管理資料-質(zhì)量管理→制程能力分析方法介紹-資料下載頁(yè)
2025-01-11 19:15本頁(yè)面
【正文】 製程有變異存在 ,整個(gè)分佈圖往規(guī)格上限偏移 ,致使 UCL超出規(guī)格上限 , 以致有不良會(huì)產(chǎn)生 . LCL UCL 規(guī)格下限 規(guī)格上限 3σ 3σ 製程不良趨勢(shì)圖 L= σ M = σ 0 = 0 (單邊 )不良率 =% (雙邊 )不良率 =%=2700 PPM 6σ 製程不良趨勢(shì)圖 LCL UCL 規(guī)格下限 規(guī)格上限 3σ 3σ 8σ M M L= σ M = σ σ = 1 (單邊 )不良率 =32 PPM= PPM (雙邊 )不良率 =64 PPM Exposure is 32 PPM 製程不良趨勢(shì)圖 LCL UCL 規(guī)格下限 規(guī)格上限 3σ 3σ M M 10σ L= σ M = σ 2σ = 2 (單邊 )不良率 = PPM (雙邊 )不良率 = PPM 日本常用 製程不良趨勢(shì)圖 LCL UCL 規(guī)格下限 規(guī)格上限 3σ 3σ 12σ M M L= σ M = σ 3σ = 3 (單邊 )不良率 =1 pt/billion (雙邊 )不良率 =2 pt/billion
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