管理資料-質(zhì)量管理→制程能力分析方法介紹-全文預(yù)覽
【正文】 3 x = 步驟 2. 計(jì)算出 UCL / LCL 超出規(guī)格上下限所佔(zhàn)之比率 Z (UCL) = 規(guī)格上限 σ = = 由 Z分佈表查知 所佔(zhàn)面積約 = % 超出規(guī)格上限的不良比率 : 50% % = % Z 分 佈 Z (LCL) = 規(guī)格下限 σ = = 由 Z分佈表查知 所佔(zhàn)面積約 = % 超出規(guī)格下限的不良比率 : 50% % = % 步驟 3. 將超出規(guī)格上下限的不良比率相加即等於製程不良率 製程不良率 = % + % = % (估計(jì)值 ) Z 分 佈 LCL= UCL= 規(guī)格下限 = 規(guī)格上限 = % % X = % % 3σ 3σ 製程不良趨勢(shì)圖 LCL UCL 規(guī)格下限 規(guī)格上限 3σ 3σ 6σ x σ σ UCL及 LCL都在規(guī)格上下限之內(nèi) ,且距離規(guī)格上下限皆有一個(gè) δ以上 ,此種狀況正表示製程能力很好 ,且非常穩(wěn)定 . 製程不良趨勢(shì)圖 LCL UCL 規(guī)格下限 規(guī)格上限 x 製程不良趨勢(shì)圖 此圖表示 ,
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