ic測試原理解析第四部分-射頻與無線芯片-資料下載頁
2025-03-24 04:55本頁面
【正文】 來再檢測有用信號的比特誤碼率。 測量相鄰?fù)ǖ篮烷g隔通道的選擇性 相鄰和間隔通道的選擇性指接收器接受本信道有用信號并抵制相鄰?fù)ǖ?通常隔一個(gè)通道)或間隔通道（通常指相隔兩個(gè)通道）較強(qiáng)信號干擾的能力。在一些通信應(yīng)用中，通道比較窄或者間隔通道的能量難于控制，比如說移動(dòng)無線信號等，這些應(yīng)用中，上述的測試就非常重要。進(jìn)行這些測試時(shí)，通過信號發(fā)生器給待測信道施加一個(gè)測試信號，能量與通道靈敏度相關(guān)。同時(shí)用第二個(gè)信號發(fā)生器給相鄰或者間隔信通也施加一個(gè)信號，此信號的能量被設(shè)定在某一特定值，使得測試信號的誤碼率小于某個(gè)比例。 除開能量的精度之外，測試信號和干擾信號的頻譜特征也很重要。對于很多接收器來說，用于產(chǎn)生干擾信號的信號發(fā)生器的單邊帶( SSB)相位噪聲 非常關(guān)鍵。如果在中頻濾波器頻段范圍內(nèi)的相位噪聲過大，接收器測試可能會不能通過。 大的測試安全系數(shù)對于接收器在信噪比惡化條件下能正常工作增添信心。對于使用新技術(shù)或者變化的頻率系統(tǒng)中，大的測試安全系數(shù)可以用來保證這些不確定性。 衰落測試 用于克服多個(gè)隨機(jī)的無線信道對單一接受信道的影響。在無線環(huán)境中，無線信號可能由多個(gè)途徑從發(fā)送器到達(dá)接收器。在接收器的輸入端，這種多徑效應(yīng)可能會增加信號的幅度(同相)或者減小信號的幅度(反相)。因此，會導(dǎo)致被接收信號的衰落，從而影響信號的接受。 快速的線性衰落會使得基帶脈沖失真。這種失真是線性的，并會產(chǎn)生符號間干擾。自適應(yīng)均衡器可以通過消除線性失真來減少符號間干擾。 緩慢的衰落會導(dǎo)致信噪比的降低。糾錯(cuò)編碼或者接收分級能夠克服緩慢衰減的這種影響。 衰減測試可以通過以下步驟來完成：先把測試信號在傳送到接收器之前通過一個(gè)無線信道的仿真器，經(jīng)過仿真器模擬信號的多個(gè)路徑，因此到達(dá)接收器的信號是多個(gè)信號的組合。再有接收器進(jìn)行信號處理。接收器必須能夠在處理該組合信號時(shí)能保證一定的誤碼率。衰落測試的設(shè)置與靈敏度測試很類似，只不過多出一個(gè)仿真通道。 結(jié)論 到目前為止，我們介紹了以下幾種基本測試：相對簡單的存儲器和邏輯芯片測試以及比較復(fù)雜的混合信號和射頻/無線芯片測試的獨(dú)特測試要求。由此可見，對于不同類型芯片的測試，我們需要根據(jù)相應(yīng)的要求采用不同的測試策略和測試方法。7 /
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