【正文】 輸入微小變化響應的能力 ， 通常用數(shù)字輸出最低位 (LSB)所對應的摸擬輸入的電平值表示 。 ? (Accuracy): ?絕對精度 (Absolute Accuracy) 。 ?相對精度 (Relative Accuracy)。 ? (Conversion Time):指完成一次 A/D轉(zhuǎn)換所需的時間 ， 即由發(fā)出啟動轉(zhuǎn)換命令信號到轉(zhuǎn)換結(jié)束信號開始有效的時間間隔 。 轉(zhuǎn)換時間的倒數(shù)稱為轉(zhuǎn)換速率 。 ? :量程是指所能轉(zhuǎn)換的摸擬輸入電壓范圍 ， 分單極性 、 雙極性兩種類型 。 例如 ， 單極性 量程為 0～ +5V， 0～ +10V； 雙極性 量程為 5～ +5V， 10～ +10V。 NEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 S3C440BX自帶的 A/D轉(zhuǎn)換器 ? ARM S3C440BX芯片自帶一個８路 10位 A/D轉(zhuǎn)換器，該轉(zhuǎn)換器可以通過軟件設置為 Sleep摸式，可以節(jié)電減少功率損失，最大轉(zhuǎn)換率為 100K，非線性度為正負１。 ? ARM芯片與 A/D功能有關的引腳： AIN[7:0]為 8路摸擬采集通道 ,ADC的模擬輸入；AREFT為參考正電壓， AREFB為參考負電壓， AVCOM為摸擬公共參考電壓。 數(shù) 據(jù) 總 線A D C I N T中 斷邏 輯逐 次 逼 近寄 存 器A D 結(jié) 果寄 存 器控 制 邏 輯P S R 預 分 頻 器D / A 轉(zhuǎn) 換器C O M P+比 較 器M C L KA I N 7 08V c o m1 0模 擬 轉(zhuǎn)換 開 關A M U XNEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 ADC的相關寄存器 ?（ ADCCON） : 地址為 0x01D40000(在小模式下，以字、半字、字符單位存取 )、 0x01D40002(在大模式下，以半字單位存取 )、 0x01D40003(在大模式下，以字符單位存取 )，可讀寫，初始值為 0x20。 ? ? NEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 數(shù) /模轉(zhuǎn)換器原理 ? D/A轉(zhuǎn)換器的主要功能是將數(shù)字量轉(zhuǎn)換為模擬量 。 數(shù)字量是由若干數(shù)位構(gòu)成的 ， 每個數(shù)位都有一定的權(quán) 。 我們說把一個數(shù)字量變?yōu)槟M量 ， 就是把每一位上的代碼按照權(quán)轉(zhuǎn)換為對應的模擬量 ， 再把各位所對應的模擬量相加 ， 所得到各位模擬量的和便是數(shù)字量所對應的模擬量 。 ? 基于上述思路，在集成電路中，通常采用Ｔ型網(wǎng)絡實現(xiàn)將數(shù)字量轉(zhuǎn)換為模擬電流，然后再用運算放大器完成模擬電流到模擬電壓的轉(zhuǎn)換。所以，要把一個數(shù)字量轉(zhuǎn)換為模擬電壓，實際上需要兩個環(huán)節(jié)：即先由 D/A轉(zhuǎn)換器把數(shù)字量轉(zhuǎn)換為模擬電流，再由運算放大器將模擬電流轉(zhuǎn)換為模擬電壓。 NEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 T型電阻解碼網(wǎng)絡 R02R 2R2R2R R R RS 0 S1 S 2S 321232220A CB DVREFV02RNEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 數(shù) /模轉(zhuǎn)換器的分類 ? （ 如 TLC5620） ： 雖有直接從電阻陣列輸出電壓的 ， 但一般采用內(nèi)置輸出放大器以低阻抗輸出 。 直接輸出電壓的器件僅用于高阻抗負載 ， 由于無輸出放大器部分的延遲 ， 故常作為高速 D/A轉(zhuǎn)換器使用 。 ? (如 THS5661A)： 很少直接利用電流輸出 ， 大多外接電流 — 電壓轉(zhuǎn)換電路得到電壓輸出 。 當外接運算放大器進行電流電壓轉(zhuǎn)換時 ， 則電路構(gòu)成基本上與內(nèi)置放大器的電壓輸出型相同 ， 這時由于在 D/A轉(zhuǎn)換器的電流建立時間上加入了達算放入器的延遲 ， 使響應變慢 。 ? （ 如 AD7533） ： 在基準電壓輸入上加交流信號的 ， 能得到數(shù)字輸入和基準電壓輸入相乘的結(jié)果而輸出 ， 稱為乘算型 D/A轉(zhuǎn)換器 。 乘算型 D/A轉(zhuǎn)換器一般不僅可以進行乘法運算 ， 而且可以作為使輸入信號數(shù)字化地衰減的衰減器及對輸入信號進行調(diào)制的調(diào)制器使用 。 NEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 D/A轉(zhuǎn)換器的主要指標 ? (Resolution):指最小模擬輸出量 （ 對應數(shù)字量僅最低位為 ‘ 1’） 與最大量 （ 對應數(shù)字量所有有效位為 ‘ 1’） 之比 。 ? (Setting Time):是將一個數(shù)字量轉(zhuǎn)換為穩(wěn)定模擬信號所需的時間 ，也可以認為是轉(zhuǎn)換時間 。 DA中常用建立時間來描述其速度 ， 而不是 AD中常用的轉(zhuǎn)換速率 。 一般地 ， 電流輸出 DA建立時間較短 ， 電壓輸出 DA則較長 。 ? :線性度 (Linearity)， 轉(zhuǎn)換精度 ， 溫度系數(shù) /漂移 。 NEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 ARM的 JTAG接口基本知識 Ⅰ ? 1. JTAG是 Joint Test Action Group的縮寫，是 。使用JTAG的優(yōu)點： JTAG的建立使得集成電路固定在 PCB上，只通過邊界掃描便可以被測試。在 ARM7TDMI處理器中，可以通過 JTAG直接控制ARM的內(nèi)部總線、 I/O口等信息，從而達到調(diào)試的目的。 ? 2. JTAG的典型信號： ? TMS：測試模式選擇 (Test Mode Select)， 通過 TMS信號控制 JTAG狀態(tài)機的狀態(tài)； ? TCK： JTAG的時鐘信號； ? TDI：數(shù)據(jù)輸入信號； ? TDO：數(shù)據(jù)輸出信號； ? nTRST： JTAG復位信號 ， 復位 JTAG的狀態(tài)機和內(nèi)部的宏單元 (Macrocell)。 NEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 ARM的 JTAG接口基本知識 Ⅱ ?3. JTAG狀態(tài)機： JTAG狀態(tài)機分成 15個狀態(tài) ， 每一個狀態(tài)都有其相應的功能 。 不管 JTAG狀態(tài)機處于哪個狀態(tài) ， 當 TMS信號等于邏輯 1的時候 ， 連續(xù) 5個時鐘信號以后 ， JTAG狀態(tài)機必然回到 Testlogic Reset狀態(tài) 。 這也是JTAG狀態(tài)機的復位時的狀態(tài) 。 ?4. JTAG鏈的組成：每一條 JTAG鏈是由若干個 JTAG的掃描單元串連組成的 ，每一個掃描單元都可以配置成捕獲外部信號的輸入單元或者對外的輸出單元 。依靠移位寄存器 ， 通過 JTAG的 TDO和 TDI信號線 ， 可以使數(shù)據(jù)串行輸出到每一個 JTAG掃描單元上 ， 或者讀出每一個掃描單元的數(shù)據(jù) 。 NEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 ARM的 JTAG接口基本知識 Ⅲ ?5. JTAG鏈的工作過程： ?步驟一： JTAG處于掛起狀態(tài) ， JTAG的掃描單元并不影響設備信號的輸入輸出 。 ?步驟二：在 JTAG狀態(tài)機的 CaptureDR狀態(tài) ， 把 IO口上的數(shù)據(jù)捕獲到 JTAG掃描單元的移位寄存器上 。 ?步驟三：在 JTAG狀態(tài)機的 ShiftDR狀態(tài) ， TCK的一次跳變 ， 把數(shù)據(jù)從 TDI移位到JTAG移位寄存器的高位上 ， 并從 TDO輸出移位寄存器的低位 (就是 O3的數(shù)據(jù) )。 ?步驟四：經(jīng)過 6個 TCK的時鐘可以把整個捕獲到的 JTAG鏈的移位寄存器上的數(shù)據(jù)移出 ， 并且 ， 把新的數(shù)據(jù)移入 JTAG鏈 。 ?步驟五：在 JTAG狀態(tài)機的 Update— DR狀態(tài) ， 可以把新的數(shù)據(jù)鎖定到設備的輸入或者輸出 I/O口上 ， 從而完成了一次 JTAG的數(shù)據(jù)更新 。 NEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 ARM的 JTAG調(diào)試結(jié)構(gòu) 負 責 轉(zhuǎn) 換 D e b u g 主 控 端 發(fā)出 的 高 級 A R M 調(diào) 試 命 令 為底 層 的 河 內(nèi) 核 通 信 的以 A R M 7 T D M I 為 處 理 器的 開 發(fā) 系 統(tǒng)運 行 有 A R M 公 司 或 者 第 三方 提 供 的 調(diào) 試 軟 件 的 P C機調(diào) 試 目標 機協(xié) 議 轉(zhuǎn)換 器D e b u g 主控?ARM7TDMI的 JTAG宏單元 (Macrocell)主要包括 3條 JTAG掃描鏈 (Scan Chain) 和一個 JTAG的控制 TAP狀態(tài)機 。 ?JTAG與 AngelJTAG調(diào)試：協(xié)議轉(zhuǎn)換器解釋上位機傳送過來的命令，通過JTAG控制 ARM執(zhí)行。 ?Angel調(diào)試：協(xié)議轉(zhuǎn)換器可以直接做為目標板的 Firmware的一部分，直接執(zhí)行從宿主機傳送過來的調(diào)試命令；并回送相應的數(shù)據(jù)。 NEUSOFT Institute of Information Technology, ChengDu Date: 12. Sept. 2022 ARM7TDMI內(nèi)核的 JTAG掃描鏈結(jié)構(gòu) ?ARM7TDMI內(nèi)核的 JTAG掃描鏈結(jié)構(gòu)主要包括了 3條掃描鏈： ?Scan Chain 0：有 113個掃描單元 ， 包括 ARM核的所有的 I／ O、 地址數(shù)據(jù)總線和輸入輸出控制信號 。 這條鏈上的信號復雜 ， 不易控制 ， 但是 ， 包含的信息豐富 ， 可以通過這條鏈得到 ARM7TDMI內(nèi)核的所有信息 。 ?Scan Chain l：有 33個掃描單元 ， 包括 ARM核的數(shù)據(jù)總線和一個斷點控制信號 。 這是一條很有用的鏈 ， 通過控制這條鏈 ， 可以控制 ARM核執(zhí)行指定的指令 ， 從而實現(xiàn)對ARM的內(nèi)部寄存器 、 協(xié)處理器以及外部存儲器的讀寫操作 。 ?Scan Chain 2：有 38個掃描單元 ， 通過控制 EmbeddedICE宏單元 ， 實現(xiàn)對 ARM執(zhí)行指令的斷點 、 觀察點的控制 。