率計(jì)算 執(zhí)行數(shù) /用例總數(shù) 100％ 7 / 8 缺陷的統(tǒng)計(jì)與分析 缺陷統(tǒng)計(jì)主要涉及到被測(cè)系統(tǒng)的質(zhì)量，因此，這部分成為開(kāi)發(fā)人員、質(zhì)量人員重點(diǎn)關(guān)注的部分。 缺陷匯總 被測(cè)系統(tǒng) 系統(tǒng)測(cè)試 回歸測(cè)試 總計(jì) 合計(jì) 按嚴(yán)重程度 嚴(yán)重 一般 微小 按缺陷類(lèi)型 用戶(hù)界面 一致性 功能 算法 接口 文檔 用戶(hù)界面 其他 按功能分布 功能一 功能二 功能三 功能四 功能五 功能六 功能七 最好給出缺陷的餅狀圖和柱狀圖以便直觀(guān)查看。俗話(huà)說(shuō)一圖勝千言，圖標(biāo)能夠使閱讀者迅速獲得信息，尤其是各層面管理人員沒(méi)有時(shí)間去逐項(xiàng)閱讀文章。 圖例 缺陷分析 本部分對(duì)上述缺陷和其他收集數(shù)據(jù)進(jìn)行綜合分析 缺陷綜合分析 缺陷發(fā)現(xiàn)效率 ＝ 缺陷總數(shù) /執(zhí)行測(cè)試用時(shí) 可到具體人員得出平均指標(biāo) 用例質(zhì)量 ＝ 缺陷總數(shù) /測(cè)試用例總數(shù) 100％ 缺陷密度 ＝ 缺陷總數(shù) /功能點(diǎn)總數(shù) 缺陷密度可以得出系統(tǒng)各功能或各需求的缺陷分布情況，開(kāi)發(fā)人員可以在此分析基礎(chǔ)上得出那部分功能 /需求缺陷最多，從而在今后開(kāi)發(fā)注意避免并注意在實(shí)施時(shí)予與關(guān)注，測(cè)試經(jīng)驗(yàn)表明，測(cè)試缺陷越多的部分，其隱藏的缺陷也越多。 測(cè)試曲線(xiàn)圖 描繪被測(cè)系統(tǒng)每工作日 /周缺陷數(shù)情況，得出缺陷走勢(shì)和趨向 重要缺陷摘要 缺陷編號(hào) 簡(jiǎn)要描述 分析結(jié)果 備注 8 / 8 殘留缺陷與未解決問(wèn)題 殘留缺陷 編號(hào)： BUG 號(hào) 缺陷概要：該缺陷描述的事實(shí) 原因分析：如何引起缺陷，缺陷的后果，描述造成軟件局限性和其他限制性的原因 預(yù)防和改進(jìn)措施：彌補(bǔ)手段和長(zhǎng)期策略 未解決問(wèn)題 功能 /測(cè)試類(lèi)型： 測(cè)試結(jié)果：與預(yù)期結(jié)果的偏差 缺陷：具體描述 評(píng)價(jià)：對(duì)這些問(wèn)題的看法，也就是這些問(wèn)題如果發(fā)出去了會(huì)造成什么樣的影響 4 測(cè)試結(jié)論與建議 報(bào)告到了這個(gè)部分就是一個(gè)總結(jié)了，對(duì)上述過(guò)程、缺陷分析之后該下個(gè)結(jié)論，此部分為項(xiàng)目經(jīng)理、部門(mén)經(jīng)理以及高層經(jīng)理關(guān)注，請(qǐng)清晰扼要的下定論。 測(cè)試結(jié)論 1． 測(cè)試執(zhí)行是否充分（可以增加對(duì)安全性、可靠性、可維護(hù)性和功能性描述） 2． 對(duì)測(cè)試風(fēng)險(xiǎn)的控制措施和成效 3． 測(cè)試目標(biāo)是否完成 4． 測(cè)試是否通過(guò) 5． 是否可以進(jìn)入下一階段項(xiàng)目目標(biāo) 建議 1．對(duì)系統(tǒng)存在問(wèn)題的說(shuō)明，描述測(cè)試所揭露的軟件缺陷和不足，以及可能給軟件實(shí)施和運(yùn)行帶來(lái)的影響 2．可能存在的潛在缺陷和后續(xù)工作 3．對(duì)缺陷修改和產(chǎn)品設(shè)計(jì)的建議 4．對(duì)過(guò)程改進(jìn)方面的建議
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