半導體納米材料ppt-資料下載頁
2025-02-21 15:11本頁面
【正文】 粒度分析和 形貌 分析 掃描隧道顯微鏡 ” 下拍攝的 “ 血細胞 ” 表征手段 粒度分析和 形貌 分析 當晶體非常細小的時候，由于晶粒的表面能很大，細小的晶粒之間容易由于弱的相互作用力結合在一起，導致晶粒之間發(fā)生團聚，也就是很多個細小晶粒抱團，形成 更大的二次顆粒。通常我們把單個的細小晶粒的粒徑叫作一次粒徑，也叫原始粒徑 .在某些情況下，即使是非晶體顆粒，有相似的原始顆粒和團聚顆粒時，也會引入 一次粒徑和二次粒徑概念。 表征手段 成分分析和結構分析 納米材料的光、電、聲、熱、磁等理物性能與組成納米材料的化學成分和結構具有密切關系。微觀結構的晶粒晶面等也影響物質的宏觀性質。因此，確定納米材料的元素組成和微觀結構，測定納米材料中雜質的種類和濃度，是納米材料分析的重要內容之一。主要儀器： X射線熒光光譜分析 (XFS) 、 高分辨透射電鏡（ HRTEM）、 掃描探針顯微鏡（ SPM）、 場離子顯微鏡（ FIM）、 X射線衍射儀（ XRD）、 擴展 X射線吸收精細結構測定儀（ EXAFS）、 穆斯堡爾譜儀（ MS）、 拉曼散射儀（ RS）等等。 表征手段 表面與界面分析 固體材料的表面與界面分析已發(fā)展為納米薄膜材料研究的重要內容。目前，常用的表面和界面分析方法有： X射線光電子能譜（ XPS）、 俄歇電子能譜（ AES）、 靜態(tài)二次離子質譜（ SIMS）、 離子散射譜（ ISS）。 其中 XPS占了整個表面成分分析的 50%， AES占了 40%，SIMS占了 8%。在這些表面與界面分析方法中， XPS的應用范圍最廣，可以適合各種材料的分析，尤其適合材料化學狀態(tài)的分析，更適合于涉及到化學信息領域的研究。 表征手段 其他 儀器名稱 : 熱電轉換效率測試設備 型號規(guī)格 : ZEM1 國別廠家 : 日本 真空理工株式會社 主要技術指標 : 溫度范圍：室溫～ 800℃ ，電導率 σ：102～ 106sm1 Seebeck系數(shù)： 10～ 103μvk1 基本功能及應用范圍 : 測試材料的電導率，賽貝克系數(shù) 所在單位 : 武漢理工大學新材所 收費標準 : 校內：室溫 200元 /樣，每增加一個溫度點增加 100元 校外：室溫 100元 /樣，每增加一個溫度點增加 50 元 購置日期 : 價格 : 48萬元 謝謝！
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