生產(chǎn)管理→如何用spc進行統(tǒng)計分析-資料下載頁
2025-01-09 05:38本頁面
【正文】 。（受樣本限制） ? 計點特性的數(shù)據(jù)表示在一個部件或產(chǎn)品上存在的瑕疵數(shù)量。（不受樣本限制） Process Improvement 43 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 ? 計數(shù)型控制圖選擇 Process Improvement 44 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 ? p圖制作步驟 ?計算每一個樣本的不合格率并記錄在表格中 ?計算平均 p值（ p） ?計算每一個數(shù)據(jù)點的上控制線和下控制線 Process Improvement 45 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 ? p圖制作步驟 ? 對每個數(shù)據(jù)點重復上一步驟 ? 在控制圖上畫出控制界限 ? 注： p圖的分析方法完全類似于對均值控制圖進行分析的方法。 Process Improvement 46 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 ? np圖制作步驟 ?計算平均 np值（ np） ?計算中心線值 np np = n p ?計算數(shù)據(jù)點的上控制界限和下控制界限 Process Improvement 47 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 ? np圖制作步驟 ?標注每個樣品的實際不合品數(shù)并且畫出控制界限 Process Improvement 48 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 ? 計件型控制圖注意事項 ?無論是使用 p圖還是 np圖，都需要選取足夠大的樣本以確保每個樣本中至少存在一個不合格品，否則就無法檢測過程是否得到改進。 ?為了達到上述要求，一般普遍的做法是選取一定的樣本時的 n p的值至少達到 5。 Process Improvement 49 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 ? c圖概述 ?使用 c圖研究計點型的數(shù)據(jù)，往往假設(shè)樣本大小是不變，這里需要用到泊松分布。 ?c圖中的缺陷點必須滿足三個條件 ?缺陷點之間必須是獨立的。例如：因手工造成的缺陷和以鑄造造成的缺陷是獨立的；而由同一個毛口造成的缺陷則是不獨立的。 ?相對來說缺陷的個數(shù)應當是稀少的。 ?缺陷點的發(fā)生必須是在一個固定的時間范圍內(nèi)，或者發(fā)生于某件特定的產(chǎn)品。 Process Improvement 50 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 ? c圖制作步驟 ?定義檢測單元并收集數(shù)據(jù) ?計算平均 c值 ? 計算上控制界限和下控制界限 Process Improvement 51 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 ? c圖制作步驟 ?確定刻度，標注數(shù)據(jù)，畫出控制線 ?確定刻度的時候應當使 c值大致位于縱軸中心 ?下控制界限不一定要畫到 0，但所選取的刻度范圍要能夠包含所有可能出現(xiàn)的點 Process Improvement 52 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 ? u圖概述 ?u圖使用的也是泊松分布，因此也要滿足 c圖的前兩個條件。 ?與 c圖不同的是， u圖中樣本大小是可變的，所以每個數(shù)據(jù)點都有各自的上控制界限和下控制界限。 Process Improvement 53 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 ? u制作步驟 ?收集數(shù)據(jù)并計算每一單元的平均缺陷數(shù) ?計算 u值 ?計算每個樣本的上控制界限和下控制界限 Process Improvement 54 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 ? u圖制作步驟 ?確定刻度，標注數(shù)據(jù)，畫出控制線 ?確定刻度的時候應當使 u值大致位于縱軸中心 Process Improvement 55 下一步 制定 SPC計劃，實施 SPC。 Process Improvement 56 Qamp。A Process Improvement 57 Thanks!
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