【正文】 輸入微小變化響應(yīng)的能力 ， 通常用數(shù)字輸出最低位 (LSB)所對(duì)應(yīng)的摸擬輸入的電平值表示 。 ? (Accuracy): ?絕對(duì)精度 (Absolute Accuracy) 。 ?相對(duì)精度 (Relative Accuracy)。 ? (Conversion Time):指完成一次 A/D轉(zhuǎn)換所需的時(shí)間 ， 即由發(fā)出啟動(dòng)轉(zhuǎn)換命令信號(hào)到轉(zhuǎn)換結(jié)束信號(hào)開(kāi)始有效的時(shí)間間隔 。 轉(zhuǎn)換時(shí)間的倒數(shù)稱(chēng)為轉(zhuǎn)換速率 。 ? :量程是指所能轉(zhuǎn)換的摸擬輸入電壓范圍 ， 分單極性 、 雙極性?xún)煞N類(lèi)型 。 例如 ， 單極性 量程為 0～ +5V， 0～ +10V； 雙極性 量程為 5～ +5V， 10～ +10V。 NEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 S3C440BX自帶的 A/D轉(zhuǎn)換器 ? ARM S3C440BX芯片自帶一個(gè)８路 10位 A/D轉(zhuǎn)換器，該轉(zhuǎn)換器可以通過(guò)軟件設(shè)置為 Sleep摸式，可以節(jié)電減少功率損失，最大轉(zhuǎn)換率為 100K，非線(xiàn)性度為正負(fù)１。 ? ARM芯片與 A/D功能有關(guān)的引腳： AIN[7:0]為 8路摸擬采集通道 ,ADC的模擬輸入；AREFT為參考正電壓， AREFB為參考負(fù)電壓， AVCOM為摸擬公共參考電壓。 數(shù) 據(jù) 總 線(xiàn)A D C I N T中 斷邏 輯逐 次 逼 近寄 存 器A D 結(jié) 果寄 存 器控 制 邏 輯P S R 預(yù) 分 頻 器D / A 轉(zhuǎn) 換器C O M P+比 較 器M C L KA I N 7 08V c o m1 0模 擬 轉(zhuǎn)換 開(kāi) 關(guān)A M U XNEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 ADC的相關(guān)寄存器 ?（ ADCCON） : 地址為 0x01D40000(在小模式下，以字、半字、字符單位存取 )、 0x01D40002(在大模式下，以半字單位存取 )、 0x01D40003(在大模式下，以字符單位存取 )，可讀寫(xiě)，初始值為 0x20。 ? ? NEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 數(shù) /模轉(zhuǎn)換器原理 ? D/A轉(zhuǎn)換器的主要功能是將數(shù)字量轉(zhuǎn)換為模擬量 。 數(shù)字量是由若干數(shù)位構(gòu)成的 ， 每個(gè)數(shù)位都有一定的權(quán) 。 我們說(shuō)把一個(gè)數(shù)字量變?yōu)槟M量 ， 就是把每一位上的代碼按照權(quán)轉(zhuǎn)換為對(duì)應(yīng)的模擬量 ， 再把各位所對(duì)應(yīng)的模擬量相加 ， 所得到各位模擬量的和便是數(shù)字量所對(duì)應(yīng)的模擬量 。 ? 基于上述思路，在集成電路中，通常采用Ｔ型網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)將數(shù)字量轉(zhuǎn)換為模擬電流，然后再用運(yùn)算放大器完成模擬電流到模擬電壓的轉(zhuǎn)換。所以，要把一個(gè)數(shù)字量轉(zhuǎn)換為模擬電壓，實(shí)際上需要兩個(gè)環(huán)節(jié)：即先由 D/A轉(zhuǎn)換器把數(shù)字量轉(zhuǎn)換為模擬電流，再由運(yùn)算放大器將模擬電流轉(zhuǎn)換為模擬電壓。 NEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 T型電阻解碼網(wǎng)絡(luò) R02R 2R2R2R R R RS 0 S1 S 2S 321232220A CB DVREFV02RNEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 數(shù) /模轉(zhuǎn)換器的分類(lèi) ? （ 如 TLC5620） ： 雖有直接從電阻陣列輸出電壓的 ， 但一般采用內(nèi)置輸出放大器以低阻抗輸出 。 直接輸出電壓的器件僅用于高阻抗負(fù)載 ， 由于無(wú)輸出放大器部分的延遲 ， 故常作為高速 D/A轉(zhuǎn)換器使用 。 ? (如 THS5661A)： 很少直接利用電流輸出 ， 大多外接電流 — 電壓轉(zhuǎn)換電路得到電壓輸出 。 當(dāng)外接運(yùn)算放大器進(jìn)行電流電壓轉(zhuǎn)換時(shí) ， 則電路構(gòu)成基本上與內(nèi)置放大器的電壓輸出型相同 ， 這時(shí)由于在 D/A轉(zhuǎn)換器的電流建立時(shí)間上加入了達(dá)算放入器的延遲 ， 使響應(yīng)變慢 。 ? （ 如 AD7533） ： 在基準(zhǔn)電壓輸入上加交流信號(hào)的 ， 能得到數(shù)字輸入和基準(zhǔn)電壓輸入相乘的結(jié)果而輸出 ， 稱(chēng)為乘算型 D/A轉(zhuǎn)換器 。 乘算型 D/A轉(zhuǎn)換器一般不僅可以進(jìn)行乘法運(yùn)算 ， 而且可以作為使輸入信號(hào)數(shù)字化地衰減的衰減器及對(duì)輸入信號(hào)進(jìn)行調(diào)制的調(diào)制器使用 。 NEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 D/A轉(zhuǎn)換器的主要指標(biāo) ? (Resolution):指最小模擬輸出量 （ 對(duì)應(yīng)數(shù)字量?jī)H最低位為 ‘ 1’） 與最大量 （ 對(duì)應(yīng)數(shù)字量所有有效位為 ‘ 1’） 之比 。 ? (Setting Time):是將一個(gè)數(shù)字量轉(zhuǎn)換為穩(wěn)定模擬信號(hào)所需的時(shí)間 ，也可以認(rèn)為是轉(zhuǎn)換時(shí)間 。 DA中常用建立時(shí)間來(lái)描述其速度 ， 而不是 AD中常用的轉(zhuǎn)換速率 。 一般地 ， 電流輸出 DA建立時(shí)間較短 ， 電壓輸出 DA則較長(zhǎng) 。 ? :線(xiàn)性度 (Linearity)， 轉(zhuǎn)換精度 ， 溫度系數(shù) /漂移 。 NEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 ARM的 JTAG接口基本知識(shí) Ⅰ ? 1. JTAG是 Joint Test Action Group的縮寫(xiě)，是 。使用JTAG的優(yōu)點(diǎn)： JTAG的建立使得集成電路固定在 PCB上，只通過(guò)邊界掃描便可以被測(cè)試。在 ARM7TDMI處理器中，可以通過(guò) JTAG直接控制ARM的內(nèi)部總線(xiàn)、 I/O口等信息，從而達(dá)到調(diào)試的目的。 ? 2. JTAG的典型信號(hào)： ? TMS：測(cè)試模式選擇 (Test Mode Select)， 通過(guò) TMS信號(hào)控制 JTAG狀態(tài)機(jī)的狀態(tài)； ? TCK： JTAG的時(shí)鐘信號(hào)； ? TDI：數(shù)據(jù)輸入信號(hào)； ? TDO：數(shù)據(jù)輸出信號(hào)； ? nTRST： JTAG復(fù)位信號(hào) ， 復(fù)位 JTAG的狀態(tài)機(jī)和內(nèi)部的宏單元 (Macrocell)。 NEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 ARM的 JTAG接口基本知識(shí) Ⅱ ?3. JTAG狀態(tài)機(jī)： JTAG狀態(tài)機(jī)分成 15個(gè)狀態(tài) ， 每一個(gè)狀態(tài)都有其相應(yīng)的功能 。 不管 JTAG狀態(tài)機(jī)處于哪個(gè)狀態(tài) ， 當(dāng) TMS信號(hào)等于邏輯 1的時(shí)候 ， 連續(xù) 5個(gè)時(shí)鐘信號(hào)以后 ， JTAG狀態(tài)機(jī)必然回到 Testlogic Reset狀態(tài) 。 這也是JTAG狀態(tài)機(jī)的復(fù)位時(shí)的狀態(tài) 。 ?4. JTAG鏈的組成：每一條 JTAG鏈?zhǔn)怯扇舾蓚€(gè) JTAG的掃描單元串連組成的 ，每一個(gè)掃描單元都可以配置成捕獲外部信號(hào)的輸入單元或者對(duì)外的輸出單元 。依靠移位寄存器 ， 通過(guò) JTAG的 TDO和 TDI信號(hào)線(xiàn) ， 可以使數(shù)據(jù)串行輸出到每一個(gè) JTAG掃描單元上 ， 或者讀出每一個(gè)掃描單元的數(shù)據(jù) 。 NEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 ARM的 JTAG接口基本知識(shí) Ⅲ ?5. JTAG鏈的工作過(guò)程： ?步驟一： JTAG處于掛起狀態(tài) ， JTAG的掃描單元并不影響設(shè)備信號(hào)的輸入輸出 。 ?步驟二：在 JTAG狀態(tài)機(jī)的 CaptureDR狀態(tài) ， 把 IO口上的數(shù)據(jù)捕獲到 JTAG掃描單元的移位寄存器上 。 ?步驟三：在 JTAG狀態(tài)機(jī)的 ShiftDR狀態(tài) ， TCK的一次跳變 ， 把數(shù)據(jù)從 TDI移位到JTAG移位寄存器的高位上 ， 并從 TDO輸出移位寄存器的低位 (就是 O3的數(shù)據(jù) )。 ?步驟四：經(jīng)過(guò) 6個(gè) TCK的時(shí)鐘可以把整個(gè)捕獲到的 JTAG鏈的移位寄存器上的數(shù)據(jù)移出 ， 并且 ， 把新的數(shù)據(jù)移入 JTAG鏈 。 ?步驟五：在 JTAG狀態(tài)機(jī)的 Update— DR狀態(tài) ， 可以把新的數(shù)據(jù)鎖定到設(shè)備的輸入或者輸出 I/O口上 ， 從而完成了一次 JTAG的數(shù)據(jù)更新 。 NEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 ARM的 JTAG調(diào)試結(jié)構(gòu) 負(fù) 責(zé) 轉(zhuǎn) 換 D e b u g 主 控 端 發(fā)出 的 高 級(jí) A R M 調(diào) 試 命 令 為底 層 的 河 內(nèi) 核 通 信 的以 A R M 7 T D M I 為 處 理 器的 開(kāi) 發(fā) 系 統(tǒng)運(yùn) 行 有 A R M 公 司 或 者 第 三方 提 供 的 調(diào) 試 軟 件 的 P C機(jī)調(diào) 試 目標(biāo) 機(jī)協(xié) 議 轉(zhuǎn)換 器D e b u g 主控?ARM7TDMI的 JTAG宏單元 (Macrocell)主要包括 3條 JTAG掃描鏈 (Scan Chain) 和一個(gè) JTAG的控制 TAP狀態(tài)機(jī) 。 ?JTAG與 AngelJTAG調(diào)試：協(xié)議轉(zhuǎn)換器解釋上位機(jī)傳送過(guò)來(lái)的命令，通過(guò)JTAG控制 ARM執(zhí)行。 ?Angel調(diào)試：協(xié)議轉(zhuǎn)換器可以直接做為目標(biāo)板的 Firmware的一部分，直接執(zhí)行從宿主機(jī)傳送過(guò)來(lái)的調(diào)試命令；并回送相應(yīng)的數(shù)據(jù)。 NEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 ARM7TDMI內(nèi)核的 JTAG掃描鏈結(jié)構(gòu) ?ARM7TDMI內(nèi)核的 JTAG掃描鏈結(jié)構(gòu)主要包括了 3條掃描鏈： ?Scan Chain 0：有 113個(gè)掃描單元 ， 包括 ARM核的所有的 I／ O、 地址數(shù)據(jù)總線(xiàn)和輸入輸出控制信號(hào) 。 這條鏈上的信號(hào)復(fù)雜 ， 不易控制 ， 但是 ， 包含的信息豐富 ， 可以通過(guò)這條鏈得到 ARM7TDMI內(nèi)核的所有信息 。 ?Scan Chain l：有 33個(gè)掃描單元 ， 包括 ARM核的數(shù)據(jù)總線(xiàn)和一個(gè)斷點(diǎn)控制信號(hào) 。 這是一條很有用的鏈 ， 通過(guò)控制這條鏈 ， 可以控制 ARM核執(zhí)行指定的指令 ， 從而實(shí)現(xiàn)對(duì)ARM的內(nèi)部寄存器 、 協(xié)處理器以及外部存儲(chǔ)器的讀寫(xiě)操作 。 ?Scan Chain 2：有 38個(gè)掃描單元 ， 通過(guò)控制 EmbeddedICE宏單元 ， 實(shí)現(xiàn)對(duì) ARM執(zhí)行指令的斷點(diǎn) 、 觀(guān)察點(diǎn)的控制 。